Virtuelle System Demonstration

ZEISS AI Sample Finder

Webinar-Aufzeichnung

Künstliche Intelligenz zur Steigerung der Effizienz in der Mikroskopie

Verkürzen Sie die Bildaufnahmezeit von Minuten auf Sekunden

In dieser Live-Demonstration sehen Sie, wie einfach es ist, Bilder von einer breiten Auswahl von Proben unter verschiedensten Bedingungen aufzunehmen. Reduzieren Sie die Zeit, die Sie bis zum Beginn der Bildaufnahme benötigen, von Minuten auf nur Sekunden und beginnen Sie sofort mit Ihren Experimenten.

Bei klassischen Mikroskopen erfordert die Positionierung des Probenträgers, die Fokuseinstellungen und die Identifizierung der Regionen, die Sie abbilden möchten, manuelle Einstellungen. Der AI Sample Finder automatisiert diesen Ablauf vollständig, selbst bei kontrastarmen oder transparenten Proben. Betrachten Sie ihre Proben einfach und mit höchster Geschwindigkeit mithilfe von Deep-Learning-Algorithmen.

Erweitern sie die Performance Ihres ZEISS Axio Observer 7, LSM 900 oder LSM 980 mit einem Upgrade für den AI Sample Finder.

Webinar-Aufzeichnung


Key Learnings

  • Erzeugen Sie in Sekunden ein Übersichtsbild mit zugeordneten Probenregionen bei minimaler Benutzerinteraktion
  • Nutzen Sie Deep-Learning-Algorithmen für die automatische Kalibrierung von Trägern, wie z. B. Well-Platten
  • Erfassen Sie schnelle, detaillierte Übersichtsaufnahmen mit einer neuartigen Kontrastierungstechnik
  • Profitieren Sie von der Integration des AI Sample Finders in Imaging-Workflows

Programm

  • ZEISS AI Sample Finder - Gert Sonntag (10 Min)
  • System Demonstration - Dr. Frank Voglerd (35 Min)
  • Q&A (15 Min)

Sprecher

Dr. Frank Vogler

In seiner Promotion und Postdoc-Zeit an der Universität Regensburg untersuchte Frank die Etablierung von Zellpolarität und polarisiertem Spitzenwachstum mithilfe von molekularbiologischen, biochemischen und quantitativen Live-Zell-Imaging-Techniken. Seit 2018 ist er bei ZEISS als Applikationsspezialist für automatisierte und konfokale Bildgebung tätig.

Dr. Frank Vogler ZEISS Research Microscopy
Dr. Gert Sonntag

Gert ist seit 2001 Vertriebs- und Applikationsspezialist bei ZEISS. Als Experte für 3D-Imaging betreut Gert Key-Account Kunden in Deutschland und Südosteuropa. In den letzten Jahren etablierte er zahlreiche Workshops in unseren Demo-Centern und auch im Kundenumfeld.

Gert Sonntag ZEISS Research Microscopy