ZEISS Axiovert für die Materialforschung
PRODUKT

ZEISS Axiovert Inverse Mikroskope für das Materiallabor mit smarter Dokumentation

Mit ZEISS Axiovert erstellen Sie mühelos hochwertige Aufnahmen großer und schwerer Proben. Die Einstellungen können automatisch vom System festgelegt werden. So erhalten Sie gleichbleibend gut ausgeleuchtete und scharfe Bilder. Dazu können Sie alle gängigen Kontrastverfahren im Auf- und Durchlicht nutzen. Mit Axiovert 5 können Sie Bilder ganz ohne PC ansehen und dokumentieren: Verbinden Sie das Mikroskop einfach mit einem Monitor und speichern Sie Daten direkt auf einem USB-Speicher. Mit den zusätzlichen Automatisierungsfunktionen arbeiten Sie noch produktiver.

  • Smart Microscopy. Fokussieren. Aufnehmen. Fertig.
  • Höherer Durchsatz durch leistungsstarke digitale Dokumentation.
  • Ergonomisches Bedienkonzept für entspanntes Arbeiten – den ganzen Tag lang.
  • Das manuelle Axiovert 5 mit Smart Microscopy für schnelle, zuverlässige Ergebnisse.
  • Das motorisierte Axiovert 7 für höhere Ansprüche an die Workflow-Automatisierung.
Nach dem Fokussieren der Probe reicht ein Knopfdruck, um gestochen scharfe Bilder von Zell‑ oder Gewebekulturen aufzunehmen

Fokussieren. Aufnehmen. Fertig.

Smart Microscopy

Axiovert ist ein smartes Mikroskop für hervorragende, schnelle Ergebnisse.

  • Einmal fokussiert genügt ein Knopfdruck, um qualitativ hochwertige Bilder Ihrer Materialprobe aufzunehmen.
  • Arbeiten Sie schneller und komfortabler, indem Sie Ihre Proben wechseln, ohne erneut fokussieren zu müssen.
  • Platzieren Sie die Probe einfach auf dem Probentisch und fokussieren Sie diese einmal. Die Fokussierung bleibt für weitere Proben erhalten, selbst bei veränderter Vergrößerung.
Ein Mikroskop für alle Anforderungen

Ein Mikroskop für alle Anforderungen

Leistungsstarke digitale Dokumentation

Axiovert erleichtert Ihre Routineaufgaben. Erweitern Sie Ihre Möglichkeiten und steigern Sie Ihren Durchsatz mit zusätzlichen Funktionen, etwa zur Automatisierung.

  • Mit der breiten Auswahl an klassischen und modernen Kontrastverfahren, darunter Zirkular-Differential-Interferenzkontrast (C-DIC), lassen sich selbst große und schwere Proben untersuchen und zuverlässige Ergebnisse erzielen.
  • In Laboren mit wenig Platz verwenden Sie Axiovert 5 einfach eigenständig ohne PC und steuern das Mikroskop über das On-Screen-Display-Menü (OSD). Sie benötigen weder zusätzliche Computer noch Software und können Ihre Bilder direkt auf einem USB-Medium speichern.
  • Durch Motorisierung von Z-Fokus und XY-Probentisch ist Axiovert 7 die beste Wahl, wenn Sie Workflows stärker automatisieren und moderne Bildgebungsverfahren nutzen möchten.
Ergonomisches Bedienkonzept

Entspanntes Arbeiten – den ganzen Tag

Ergonomisches Bedienkonzept

Axiovert ist ganz darauf ausgerichtet, durch eine erleichterte Bedienung und Steuerung Ihren Arbeitsalltag zu verbessern und ein entspanntes Arbeiten zu ermöglichen.

  • Bedienelemente wie Fokussiermechanismus, Tischantrieb, Lichtmanager und Bildaufnahme sind ergonomisch angeordnet und erlauben eine effiziente und mühelose Handhabung.
  • Auch die Lampenhelligkeit muss beim Objektivwechsel nicht mehr manuell eingestellt werden, denn der Lichtmanager sorgt für gleichbleibende Helligkeit bei allen Vergrößerungsstufen.
  • Überlassen Sie es dem System, die optimalen Einstellungen für die Bildaufnahme vorzunehmen – und konzentrieren Sie sich stattdessen ganz auf Ihre Ergebnisse.

Konfigurationen

Passende Lösungen für Ihr Labor und Ihre Aufgaben

  • Imaging und Dokumentation ohne PC

    Imaging und Dokumentation ohne PC

    Axiovert 5 ist eigenständig und ohne Computer über das OSD-Menü einsatzbereit

  • ZEISS Labscope für vernetztes Routine-Imaging

    ZEISS Labscope für vernetztes Routine-Imaging

    Zusammen mit der Imaging-Software Labscope eignet sich Axiovert 5 ideal für die Standardbildgebung

  • ZEISS ZEN core für anspruchsvolle Anwendungen

    ZEISS ZEN core für anspruchsvolle Anwendungen

    Verwenden Sie die Imaging-Softwaresuite ZEISS ZEN core, um erweiterte Bildgebungs- und Analyseaufgaben mit Axiovert 5 und Axiovert 7 durchzuführen

Zubehör

Höhere Effizienz, insbesondere bei Routine-Workflows.

Höhere Effizienz, insbesondere bei Routine-Workflows.

Höhere Effizienz, insbesondere bei Routine-Workflows.

Nutzen Sie Smart Microscopy.

Mit Smart Microscopy können Sie sich ganz auf Ihre Probe konzentrieren. Kameraeinstellungen wie der Weißabgleich und die Belichtungszeit sowie Bildoptimierungsfunktionen werden automatisch vorgenommen. Sie können Bilder ganz ohne zusätzliche Imaging-Software oder Computer aufnehmen und speichern, eine Netzwerkverbindung herstellen, Daten direkt auf einem USB-Medium speichern und mehr – mithilfe der Smart Control Box (SCB).

Schnellere Materialcharakterisierung durch Automatisierung

Durch Motorisierung von Z-Achse und XY-Probentisch profitieren Sie mit Axiovert 7 von höherer Produktivität, reproduzierbaren Prozessen auf Grundlage vordefinierter Parameter sowie einer besseren Vergleichbarkeit der Ergebnisse. Zahlreiche Funktionen stehen Ihnen zur Verfügung, u. a. Autofokus, Parfokalität, erweiterte Tiefenschärfe für Z-Ebenen und Panoramabilder.

Analyse nichtmetallischer Einschlüsse

Analyse nichtmetallischer Einschlüsse

Industrienormen regeln die metallografische Analyse von NMI (nichtmetallischen Einschlüssen), was für die Untersuchung der Eigenschaften von Stahl essentiell ist. Die modulare und kundenspezifisch anpassbare Software ZEN core führt Benutzer schnell und unkompliziert durch die einzelnen Arbeitsschritte und erzeugt – den geltenden Normen entsprechend – einen Bericht und eine Bildergalerie der Einschlüsse.

Unterstützte Normen

✔ ASTM E45
✔ ISO 4967
✔ JIS G0555
✔ GB/T 10561
✔ EN 10247
✔ SEP 1571
✔ DIN 50602

Analyse nichtmetallischer Einschlüsse

Analyse nichtmetallischer Einschlüsse

Das Axiovert 7 mit dem ZEN Modul „Analyse nichtmetallischer Einschlüsse (NMI)“ überprüft, ob Fertigungsprozesse, Sorte und Qualität des Produkts den strengen Anforderungen für Unreinheiten und Defekte entsprechen. So lassen sich Abweichungen vermeiden, die zum Versagen von Bauteilen führen oder ihre Zugfestigkeit, Härte oder Ermüdung beeinflussen können. Nützliche Ansichten für Inspektionsaufgaben und die Funktionen zur automatisierten Erkennung von Verformungsachsen machen die Analyse einfach, intuitiv und wiederholbar. Mit der zusätzlichen GxP-Funktion können ZEN core Benutzer ihren Kunden vollständige Rückverfolgbarkeit und Datenintegrität bei NMI-Analysen bieten. Die Gütezertifizierung wird damit nachprüfbar, was insbesondere für Kunden in regulierten Branchen wichtig ist.

Eine Schnittstelle für alle ZEISS Mikroskope in einer Mehrbenutzerumgebung

1. Mikroskop- und Kamerasteuerung 2. Datenerfassung und -analyse 3. Korrelative Mikroskopie 4. Nachgelagerte Analysen 5. Automatisierte Segmentierung 6. Kontextuelle Analyse 7. Integrierte Berichterstellung 8. Mobiler Zugang 9. Zentrale Datenverwaltung 10. Vernetzung von Systemen, Laboren und Standorten 11. Schnittstellen für die weitere Analyse

Eine Schnittstelle für alle ZEISS Mikroskope in einer Mehrbenutzerumgebung

Vernetzte Mikroskopie

Verknüpfen Sie alle Ihre ZEISS Imaging-Lösungen, um aussagekräftige Informationen zu Werkstücken oder Materialproben zu erhalten. Verbinden Sie Ihre ZEISS Mikroskope mit der Softwaresuite ZEN core, die speziell auf Materialforschung und -analyse ausgerichtet ist. Die Software stellt nicht nur die Infrastruktur für vernetzte Laborumgebungen bereit, sondern umfasst außerdem relevante vorkonfigurierte Pakete und Toolkits für konkrete Aufgaben.

Mit dem Connect Toolkit lassen sich Proben über einen motorisierten Probentisch nahtlos zwischen Lichtmikroskopen und Elektronenmikroskopen von ZEISS übertragen und relevante Bereiche automatisch wiederauffinden. Organisieren und visualisieren Sie mehrere Bilder und Daten derselben Probe im Kontext an einem zentralen Ort – mit dem Connect Toolkit von ZEN core.

Materialografie

Schweißnaht. Hellfeld, EC Epiplan 5×/0,13

Schweißnaht. Hellfeld, EC Epiplan 5×/0,13

Schweißnaht. Hellfeld, EC Epiplan 5×/0,13

Schweißnaht. Hellfeld, EC Epiplan 5×/0,13

Härteriss in C60-Stahl, Hellfeld, EC Epiplan 20×/0,4

Härteriss in C60-Stahl, Hellfeld, EC Epiplan 20×/0,4

Härteriss in C60-Stahl, Hellfeld, EC Epiplan 20×/0,4

Härteriss in C60-Stahl, Hellfeld, EC Epiplan 20×/0,4

Gusseisen, Zirkular-Differential-Interferenzkontrast (C-DIC) EC Epiplan 20×/0,4

Gusseisen, Zirkular-Differential-Interferenzkontrast (C-DIC) EC Epiplan 20×/0,4

Gusseisen, Zirkular-Differential-Interferenzkontrast (C-DIC) EC Epiplan 20×/0,4

Gusseisen, Zirkular-Differential-Interferenzkontrast (C-DIC) EC Epiplan 20×/0,4

Gusseisen, Dunkelfeldkontrast (DF), EC Epiplan 20×/0,4

Gusseisen, Dunkelfeldkontrast (DF), EC Epiplan 20×/0,4

Gusseisen, Dunkelfeldkontrast (DF), EC Epiplan 20×/0,4

Gusseisen, Dunkelfeldkontrast (DF), EC Epiplan 20×/0,4

Materialwissenschaften

Lithium-Ionen-Batterie. Hellfeld, EC Epiplan 20×/0,4

Lithium-Ionen-Batterie. Hellfeld, EC Epiplan 20×/0,4

Lithium-Ionen-Batterie. Hellfeld, EC Epiplan 20×/0,4

Lithium-Ionen-Batterie. Hellfeld, EC Epiplan 20×/0,4

Kupfer, Hellfeld, EC Epiplan-Neofluar 10×/0,25

Kupfer, Hellfeld, EC Epiplan-Neofluar 10×/0,25

Kupfer, Hellfeld, EC Epiplan-Neofluar 10×/0,25

Kupfer, Hellfeld, EC Epiplan-Neofluar 10×/0,25

Eloxiertes Aluminium, Polarisationskontrast, EC Epiplan-Neofluar 5×/0,13

Eloxiertes Aluminium, Polarisationskontrast, EC Epiplan-Neofluar 5×/0,13

Eloxiertes Aluminium, Polarisationskontrast, EC Epiplan-Neofluar 5×/0,13

Eloxiertes Aluminium, Polarisationskontrast, EC Epiplan-Neofluar 5×/0,13

Kohlefaserverstärktes Polymer, EC Epiplan 20×/0,4

Kohlefaserverstärktes Polymer, EC Epiplan 20×/0,4

Kohlefaserverstärktes Polymer, EC Epiplan 20×/0,4

Kohlefaserverstärktes Polymer, EC Epiplan 20×/0,4

Metallografie

Gusseisenanalyse – Bildsegmentierung

Gusseisenanalyse – Bildsegmentierung

Gusseisenanalyse – Bildsegmentierung

Gusseisenanalyse – Bildsegmentierung

Schichtdickenmessung – automatische Erkennung einer Schicht

Schichtdickenmessung – automatische Erkennung einer Schicht

Schichtdickenmessung – automatische Erkennung einer Schicht

Schichtdickenmessung – automatische Erkennung einer Schicht

Mehrphasenanalyse – Ergebnisansicht mit Verteilung der verschiedenen Phasen

Schichtdickenmessung – automatische Erkennung einer Schicht

Mehrphasenanalyse – Ergebnisansicht mit Verteilung der verschiedenen Phasen

Mehrphasenanalyse – Ergebnisansicht mit Verteilung der verschiedenen Phasen

Planimetrische Korngrößenanalyse – Ergebnisbild

Schichtdickenmessung – automatische Erkennung einer Schicht

Planimetrische Korngrößenanalyse – Ergebnisbild

Planimetrische Korngrößenanalyse – Ergebnisbild

Downloads

    • ZEISS Axiovert System

      Ihr inverses Mikroskopsystem für das Materiallabor und die smarte Dokumentation

      Dateigröße: 9 MB
    • ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

      Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

      Dateigröße: 14 MB

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