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GeminiSEM-Produktfamilie

Ihre FE-REM für Bilder mit hohem Kontrast bei niedriger Spannung

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Gemini Optik. Niedrige Spannung. Variabler Druck.

Die GeminiSEM-Produktfamilie steht für müheloses Imaging: Sichern Sie sich Auflösung im Sub-Nanometerbereich und hohe Detektionseffizienz, selbst im druckvariablen Modus. GeminiSEM 500 vereint bewährte Gemini Technologie mit einem neuartigen elektronenoptischen Design. Erzielen Sie eine bessere Auflösung, insbesondere bei niedriger Spannung. Mit einem 20-mal größeren Inlens Detektionssignal erhalten Sie immer gestochen scharfe Bilder – schnell und mit minimaler Probenschädigung. Der neue druckvariable Modus vermittelt Ihnen das Gefühl im Hochvakuum zu arbeiten.

Holen Sie sich ein flexibles und zuverlässiges Feldemissions-REM für Ihre Forschung, das Industrielabor oder Ihre Imaging-Einrichtung. Mit der GeminiSEM-Produktfamilie bekommen Sie immer ausgezeichnete Bilder von jeder echten Probe.

 

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Mehr Details bei niedriger Spannung

  • Entdecken Sie bei niedrigen Spannungen Details im Nanomaßstab mit hoher Auflösung und hohem Kontrast.
    Bei 500 V erzielen Sie eine Auflösung von 1,2 nm, bei 1 kV beträgt die Auflösung 1,1 nm. Sie profitieren immer von perfekter Bildqualität, auch ohne Vorspannung.
  • Freuen Sie sich über schnelle Resultate dank renommierter Gemini-Technologie.

Höhere Signalstärke – jederzeit

  • Nutzen Sie die verbesserte Detektionseffizienz des neuen GeminiSEM 500 Linsendesigns. Es verstärkt das Inlens SE-Signal im Vergleich zu herkömmlichen REM-Bauweisen um das bis zu 20-fache.
  • Sichern Sie sich durch Detektion genau der richtigen Elektronen höhere Effizienz und maximale Informationen aus Ihrer Probe.
  • Nehmen Sie Bilder in kürzeren Zeitabständen auf oder arbeiten Sie mit sehr niedrigen Spannungen, um Probenschäden zu vermeiden.

Mehr Flexibilität mit variablem Druck

  • Arbeiten Sie im druckvariablen Modus, so als würden Sie in Hochvakuum arbeiten.
  • Nutzen Sie erstmals echte Inlens Detektion bei variablem Druck. Nehmen Sie Bilder mit hoher Auflösung, hohem Kontrast und hohem Signal-Rausch-Verhältnis auf.
  • Freuen Sie sich auf gestochen scharfe Bilder selbst von Ihren schwierigsten, nicht-leitfähigen Proben.

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Auf Grundlage der bewährten Gemini Technologie

  • Das Gemini Objektivlinsendesign kombiniert elektrostatische und magnetische Felder, um die optische Performance zu maximieren und gleichzeitig die Feldeinflüsse auf die Probe auf ein Minimum zu reduzieren. Dies ermöglicht eine ausgezeichnete Abbildung auch bei schwierigen Proben wie beispielsweise magnetischen Materialien.
  • Das Gemini Konzept der Inlens-Detektion gewährleistet eine effiziente Signaldetektion durch parallele Erfassung von Sekundärelektronen (SE) und Rückstreuelektronen (BSE), bei einer verringerten Bilderfassungszeit.
  • Die Gemini Beambooster-Technologie ermöglicht geringe Probengrößen und ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis.

Mehr Details. Mehr Signal.

  • GeminiSEM 500 ist mit einer neuartigen Elektronenoptik ausgestattet. Die neu entwickelte Nano-twin Linse verbessert nochmals die Auflösung bei niedrigen Strahlspannungen.
  • Das Inlens SE-Signal wird bei niedriger Spannung um das bis zu 20-fache verstärkt. Sie erhalten immer gestochen scharfe Bilder – schnell und mit minimalem Schaden an der Probe.
  • Der hochauflösende Quellenmodus minimiert chromatische Aberration und erlaubt noch geringere Probengrößen.

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GeminiSEM 300 ist die ideale Wahl für das Abbilden großer Flächen mit exzellenter Abbildungsqualität und schneller Bilderfassungszeit. Mit der Gemini Optik können Sie auf effiziente Detektion, hervorragende Auflösung und verzerrungsfreie Abbildung großer Flächen zählen.
Profitieren Sie vom neuen optischen Design, das auf Niederspannungsabbildung für schwierige Proben zugeschnitten ist, wie z.B. strahlempfindliche oder magnetische Materialien. Charakterisieren Sie Ihre Probe umfassend: erzielen Sie einzigartige Materialkontrast bei niedrigen Spannungen mit dem energieselektiven Rückstreudetektor. Nutzen Sie den NanoVP Modus: Bilden Sie nicht-leitende Proben mit hoher Auflösung und ausgezeichneter Oberflächensensitivität mit dem Inlens SE Detektor bei hohen Kammerdrücken ab.

Mehr Details. Mehr Flexibilität.

  • Geringere Aufladung nicht-leitfähiger Proben.
  • NanoVP-Technologie reduziert die Stahlverbreiterung und ermöglicht damit sowohl Imaging mit hochauflösenden Details als auch echte Inlens Detektion bis zu 150 Pa.
  • Daher können Inlens SE- und EsB-Detektoren sogar gleichzeitig im VP-Modus für hochauflösende Oberflächendarstellung und Materialkontrast-Imaging eingesetzt werden.
  • Für Ihre schwierigsten Proben kann der Kammerdruck bei Nutzung der VPSE-Detektion sogar bis 500 Pa erhöht werden.

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ZEISS Atlas 5 – Meistern Sie Ihre multi-dimensionale Herausforderung

Mit Atlas 5 erstellen Sie multi-dimensionale Bilder. Atlas 5 ist ein leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software, das Ihr ZEISS Rasterelektronenmikroskop (REM) ergänzt.

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Rekonstruieren Sie Ihre 2D SEM Bilder in 3D

Ihr Rasterelektronenmikroskop misst und analysiert alle Arten von Proben in 2D: Verwenden Sie für die Analyse von Probenoberflächen in 3D die Systemerweiterung 3DSM. 3DSM, die computerbasierte Anwendung von ZEISS, liefert Ihnen topografische Informationen durch Rekonstruktion eines kompletten 3D-Oberflächenmodells auf der Grundlage der Signale des AsB-Detektors des REM. 

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FIB-SEM-Mikroskop

Visualisierungs- und Analyse-Software

ZEISS empfiehlt Visual SI Advanced von Object Research Systems (ORS)
Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-REM und REM.
Visual SI Advanced ermöglicht durch die erweiterten Visualisierungstechniken und die State-of-the-Art Volumengraphiken hochauflösende Analysen der Details und Eigenschaften von 3D Datensätzen.

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ZEISS GeminiSEM Familie

Ihre Feldemissions-REMs für Niederspannungsbilder im Subnanometerbereich von jeder Probe

Seiten: 19
Dateigröße: 6.649 kB
Revision 19.05.2016

In situ SEM and Raman Investigations on Graphene

Comparison of graphene, graphene oxide and reduced graphene oxide

Seiten: 5
Dateigröße: 814 kB
Revision 17.11.2015

Novel Optical Design of Field Emission SEMs

Innovations in Gemini Column, Detection Technology and Variable Pressure Technology

Seiten: 8
Dateigröße: 1.937 kB
Revision 18.03.2015

ZEISS Gemini Optics

High Resolution Images On Real World Samples

Seiten: 1
Dateigröße: 775 kB
Revision 13.07.2015

Technology Note: ZEISS Scanning Electron Microscopes with integrated Raman Spectrometers

Investigate Solid State Materials

Seiten: 5
Dateigröße: 906 kB
Revision 29.09.2015

 

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