ZEISS bei parts2clean 2015

Mikroskopieveranstaltungen

ZEISS auf der parts2clean 2017

24. - 26. Oktober, Stuttgart

Wir laden Sie herzlich ein, uns auf der parts2clean 2017, der internationalen Leitmesse für industrielle Teile- und Oberflächenreinigung zu besuchen.
Informieren Sie sich über ZEISS Imaging-Systeme, die nach Ihren Bedürfnissen der Sauberkeitsprüfung konfiguriert werden. Klassifizieren Sie prozesskritische Partikel durch Licht- und Elektronenmikroskopie nach den Vorgaben des VDA Band 19.1 für die technische Sauberkeit und kombinieren Sie Ihre Daten in einem korrelativen Workflow mit Correlative Particle Analysis (CAPA).
Sichern Sie sich hier schnell und unkompliziert Ihr Ticket zur parts2clean 2017!

 

  • Registrierung

    parts2clean2017

    Datum24. Oktober 2017 - 26. Oktober 2017
    StatusRegistrierung: Offen
    Anmeldeschluss21. Oktober 2017
    OrtMessegelände Stuttgart, Halle 5 & 7
    Messepiazza/ Flughafenstraße, 70629 Stuttgart
    Beschreibunghttp://www.parts2clean.de/
    • Pflichtangaben
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