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Demonstrierte ZEISS Produkte
Axio Scan.Z1

LSM 700

ZEISS Nachfolger: LSM 800

LSM 710

ZEISS Nachfolger: LSM 880

LSM 780

ZEISS Nachfolger: LSM 880

Cell Observer SD

Elyra PS.1

Laser Microdissection

Publication

Microscopy at the Core

Presenting the Core Facility
for Integrated Microscopy at the University of Copenhagen

Core Facility for Integrated Microscopy (CFIM)

labs@location Partner

Sie sind auf der Suche nach dem optimalen Mikroskop für Ihre Anwendung? Unser labs@location Partner an der Universität in Kopenhagen (CFIM – Core Facility for Integrated Microscopy) diskutiert gerne mit Ihnen Vor- und Nachteile der unterschiedlichen Mikroskope.

CFIM ist eine Core Facility für Mikroskopie in der Fakultät für Gesundheit und Medizinische Wissenschaften der Universität von Kopenhagen. CFIM heißt alle Wissenschaftler der Universität von Kopenhagen willkommen. Wissenschaftler anderer Universitäten, von Kliniken oder aus der Industrie werden ebenso gerne empfangen. Egal ob Anfänger oder Spezialist – jeder wird optimal betreut. Die Vision von CFIM ist, dass ein Anwender sich umfassend informiert und letztlich das am besten zu ihm und seiner Aufgabe passende Mikroskop auswählt mit der Absicht, detaillierte Antworten auf seine wissenschaftliche Fragestellung zu erhalten. Das Ziel von CFIM ist die Unterstützung und das Training von Wissenschaftlern im Umgang mit den neuesten Mikroskopen, so dass sie das Beste aus ihren Experimenten herausholen.

Die konfokale Laser Scanning Mikroskopie ist zur klassischen Imaging Technik in der Biologie avanciert und steht für gute Auflösung bei hoher Flexibilität in Färbemethoden. CFIM bietet drei LSMs in ihrer Einrichtung, so dass die meisten Proben bearbeitet werden können.

Mikroskop LSM 700 LSM 710 LSM 780
Typ Aufrecht Aufrecht
Invers
Detektoren 2 PMTs

2 PMTs

1 QUASAR

2 PMTs

1 GaAsp

Live Imaging Nein Nein Ja; Temperatur und CO2 Kontrolle
Anregung 405/488/555/639nm 405/458/488/514/561/633nm 405/458/488/514/543/633nm InTune laser from 490 to 625nm
Kontrastverfahren DIC DIC DIC
Andere Optionen   Immersion
FRAP, FCS

Spinning Disk Mikroskopie ist optimal für schnelles konfokales Imaging. Es ist besonders zu empfehlen, wenn schnelle Prozesse in lebenden Zellen wiedergegeben werden sollen, für 3D Berechnungen oder zur Erfassung großer Bildstapel.

Elyra PS.1 ist einhochauflösendes Mikroskop, das mit seiner Ausstattung sowohl strukturierte Beleuchtung als auch Lokalisations-Mikroskopie erlaubt. 

Strukturierte Beleuchtung (Structured Illumination Microscopy – SIM) verbessert die Auflösung um den Faktor 2 (xy: 100nm; z: 250nm), was dem Lichtinterferenzmuster geschuldet ist. 
Die Lokalisationsmikroskopie-Techniken wie dSTORM (direct stochastic optical reconstruction microscopy) und PALM (Photoactivated Localization Microscopy) machen sich die Blink-Eigenschaften einiger Fluorophore zunutze, die eine Berechnung der präzisen Lokalistation in einer Probe zulassen. Die Auflösung wird stark verbessert (xy: 40nm; z: 100nm mit TIRF). 

Die Laser-Mikrodissektion erlaubt eine Selektion und Isolierung eines Teils der Probe, um diese anschließend für weitere Untersuchungen wie z.B. RT-PCR oder Proteinanalysen zu verwenden. Sogar lebende Zellen können auf diese Weise (auch einzeln) gewonnen werden. Zudem ist unser System mit einer optischen Pinzette ausgestattet, die die direkte Manipulation von Proben erlaubt. 

Das Axio Scan ist ein automatisierter Slide-Scanner für Hellfeld- und Fluoreszenz-Mikroskopie. Man kann bis zu 100 Objektträger laden und mit verschiedenen Objektiven (10x/0.45, 20x/0.8 oder 40x/0.95) scannen. 

Sowohl unser Elyra-System als auch der Cell Observer SD ist mit einem TIRF-Modul ausgestattet.

TIRF steht für Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy. Dabei trifft Laserlicht das Deckglas in einem flachen Winkel und wird reflektiert. Im Wasser hinter dem Glas bildet sich ein evaneszentes Feld aus, so dass darin befindliche fluoreszierende Moleküle zur Emission von Fluoreszenzlicht angeregt werden. Die typische Eindringtiefe für sichtbares Licht ist etwa 100 nm. Das führt zu einem verbesserten Signal to Noise Verhältnis für Objekte in der nahen Umgebung des Deckglases und einer stark verbesserten Auflösung entlang der optischen Achse (z-Richtung).

WF vs TIRF

Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy

 

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