Lösungen für die 3D-Charakterisierung von innovativen Materialien

ZEISS Workshop

Institut für Mikrosystemtechnik, IMTEK, Freiburg

10. Juli 2019


Sie suchen effektive Imaging-Lösungen zur Charakterisierung der Eigenschaften und Verhaltensweisen von Materialien?  Dabei ist Ihnen die detaillierte Darstellung von Mikrostrukturen - idealerweise in 3D - für die Entwicklung und Bestätigung von Modellen, die Materialeigenschaften und Verhaltensweisen beschreiben, ebenso wichtig, wie für die Sichtbarmachung struktureller Details?

Dann lernen Sie in unserem ZEISS Workshop in Kooperation mit dem Institut für Mikrosystemtechnik neue Anwendungen und Entwicklungen der analytischen Mikroskopie und Tomographie kennen.

Wir haben ein vielseitiges Programm zusammengestellt und freuen uns auf einen regen Austausch mit Ihnen.

Bitte registrieren Sie sich bis zum 5. Juli 2019.

Agenda

10. Juli 2019

12:00 Uhr

Registrierung

12:30 Uhr

Begrüßung

Pascal Anger, ZEISS 

12:45 Uhr

Optische Tools auf Basis von Dünnfilm-LEDs

Dr. Patrick Ruther, IMTEK

13:15 Uhr

Mikroskopielösungen für die Mikroelektronik

Thomas Rodgers, ZEISS

13:45 Uhr

Kaffeepause

 

14:15 Uhr

Herstellung von porösen SLM-Bauteilen

Emre Özel, IMTEK

14:45 Uhr

3D-Charakterisierung in der Additiven Fertigung

Tobias Volkenandt, ZEISS  

15:15 Uhr

Materialcharakterisierung durch Machine Learning

Andreas Jansche, Matworks

15:45 Uhr

Ende der Veranstaltung

 

Optional: Laborführung

Prof. Dr. Claas Müller, IMTEK

Bie weiteren Fragen kontaktieren Sie bitte workshops .microscopy .de @zeiss .com.

Download Einladung

Institut für Mikrosystemtechnik
IMTEK

Seminarraum SR 02-016/18, Geb. 101
Georges-Köhler-Allee 101-103
79100 Freiburg

IMTEK

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Seminarraum SR 02-016/18, Geb. 101
Georges-Köhler-Allee 101-103

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