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Microscopy Events

ZEISS auf der Control 2016

 

 

ZEISS auf der Control 2016

April 26 - 29, Halle 3, Stand 3302/3402, Stuttgart

Als Weltleitmesse für Qualitätssicherung führt die Control die internationalen Marktführer und innovativen Anbieter aller QS-relevanten Technologien, Produkte, Subsysteme sowie Komplettlösungen in Hard- und Software mit den Anwendern aus aller Welt zusammen.

Besuchen Sie unseren ZEISS Stand auf der Control 2016 und lernen Sie Lösungen kennen, die für Ihre Arbeit optimiert sind.

Save the Date!

 Donnerstag | 28.04.2016 | Vortrag
15:20 - 16:00 Uhr Prozessverständnis und Qualitätssicherung additiv gefertigter Bauteile mittels mikroskopischer Methoden Tim Schubert, Hochschule Aachen

Sichern Sie sich hier schnell und unkompliziert Ihr Ticket zur Control 2016!

Gefräste Aluminiumoberfläche, 3D Ansicht mit Texturoverlay,C Epiplan-Apochromat 20×/0.7

ZEISS Smartproof 5

Ihr integriertes Weitfeld-Konfokalmikroskop

Nutzen Sie das vielseitige Weitfeld-Konfokalmikroskop für industrielle Anwendungen, wie die Charakteri-sierung von Rauigkeit und Topographie.

Laserschweißnaht

ZEISS Smartzoom 5

Ihr automatisiertes digitales Mikroskop

ZEISS Smartzoom 5 ist Ihr smartes Digitalmikroskop, perfekt geeignet für die Qualitätskontrolle und -sicherung in nahezu allen Industriebereichen. Profitieren Sie von zuverlässigen Fehleranalysen, einem hohen Durchsatz und effizientem Arbeiten.

ZEISS O-SELECT

One Button.
One Truth.

Das heißt für Sie: auf Knopfdruck sicher messen. ZEISS O-SELECT ist der neue digitale Messprojektor, ein automatisiert arbeitendes optisches Messsystem, das „mitdenkt“ – bei der Erstellung der Messprogramme wie bei der Messung selbst.

ZEISS Stemi 305 und 508

All-in-One

Wählen Sie ein kompaktes Greenough-Stereomikroskop, ideal für industrielle Produktionsum-gebungen und Inspektion. Stemi 305 mit 5:1 Zoom oder Stemi 508 mit 8:1 Zoom und apochromatischer Optik. Mit Stemi 305 und Stemi 508 sehen Sie Ihre Proben dreidimen-sional und kontrastreich.
 

Intakte Elektronikeinheit

ZEISS Xradia Versa

3D-Imaging

Profitieren Sie von dreidimensionaler (3D) Bildgebung mit modernsten ZEISS Imaging-Lösungen. Xradia Versa ermöglicht durch zerstörungsfreie Abbildungen und quantitative 3D-Analysen bahnbrechende Forschung in den Bereichen Materialwissenschaft, Energie und Elektronik.
 

Mikrolinsenarray eines CCD-Sensors, Abbildung mit ETSE

ZEISS Sigma 300

FE-REM für Imaging mit höchstem Qualitätsanspruch

Kombinieren Sie Feldemissions-REM (FE-REM)-Technologie mit erweiterten Analysen. Profitieren Sie von der bewährten Gemini-Elektronenoptik. Wählen Sie aus einer Vielzahl von Detektoroptionen: Sie können Partikel, Oberflächen und Nanostrukturen abbilden. 

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