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| Carl Zeiss stellt High Definition FE-REM SIGMA HD vor | Downloads und Links | ||
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| JENA, PHOENIX/Arizona/USA, 30.07.2012. Carl Zeiss Microscopy stellt das Feldemissions- Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) SIGMA HD auf der Konferenz Microscopy & Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona (USA) vor. Im Vergleich zur bestehenden SIGMA-Serie bietet SIGMA HD dem Kunden eine höhere Auflösung, schnellere Bildgebung und vereinfachte Probennavigation für Analysen im Nanobereich. SIGMA HD ergänzt die SIGMA-Serie innerhalb des FE-REM-Portfolios von Carl Zeiss. Das System bietet Verbesserungen in der Elektronik, eine große Auswahl an Detektoren und ein modifiziertes Kammerdesign für Auflösungen von bis zu einem Nanometer. SIGMA HD ist als Hochvakuum-System und mit variablem Druck verfügbar. Ein fünfachsig euzentrischer Tisch erleichtert die Probennavigation selbst bei großen Proben durch parallele wie auch schräge Bewegungen. SIGMA HD bietet einen Informationsgewinn in der Analytik durch ein Kammerdesign, das den Anschluss von zwei diametral gegenüber- liegenden EDS-Detektoren erlaubt. Auch bei geringen Sondenströmen für die Untersuchung empfindlicher Proben können maximale Informationen gewonnen und hohe Röntgen-Zählraten bewahrt werden. Der geometrische Aufbau der Kammer verhindert Schatten-Effekte durch Röntgenstrahlen. Der Produktmanager für die SIGMA-Serie bei Carl Zeiss, Dr. Ben Tordoff, kommentiert: "Zahlreiche Kunden haben uns mitgeteilt, dass sie eine Kombination aus analytischer Flexibilität und optimierter Bildaufnahme benötigen. SIGMA HD ist eine wichtige Ergänzung des Portfolios, die den Kunden exakt diese Vorteile bietet." Mehr Informationen finden Sie unter  SIGMA HD von Carl Zeiss vereint analytische Flexibilität mit optimierter Bildaufnahme. Foto: Carl Zeiss Microscopy Dr. Jochen Tham Carl Zeiss Microscopy GmbH Tel.: +49 3641 64-3949 Fax: E-Mail: 
jochen.tham@zeiss.comPI Nr.: 0071-2012-GER MI |
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