ZEISS auf der Control 2014

Mikroskopieveranstaltungen

ZEISS auf der Control 2014

06. - 09. Mai, Halle 3, Stand 3302, Stuttgart, Deutschland

ZEISS Smartzoom 5: Smart Design – Smart Workflow – Smart Output
Seien Sie unser Gast auf der Control 2014! Besuchen Sie uns am Stand 3302 in Halle 3 und erleben Sie ZEISS Smartzoom 5 – ein intelligentes digitales Mikroskop, ideal für QA/QC-Anwendungen in nahezu allen Bereichen der Industrie.
Smartzoom 5 vereint smartes Design mit smartem Workflow. Das Ergebnis: smarter Output, der eindrucksvoll beweist, wie intelligent Qualitätssicherung sein kann.
Überzeugen Sie sich selbst von „Sampling made simple“ - an unserem Stand haben Sie die Gelegenheit, Ihre eigene Probe mit Smartzoom 5 zu inspizieren.

 

ZEISS Smartzoom 5


Das neue Digitalmikroskop von ZEISS - Sampling made simple -
Digitale Mikroskope für QA/QC- Anwendungen bieten Ihnen zuverlässige Fehleranalysen, einen hohen Durchsatz und entspanntes Arbeiten. Smartzoom 5 ist Ihr smartes digitales Mikroskop von ZEISS, perfekt geeignet für die Qualitätskontrolle und -sicherung in nahezu allen Industriebereichen



- Smart Design
- Smart Workflow
- Smart Output

Mehr über Smartzoom 5

Optische Inspektion


Verbessern Sie Ihre Qualitätskontrolle und beschleunigen Sie Ihre Produktkontrolle mit den Mikroskopsystemen für visuelle Inspektion und für Routineaufgaben.
Kontrollieren Sie die Qualität Ihrer Produkte und die Produktion während laufender Produktionsprozesse. Suchen Sie nach den Ursachen von Fehlern und eliminieren Sie sie so schnell wie möglich.

- Stemi 2000
- SteREO Discovery.V20
- Axio Zoom.V16
- Axio Imager 2

Mehr über optische Inspektion

Nanometer-Auflösung & Partikelanalyse

Shuttle & Find von ZEISS ist die korrelative Verbindung von Licht- (LM) und Elektronenmikroskopie (EM), die speziell für die Verwendung in der Materialanalyse entwickelt wurde.
Als kombinierte Hardware- und Software-Lösung ermöglicht sie es Ihnen, Ihre Probe in Minutenschnelle von einem Mikroskopsystem auf ein anderes zu übertragen - ein Prozess, der bisher Stunden, wenn nicht Tage, dauerte.


- Correlative Particle Analyzer
- SIGMA VP

Mehr über korrelative Mikroskopie
   für die Materialanalyse

Mehr über Partikelanalyse

 

  • Präsentation

    Digitale Mikroskopie von ZEISS
    Smart Design – Smart Workflow – Smart Output
    Erfahren Sie mehr über die Vorteile und Anwendungen von Smartzoom 5.

    Referent
    Johannes Kaindl, Carl Zeiss Microscopy GmbH, Jena, Deutschland

    Datum
    8. Mai 2014, 11:20 bis 12:00 Uhr

    Veranstaltungsort
    Exhibitor-Forum, Halle 7, Stand 7520

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