ZEISS User Meeting | Rasterelektronenmikroskopie

Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Düsseldorf

15. Oktober 2019

ZEISS und die Gesellschaft für Materialographie Rhein-Ruhr e.V. (gmr²) laden Sie herzlich ein zum Anwendertreffen „Rasterelektronenmikroskopie“ im Max Planck Institut für Eisenforschung in Düsseldorf am 15. Oktober 2019.

Unsere Anwender-Treffen der Elektronenmikroskopie (EM) haben schon eine lange Tradition. Sie bieten Ihnen die Gelegenheit, andere Nutzer und deren Aufgabenstellungen kennenzulernen. Kommunikation und Erfahrungsaustausch sollen in einem angemessenen und netten Rahmen im Vordergrund stehen. Darüber hinaus möchten wir uns bei Ihnen für Ihr Vertrauen bedanken, das Sie uns mit Ihrer Kaufentscheidung entgegen gebracht haben.

Agenda

15. Oktober 2019
11:30 Uhr	Registrierung & Fingerfood
12:00 Uhr	Begrüßung Dr. Georg Koschek, ZEISS Microscopy und Joachim Laimmer, Open Grid Europe GmbH (1. Vorsitzender des gmr²)
12:15 Uhr	Eisenforschung mit dem Rasterelektronenmikroskop: Ein universelles Instrument für das Verständnis eines universellen Werkstoffes Dr. Stefan Zaefferer, Max Planck Institut für Eisenforschung
13:00 Uhr	Elektronenmikroskopie und FIB Präparation in der nuklearen Entsorgungsforschung Dr. Martina Klinkenberg, Forschungszentrum Jülich, IEK-6
13:30 Uhr	Transmissionselektronenmikroskopie: Von der Mikrostruktur über Defekte bis zu einzelnen Atomen Dr. Christian Liebscher, Max Planck Institut für Eisenforschung
14:00 Uhr	Live Demonstrationen, 30 Min. Rotationen Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) In-Situ Nanoindentation im SEM Materialographie Roboter bei der SEM Probenuntersuchung
16:00 Uhr	Kaffeepause
16:30 Uhr	Struktur und Farben: Photonenmanagement in der Natur Prof. Dr. Helge Fabritius, Hochschule Hamm-Lippstadt, FG Bionik und Materialentwicklung
17:00 Uhr	Wie man mit SEM/FIB Immunzellen beim Fressen zusieht und warum dies zu besseren orthopädischen Prothesen führt Dr. Mike Hasenberg, Universitätsklinikum Essen, EMU
17:30 Uhr	Mikro und Nano: In-Situ Messmöglichkeiten im Raster-Elektronenmikroskop Volker Stirba, Kammrath und Weiss GmbH, Dortmund
18:00 Uhr	Abschlusswort
19:00 Uhr	Gemeinsames Abendessen im Chinastar (500 m)
22:00 Uhr	Ende der Veranstaltung

Bei weiteren Fragen kontaktieren Sie bitte workshops .microscopy .de @zeiss .com.

Das User Meeting ist leider ausgebucht.

Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH
Max-Planck-Str. 1
40237 Düsseldorf

Technische Universität Dresden

Center for Advancing Electronics Dresden (cfaed) – Dresden Center for Nanoanalysis (DCN)
Helmholtzstraße 18
Barkhausenbau, Raum E65C
01069 Dresden

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