ZEISS User Meeting | Rasterelektronenmikroskopie

Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Düsseldorf

Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Düsseldorf

15. Oktober 2019

ZEISS und die Gesellschaft für Materialographie Rhein-Ruhr e.V. (gmr²) laden Sie herzlich ein zum Anwendertreffen „Rasterelektronenmikroskopie“ im Max Planck Institut für Eisenforschung in Düsseldorf am 15. Oktober 2019.

Unsere Anwender-Treffen der Elektronenmikroskopie (EM) haben schon eine lange Tradition. Sie bieten Ihnen die Gelegenheit, andere Nutzer und deren Aufgabenstellungen kennenzulernen. Kommunikation und Erfahrungsaustausch sollen in einem angemessenen und netten Rahmen im Vordergrund stehen. Darüber hinaus möchten wir uns bei Ihnen für Ihr Vertrauen bedanken, das Sie uns mit Ihrer Kaufentscheidung entgegen gebracht haben.

Agenda

15. Oktober 2019

11:30 Uhr

Registrierung & Fingerfood

12:00 Uhr

Begrüßung
Dr. Georg Koschek, ZEISS Microscopy und Joachim Laimmer, Open Grid Europe GmbH (1. Vorsitzender des gmr2)

 

12:15 Uhr

Eisenforschung mit dem Rasterelektronenmikroskop: Ein universelles Instrument für das Verständnis eines universellen Werkstoffes
Dr. Stefan Zaefferer, Max Planck Institut für Eisenforschung

 

13:00 Uhr

Elektronenmikroskopie und FIB Präparation in der nuklearen Entsorgungsforschung
Dr. Martina Klinkenberg, Forschungszentrum Jülich, IEK-6

 

13:30 Uhr

Transmissionselektronenmikroskopie: Von der Mikrostruktur über Defekte bis zu einzelnen Atomen
Dr. Christian Liebscher, Max Planck Institut für Eisenforschung

 

14:00 Uhr

Live Demonstrationen, 30 Min. Rotationen

  • Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
  • In-Situ Nanoindentation im SEM
  • Materialographie
  • Roboter bei der SEM Probenuntersuchung

 

16:00 Uhr

Kaffeepause

 

16:30 Uhr

Struktur und Farben: Photonenmanagement in der Natur
Prof. Dr. Helge Fabritius, Hochschule Hamm-Lippstadt, FG Bionik und Materialentwicklung

 

17:00 Uhr

Wie man mit SEM/FIB Immunzellen beim Fressen zusieht und warum dies zu besseren orthopädischen Prothesen führt
Dr. Mike Hasenberg, Universitätsklinikum Essen, EMU

17:30 Uhr

Mikro und Nano: In-Situ Messmöglichkeiten im Raster-Elektronenmikroskop
Volker Stirba, Kammrath und Weiss GmbH, Dortmund

18:00 Uhr

Abschlusswort

19:00 Uhr

Gemeinsames Abendessen im Chinastar (500 m)

22:00 Uhr

Ende der Veranstaltung

Bei weiteren Fragen kontaktieren Sie bitte workshops .microscopy .de @zeiss .com.

Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH
Max-Planck-Str. 1
40237 Düsseldorf

Technische Universität Dresden

Center for Advancing Electronics Dresden (cfaed) – Dresden Center for Nanoanalysis (DCN)
Helmholtzstraße 18
Barkhausenbau, Raum E65C
01069 Dresden

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