Technische Meilensteine der Elektronenmikroskopie

Wie alles begann

Nach der Zusammenarbeit mit AEG Anfang der 1940er Jahre beteiligte sich Carl Zeiss zunehmend an der Weiterentwicklung der EM-Reihe: 1949 brachte Carl Zeiss das EM 8 auf den Markt, das optische Störungen besser ausgleichen konnte und daher eine hervorragende Abbildungsleistung besaß. Das Nachfolgermodell von 1956, das EM 9, markiert einen neuen Abschnitt in der Produktion der Elektronenmikroskope: es war das weltweit erste elektromagnetische Transmissionselektronenmikroskop mit automatischer Belichtungskontrolle. 1984, mit der Vorstellung des EM 902, führte Carl Zeiss auch den Castaing-Henry-Filter für kommerzielle Elektronenmikroskope ein. Mit dieser Neuerung wird es dem Benutzer nun möglich, hochauflösende Elementverteilungsbilder anzufertigen. Die GEMINI-Technologie, welche erstmals in das DSM 982 GEMINI eingebaut wurde, ist bekannt für ihre kombinierten elektrostatisch-magnetischen Objektivlinsen.

2007 brachte Carl Zeiss zwei grundlegende Neuerungen auf den Markt: das ORION-Mikroskop, welches die Proben mit Helium-Ionen anstelle von Elektronen abtastet und dadurch eine weitaus höhere Auflösung und höheren Kontrast lieferte, und das CRISP, das einzige TEM der Welt mit der Fähigkeit, auf atomarer Ebene abzubilden. 2010 demonstrierte Carl Zeiss mit dem Shuttle & Find-System für korrelative Mikroskopie ein weiteres Mal seine Fachkenntnis auf dem Gebiet der Elektronenmikroskopie. 2011 wurde die Abteilung für Elektronenmikroskopie mit den Fertigungsstandorten in Oberkochen, Peabody and Cambridge in die Carl Zeiss MicroImaging GmbH integriert. Das Unternehmen wurde in Carl Zeiss Microscopy umbenannt und hat seinen Sitz in Jena, wo alles anfing.

Meilensteine

1931
Beginn der TEM-Entwicklung bei der AEG © ZEISS Archiv

Beginn der TEM-Entwicklung bei der AEG

1949
Elektrostatisches AEG-ZEISS Transmissions-Elektronenmikroskop EM 8. © ZEISS Archiv

Elektrostatisches AEG-ZEISS Transmissions-Elektronenmikroskop EM 8

1961
Das erste Elektronenmikroskop mit einem elektronischen Belichtungsautomat: EM 9 © ZEISS Archiv

Das erste Elektronenmikroskop mit einem elektronischen Belichtungsautomat: EM 9

1978
EM 109 Elektronenmikroskop mit einer Außenphotographieeinrichtung TFP-System (Trans-Faser-Photographiesystem). © ZEISS Archiv

EM 109 Elektronenmikroskop mit einer Außenphotographieeinrichtung TFP-System (Trans-Faser-Photographiesystem).

1984
EM 902 mit abbildendem Elektronenenergie-Filter erzeugt als erstes Gerät auf dem Markt hochauflösende Elementverteilungsbilder. © ZEISS Archiv

EM 902 mit abbildendem Elektronenenergie-Filter erzeugt als erstes Gerät auf dem Markt hochauflösende Elementverteilungsbilder.

1993
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops DSM 982 GEMINI © ZEISS Archiv

Markteinführung des Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops DSM 982 GEMINI mit kombinierter elektrostatisch-magnetischer Objektivlinse (GEMINI-Technologie).

2007
Carl Zeiss präsentiert das Helium-Ionen-Mikroskop ORION © ZEISS Archiv

Carl Zeiss präsentiert das Helium-Ionen-Mikroskop ORION. Anstatt mit Elektronen werden Proben mit Helium-Ionen abgetastet. Das ermöglicht eine deutlich höhere Auflösung und einen besseren Materialkontrast.

2007
CRISP - das weltweit einzige Elektronenmikroskop, mit dem es möglich ist, auf atomarer Ebene abzubilden. © ZEISS Archiv

CRISP - das weltweit einzige Elektronenmikroskop, mit dem es möglich ist, auf atomarer Ebene abzubilden.

2010
"Shuttle & Find" für die korrelative Licht- und Elektronenmikroskopie © ZEISS Archiv

"Shuttle & Find" für die korrelative Licht- und Elektronenmikroskopie (CLEM): die einzigartige Hard- und Software-Schnittstelle zur Verbindung von Licht- und Elektronenmikroskopen ermöglicht es, Stellen fixierter Proben, die in einem System markiert wurden, in einem anderen System innerhalb weniger Sekunden wiederzufinden.