ZEISS Microscopy

Sehen Sie Applikationen rund um die Materialmikroskopie

Drei Videos mit außergewöhnlichen Einblicken

Zukunftsweisende Mikroskopiemethoden bieten neue Perspektiven in der Materialzusammensetzung und -struktur. Charakterisieren Sie Ihre Proben in drei Dimensionen, über mehrere Längenskalen oder Modalitäten und durch In-situ-Experimente. Mit diesen Funktionen können Sie Materialien auf neue Weise synthetisieren, kontrollieren und beobachten. Erlangen Sie einzigartige Einblicke in Ihre Materialien.

Nachfolgend finden Sie eine Sammlung von kurzen Videos, die veranschaulichen, wie die Mikroskopie diese außergewöhnlichen Einblicke ermöglicht.

Machen Sie eine 3D Tour durch das Innere eines in 3D gedruckten Zahnrades mit Hilfe der Röntgenmikroskopie.

Gehen Sie über die traditionelle Oberflächenbeobachtung hinaus: Mit 3D-Bildgebungs- und Analysetechniken können Sie die Rolle des Untergrundes erforschen. Verwenden Sie zerstörungsfreie Methoden wie die Röntgenmikroskopie, Sie können sie sogar durch die Variable der Zeit (4D) erweitern.


Untersuchung einer Taschenzellenbatterie über mehrere Längenskalen

Dieses Anwendungsvideo zeigt einen Ausschnitt aus einer multimodalen mikroskopischen Untersuchung einer unbenutzten Lithium-Ionen-Batterie. Die Analyse korreliert die Licht- und Rasterelektronenmikroskopie. Die Folien einer Anode (A), eines Separators (S) und einer Kathode (K) sind auf einem 25 mm REM-Probenträger montiert.

Die ersten 10 Sekunden des Videos zeigen ein Overlay-Bild aus einem lichtmikroskopischen Übersichtsbild, aufgenommen mit ZEISS Axio Imager Vario, überlagert mit einem Detailbild der Kathodenfolie mit einer Fläche von 1 mm2, aufgenommen mit ZEISS MultiSEM 505, dem schnellsten Rasterelektronenmikroskop der Welt, das 61 Elektronenstrahlen parallel verwendet. Die folgende Sequenz zeigt, wie Sie von einem Sichtfeld von 1 mm2 auf ein Sichtfeld von 10 µm zoomen können, um das Kathodenmaterial bis ins kleinste Detail aufzulösen. Beachten Sie, dass der hier abgedeckte Bereich aus mehr als 15 Milliarden Bildpunkten besteht! Die letzten 10 Sekunden bringen den Betrachter wieder zurück zum Übersichtsbild. Die Einzelbilder wurden mit dem Sekundärelektronensignal bei 1keV Landeenergie mit 8 nm Pixelgröße und 400 ns Pixel Verweilzeit aufgenommen. Die Aufnahmezeit für die gesamte Fläche von ~1 mm² betrug weniger als 7 Minuten - inklusive Stagebewegung und Bildstitching. Zum Vergleich: Ein hochmodernes Einstrahl REM mit den gleichen Bildparametern benötigt fast 3 Stunden, um die gleiche Fläche zu erfassen.

Sample courtesy: U. Golla-Schindler & T. Bernthaler, IMFAA, Institut für Materialforschung, Universität Aalen


Mängel in Verbundwerkstoffen mit in-situ-Mikroskopie-Experimenten verstehen

Durch In-situ-Mikroskopie-Experimente erhalten Materialwissenschaftler die Möglichkeit, die Zusammenhänge zwischen Struktur und Eigenschaften direkt zu beobachten und Phänomene, wie und warum Fehler entstehen und sich ausbreiten, besser zu verstehen.


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