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Eine hervorragende Meßmethode zur Messung der Schichtdicke transparenter Beschichtungen bietet die Anwendung der Weißlichtinterferenz.
Das Prinzip: Durch Beleuchtung der Probe mit weißem Licht entstehen hervorgerufen durch die Überlagerung der Reflexionsspektren von Ober- und Unterseite der Beschichtung, Interferenzspektren in Abhängigkeit von der geometrischen Schichtdicke und dem Brechungsindex. Mathematische Verfahren werten diese Interferenz in Form von optischen und geometrischen Schichtdicken aus. Die Messung erfolgt berührungslos und zerstörungsfrei. Die Meßergebnisse sind hochgenau, was die Absolutgenauigkeit sowie die Kurz- und Langzeitreproduzierbarkeit betrifft.
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