Oberflächeninspektionssystem für unterschiedliche Ausbaustufen und Anlagenkonzepte

ZEISS ABIS II

Chromatic white light sensors of ZEISS DotScan enable the non-contact capture of workpiece topography

Objektive und schnelle Messung mit modularer Sensorik

Mit den ABIS II-Sensoren kann ein großes Spektrum an Fehlerarten erkannt werden. Hier bietet die sichere und rechtzeitige Detektion sowie eine objektive Bewertung bzw. Klassifikation von Dellen, Beulen, Einfallstellen, Welligkeiten, Einschnürungen, Rissen, etc. ein perfektes Qualitätssicherungsinstrument in der Produktion von Blechpressteilen und Rohkarosserien. Dabei profitiert der Anwender von der hohen Präzision und extrem kurzen Taktzeiten.

Die Sensorik der ABIS II-Systeme ist modular aufgebaut und bietet dadurch eine enorme Flexibilität. Die optionale Integration des Kontrastsensors erlaubt die zusätzliche Erkennung von kontrastsensitiven Fehlern, wie z. B. Klebereste, Kratzer und Verschmutzungen.

Durchgängige Analyse der Oberflächenqualität über die komplette Prozesskette

Viele Anwender in der Automobilindustrie setzen auf eine durchgängige Oberflächenqualitätsanalyse über die komplette Prozesskette. Die Bauteile werden hierbei als Einzelteil (ET), als Zusammenbau (ZSB) und nach der kathodischen Tauchlackierung (KTL) mit dem gleichen Messprogramm auf decklackrelevante Oberflächenfehler geprüft. Somit wird die Entwicklung eines Fehlers nach jeder Prozessstufe dokumentiert, wobei die praktische Erfahrung aus der Produktion zeigt, dass Oberflächenfehler nach einem Prozessschritt an Relevanz sowohl zunehmen als auch abnehmen können. Auf Basis einer prozessumfassenden Qualitätsanalyse erfolgt die erforderliche Nacharbeit punktgenau an den notwendigen Bauteilstellen und Prozessstufen, eine äußerst kostensparende Effizienzsteigerung im Finish-Bereich. Neben der Entwicklung eines Oberflächenfehlers innerhalb der Prozesskette erhält der Anwender aus den zeitlichen Veränderungen innerhalb eines Produktionszeitraumes wichtige Aussagen über die Qualitätsänderungen.

Chromatic white light sensors of ZEISS DotScan enable the non-contact capture of workpiece topography
Chromatic white light sensors of ZEISS DotScan enable the non-contact capture of workpiece topography

Bei einer Verschlechterung des Audit-Werts können frühzeitig Korrekturmaßnahmen, wie z. B. an den Pressenparametern oder Werkzeugflächen, vorgenommen werden, bevor Teile mit nacharbeitsrelevanten Fehlern produziert werden.