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ZEISS Xradia 520 Versa

Die Imaging-Freiheit im Sub-Mikrometer-Bereich

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Visual SI Advanced

 
Ti alloy imaged with LabDCT
 
FPX Flat Panel Extension

ZEISS Xradia 520 Versa

Erweitern Sie die Grenzen der Forschung

Das 3D-Röntgenmikroskop ZEISS Xradia 520 Versa bietet neue Dimensionen der Flexibilität für die wissenschaftliche Forschung. Mit branchenbester Auflösung und exzellentem Kontrast erweitert Xradia 520 Versa die Grenzen der zerstörungsfreien Bildgebung und sorgt für revolutionäre Flexibilität und eine Erkennungsgenauigkeit, wie Sie sie für Ihre Forschung brauchen. Innovative Kontrast- und Aufnahmetechniken ermöglichen es Ihnen, bislang unentdeckte Feinheiten zu suchen - und zu entdecken.

Xradia 520 Versa erzielt eine räumliche Auflösung von 0,7 µm und verfügbare Voxel-Größen unter 70 nm.

Die umfassendste Röntgen-Imaging-Lösung im Sub-Mikrometer-Bereich für beispiellose Flexibilität

Neben den bekannten Vorteilen der Xradia Versa Röntgenmikroskopserie von ZEISS - höchste Auflösung, bester Kontrast, RaaD (Resolution at a Distance) und zerstörungsfreies Röntgen-Imaging - setzt ZEISS Xradia 520 Versa mit bahnbrechenden Techniken und Innovationen neue Maßstäbe im laborbasierten Röntgen-Imaging.

Dual Scan Contrast Visualizer (DSCoVer)
DSCoVer bietet flexibles Side-by-side-Tuning zweier verschiedener Tomografien unter verschiedenen Imaging- oder Probenbedingungen. Dies ermöglicht die kompositorische Sondierung von Merkmalen, die bei einem einzelnen Scan-Vorgang normalerweise nicht zu erkennen sind. So können Sie die für die duale Energieanalyse notwendigen Daten nahtlos und einfach sammeln. Die Abbildung einer Probe mit zwei verschiedenen Röntgenspektren - oder in zwei verschiedenen Zuständen - mit Abstimmung und darauf folgender Kombination der Ergebnisdatensätze gewährleistet einen optimalen Kontrast des interessierenden Materials und erlaubt Ihnen, wiederholbare Forschungsparameter festzulegen.

DSCoVer nutzt die Art der Interaktion von Röntgenstrahlen mit Materie je nach der effektiven Atomzahl und Dichte der Merkmale innerhalb einer Probe. Dies bietet Ihnen die einmalige Möglichkeit, zum Beispiel mineralogische Unterschiede in Gestein und zwischen anderen schwer zu erkennenden Materialien wie Silikon und Aluminium zu erkennen.

High-Aspect Ratio Tomography (HART)
Der innovative High Aspect Ratio Tomography- (HART-) Modus von Xradia 520 Versa ermöglicht einen höheren Imaging-Durchsatz für flache Proben wie zum Beispiel Halbleitergehäuse und Platinen. Dank variabler Projektionsabstände erlaubt es HART, entlang der Vorderseite flacher Proben weniger Projektionen und entlang der dünnen Seite mehr Projektionen zu sammeln. Diese dichten, langen Ansichten liefern viel mehr 3D-Daten als weniger dichte, kurze Ansichten.

HART kann auch für einen höheren Durchsatz oder eine bessere Bildqualität eingestellt werden und die Bildaufnahmegeschwindigkeit auf diese Weise potenziell verdoppeln.

Automated Filter Changer (AFC)
Jetzt ist es noch einfacher, anspruchsvolle Proben abzubilden. Quellenfilter, die für die Einstellung des Röntgenenergiespektrums verwendet werden, sind eine wichtige Ergänzung für DSCoVer und In situ-Anwendungen. Der AFC beherbergt 12 Standardfilter und bietet Platz für ein Dutzend weitere kundenspezifische Filter für neue Anwendungen. Die Filterauswahl lässt sich leicht programmieren und in Bildrezepten erfassen, so dass die Filter gewechselt werden können, ohne den Arbeitsfluss zu unterbrechen.

Weitfeld-Modus
Der Weitfeld-Modus ermöglicht in einer einzigen Tomografie entweder ein vergrößertes laterales Sehfeld für die Abbildung großer Proben oder eine höhere Auflösung mit dem Standard-Sehfeld. Bei größeren Proben ist das laterale Sehfeld ungefähr doppelt so breit wie im Standardmodus mit einem mehr als dreimal so großen 3D-Volumen. Bei Verwendung des Standard-Sehfeldes bietet WFM eine fast doppelt so hohe Voxel-Zahl. Die Kombination von WFM mit der bestehenden Vertical Stitching-Funktion ermöglicht es Ihnen, größere Proben abzubilden, die breiter und höher sind als das Standard-Sehfeld.

Optionaler Autoloader
Maximieren Sie die Nutzung Ihres Instrumentes, indem Sie die nutzerseitige Intervention mit dem optional erhältlichen Autoloader optimieren, der für alle Instrumente der ZEISS 3D-Röntgenmikroskope der Xradia Reihe erhältlich ist. Reduzieren Sie die Nutzerinteraktion und erhöhen Sie die Produktivität, indem Sie die Ausführung mehrerer Aufgaben gleichzeitig ermöglichen. Laden Sie bis zu 14 Proben, erstellen Sie eine Warteschlange und lassen Sie das System den ganzen Tag über oder außerhalb der Schicht laufen. Die Software bietet Ihnen die Flexibilität, die Warteschlange jederzeit neu zu ordnen, zu unterbrechen oder zu löschen, um eine Probe mit hoher Priorität einzufügen. Eine E-Mail-Verständigungsfunktion in der Scout-and-Scan-Benutzerschnittstelle ermöglicht eine zeitgerechte Aktualisierung der Warteschlange. Der Autoloader ermöglicht auch eine Workflow-Lösung für hochvolumiges repetitives Scannen gleichartiger Proben.

Röntgen-Imaging mit dem optionalen In Situ-Schnittstellen-Kit
eignet sich perfekt für die Abbildung von Materialien in verschiedenen Umgebungen unter kontrollierten Bedingungen sowie für die Beobachtung über die Zeit hinweg (4D), die die zerstörungsfreie Charakterisierung und Quantifizierung der Entwicklung von 3D-Mikrostrukturen ermöglicht. Dank seiner einmaligen Architektur ist Xradia Versa heute die beste Branchenlösung, die die Verwendung der verschiedensten In Situ-Vorrichtungen von Hochdruck-Durchflusszellen bis hin zu Spannungs-, Kompressions- und Thermotischen unterstützt. Das optimale In Situ-Schnittstellen-Kit ermöglicht ein stabiles, robustes Management oft komplexer In Situ-Elektro- und Rohrsysteme und sorgt gemeinsam mit der rezeptbasierten Softwarefunktion, die den Betrieb über die Benutzerschnittstelle von Xradia Versa erleichtert, für die Aufrechterhaltung der Leistung von Xradia. Das In Situ-Schnittstellen-Kit ist für alle Xradia Versa Systeme erhältlich.

Die einmalige Architektur von Xradia 520 Versa bietet eine eine beispiellose Flexibilität:

Unerreichte Auflösung im zerstörungsfreien 3D-Röntgen-Imaging

  • Echte räumliche Auflösung <700 nm
  • Erzielbare Voxel-Mindestgröße unter 70 nm
  • Zweistufige Vergrößerung mit Distanzauflösung (RaaD) bei großen, flexiblen Arbeitsabständen und Aufrechterhaltung der Auflösung im Sub-Mikrometer-Bereich
  • Einzigartige zerstörungsfreie Innentomografie dank Scout-and-Zoom

 

Hochwertige Kontrastfunktionen für die Abbildung anspruchsvoller Proben

  • Verbesserte Absorptionskontrastdetektoren maximieren die Erfassung kontrastbildender energiearmer Röntgenphotonen, die für die Abbildung zahlreicher Materialtypen kritisch sind
  • Der einstellbare Ausbreitungsphasenkontrast ermöglicht die Abbildung von Materialien mit niedrigem Z und biologischen Proben mit tendenziell schwachem Absorptionskontrast
  • Maximale Erkennbarkeit durch Dual Energy-Untersuchung von Merkmalen, die normalerweise in einem einzigen Scan-Durchgang nicht erkennbar sind

 

Branchenführende In situ- und 4D-Lösung

  • Zerstörungsfrei arbeitende Röntgenmikroskope charakterisieren die Mikrostruktur von Materialien unter simulierten Bedingungen - In Situ - sowie die Entwicklung von Eigenschaften über die Zeit hinweg (4D)
  • Unterstützung einer Vielfalt von In situ-Vorrichtungen für die Abbildung von bis zu einigen Zoll großen Proben in Umweltkammern und unter variablen Bedingungen im Sub-Mikrometer-Bereich
  • Dank RaaD kann Xradia Versa bei zunehmendem Abstand zwischen Röntgenquelle und Probe eine hohe Auflösung aufrechterhalten, während die Auflösung herkömmlicher Mikro-CT-Architekturen abnimmt, wenn Proben in großen In Situ-Kammern platziert werden

 

Wide Field Mode (WFM) - fast doppelt so breit wie der Standardmodus für ein größeres Sehfeld in derselben Auflösung. Mehr als 3x so große resultierende 3D-Volumina

Supereinfaches Steuersystem für effiziente Workflows, ideal geeignet für zentrale Laboreinrichtungen mit Nutzern verschiedener Erfahrungsstufen

Systemstabilität: Schwingungsisolierung, thermische Stabilisierung, geräuscharmer Detektor

Leistungsstarke Dual GPU-Workstation, die die Bildwiederaufbauzeit um bis zu 40% beschleunigt

Das optional erhältliche Versa In Situ-Kit organisiert die Funktionen, die Umweltkammern unterstützen (wie Kabel und Rohre) und gewährleistet so eine maximale Imaging-Performance und eine einfache Einrichtung

Die Autoloader-Option ermöglicht es Ihnen, bis zu 14 Proben gleichzeitig zu programmieren und zu bearbeiten, um die Produktivität zu maximieren und die Arbeitsabläufe für großvolumiges Scannen zu automatisieren.

Einführung - ZEISS LabDCT

Entschlüsseln Sie kristallographische Informationen in Ihrem Labor

Visualisieren Sie die Orientierung von Kristallen dreidimensional und zerstörungsfrei mit dem LabDCT ™ Advanced Imaging-Modul. Beugungskontrasttomographie (DCT) war bisher nur bei einer begrenzten Anzahl von Synchrotron-Röntgengeräten möglich. Mit der Einführung von LabDCT als Option für Ihr Röntgenmikroskop ZEISS Xradia 520 Versa können Sie ab sofort das Routine-Werkzeug für zerstörungsfreies 3D-Kristall-Mapping nutzen.

Analysieren und rekonstruieren Sie kristallographische Informationen polykristalliner Proben, wie in Metallen und Legierungen, mit LabDCT, einer kombinierten Hard- und Softwarelösung. Daten aus der Absorptions- oder Phasenkontrasttomographie über die Kornorientierung werden direkt mit Merkmalen der Mikrostruktur (z.B. Risse, Porosität, Einschlüsse) korreliert. Es eröffnen sich neue Möglichkeiten zur Charakterisierung von Beschädigungen, Verformungen und Wachstumsmechanismen, die Sie mit 3D-Materialwissenschaften in Beziehung setzen können. So erlangen Sie mit leistungsstarken Imaging-Funktionen ein verbessertes Hintergrundverständnis der grundlegenden dreidimensionalen Materialienwissenschaften.

Schematische Darstellung des LabDCT Setup

Schematische Darstellung des LabDCT Setup

Weitere Vorteile für die in situ und 4D Untersuchungen

Untersuchen Sie Ihre Proben mikroskopisch in situ  oder in einem „4D“-Experiment über einen längeren Zeitraum (über Tage, Wochen, Monate). Über die Synchrotron-Umgebung erreichen Sie eine einzigartige Stärke für Ihre laborbasierten XRM Experimente. Mit LabDCT können Sie erstmals in 4D und in situ Experimenten Informationen zur mikrostrukturellen Entwicklung erlangen. Erlangen Sie Einblick in die Kristallographie Ihrer Materialien und verstehen Sie Mechanismen wie Korrosion von Mikrostrukturen mit einem labor-basierten Tomographie-Gerät.  

Direkte Visualisierung einer Beta-Ti-Legierung

Direkte Visualisierung einer Beta-Ti-Legierung

Korrelative Mikroskopie

Im Anschluss an ein Evolutionsexperiment, kann Ihre Probe auf dem Elektronenmikroskop oder Rasterelektronenmikroskope mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-SEM) für komplementäre hochauflösende postmortale Experimente (wie EDS oder EBSD) untersucht werden. ZEISS Atlas 5 ermöglicht diese effizienten, korrelativen Workflows. Sie sind die Zukunft der modernen Mikroskopie und verbinden nahtlos die multimodalen, multiskalierten und mehrdimensionale Plattformen von ZEISS.

Materialwissenschaft
Charakterisieren Sie Materialien, beobachten Sie Bruchmechaniken, untersuchen Sie Eigenschaften in verschiedenen Längenskalen und quantifizieren und charakterisieren Sie die mikrostrukturelle Entwicklung. Führen Sie (zeitabhängige) In situ- und 4D-Studien durch, um die Auswirkungen von Erwärmung, Abkühlung, Oxidation, Befeuchtung, Zug, Zugdruck, Imbibition und Entwässerung zu erforschen und andere simulierte Umweltstudien durchzuführen. Xradia 520 Versa bietet zerstörungsfreie Einblicke in tief verborgene Mikrostrukturen, die mit 2D-Oberflächen-Imaging wie optischer Mikroskopie, SEM und AFM möglicherweise nicht darstellbar sind. Außerdem ermöglicht Compositional Contrast die Untersuchung von Elementen mit niedrigem Z oder von "Near-Z" Elementen und anderen schwer zu erkennenden Materialien.

Natürliche Ressourcen
Charakterisieren und quantifizieren Sie Porenstrukturen, messen Sie die Fluidströmung, studieren Sie Kohlenstoffbindungsprozesse und analysieren Sie Rückstände für optimale Ergebnisse im Bergbau. Xradia 520 Versa bietet die präziseste 3D-Unterstützung im Sub-Mikrometerbereich für digitale Gesteinssimulationen, mehrphasige In situ-Fluidströmungsstudien und 3D-Mineralogie.

Life Sciences
Erstellen Sie virtuelle Histologien, machen Sie zelluläre und subzelluläre Merkmale sichtbar und charakterisieren Sie Probenstrukturen im Sub-Mikrometerbereich in Zoll- bis Zentimeterdimensionen. Werten Sie Ihre entwicklungsbiologischen Aufnahmen durch hohe Auflösung und starke Kontraste zellulärer und subzellulärer Strukturen auf. Xradia 520 Versa bietet die höchste Auflösung und die stärksten Kontraste laborbasierter Computertomografielösungen für ungefärbte und gefärbte harte und weiche Gewebe und biologische Mikrostrukturen.

Elektronik
Optimieren Sie Ihre Prozesse, ermitteln Sie die Paketverlässlichkeit, führen Sie Fehleranalysen durch und analysieren Sie den Paketaufbau. Xradia 520 Versa bietet zerstörungsfreies Imaging im Sub-Mikrometer-Bereich oder intakte Pakete für die Relokalisation und Charakterisierung von Fehlern mit schnellen Ergebnissen. Xradia Versa ist das System mit der branchenweit höchsten Auflösung für zerstörungsfreies 3D-Imaging im Sub-Mikrometer-Bereich, das physische Querschnittmethoden ergänzt oder ersetzt.

FIB-SEM-Mikroskop

Visualisierungs- und Analyse-Software

ZEISS empfiehlt Visual SI Advanced von Object Research Systems (ORS)
Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-REM und REM.
Visual SI Advanced ermöglicht durch die erweiterten Visualisierungstechniken und die State-of-the-Art Volumengraphiken hochauflösende Analysen der Details und Eigenschaften von 3D Datensätzen.

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