Update 16. März 2020

Crossbeam User Meeting in Oberkochen wird verschoben

 

Aufgrund der aktuellen Entwicklungen im Zusammenhang mit dem Coronavirus COVID-19 haben wir uns dazu entschlossen, das für den 21. und 22. April geplante Crossbeam User Meeting in Oberkochen zu verschieben.
Mit der Absage folgen wir den offiziellen Empfehlungen des Robert-Koch-Instituts für Großveranstaltungen.
Wir informieren Sie gerne, sobald wir einen neuen Termin für die Veranstaltung festgelegt haben.

Wir danken Ihnen für Ihr Verständnis.

Ihr ZEISS Microscopy Team

Crossbeam User Meeting

ZEISS Microscopy Customer Center Europe, Oberkochen, 2020

 

Wir möchten Sie zu unserem Crossbeam User Meeting im europäisches ZEISS Microscopy Customer Center (MCCE) in Oberkochen einladen.
Die Crossbeam User Community präsentiert im MCCE Anwendungen und Ergebnisse aus unterschiedlichsten Bereichen der Materialwissenschaften. Im Mittelpunkt des Treffens stehen Networking und Diskussionen neuester Trends.
Informieren Sie sich über ZEISS Innovationen und diskutieren Sie in Live Demos direkt mit Experten über Techniken und Workflows.
ZEISS gibt Ihnen im MCCE Einblick in das vollständige Portfolio der Mikroskopie.

Agenda

1. Tag

11:00 Uhr

Bus-Transfer Bahnhof Aalen Bussteig 8 - ZEISS Oberkochen

11:30 Uhr

Empfang & Mittagessen

12:30 Uhr

Willkommen

12:45 Uhr

Crossbeam 550 bei BMW – verschiedene Applikationen eines multifunktionalen Analysewerkzeugs
Dr. Daniel Braun, BMW Group

13:10 Uhr

Präparation von CIGS-Solarzellen
Dr. Birgit Schröppel oder Maximilian Becker, Naturwissenschaftliches und Medizinisches Institut an der Universität Tübingen (NMI)

13:35 Uhr

Untersuchungen an Dünnschicht-Solarzellen
Dr. Theresa Magorian-Friedlmeier, Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg (ZSW)

14:00 Uhr

Kaffeepause

14:30 Uhr

Neueste ZEISS Entwicklungen in der Ionenmikroskopie
Dr. Fabián Pérez Willard, Solutions Manager Nanoscience & Nanomaterials, ZEISS Microscopy

15:10 Uhr

Kaffeepause

15:30 Uhr

Systemdemonstrationen

17:30 Uhr

Ende Tag 1

19:30 Uhr

Get-Together

2. Tag

9:00 Uhr

Mikrostrukturelle Analyse, 3D Rekonstruktion und Quantifizierung von Kathoden der Lithium-Ionen Batterie mittels FIB/REM Technik
Dr. Jochen Joos, KIT, Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET)

9:25 Uhr

Zusammenhang zwischen der Performanz einer Kathode und ihrem mikrostrukturellen Aufbau - Eine Untersuchung durchgeführt mit der Software GeoDict
Dr. Ilona Glatt, Business Manager Electrochemistry, Math2Market GmbH

9:50 Uhr

Crossbeam FIB-SEM Microscopy in Bio-Nano-Applikationen
Jann Harberts, Institut für Angewandte Physik, Universität Hamburg

10:15 Uhr

Kaffeepause

10:45 Uhr

Eine Probe, zwei Verfahren – Der Workflow Versa – Auriga mittels Atlas
Dr.-Ing. Torsten Heidenblut, Bereichsleiter Analysentechnik, Leibnitz Universität Hannover

11:10 Uhr

Großvolumige Vorpräparation für FIB-SEM Analysis mit fs-Laser
Julian Schurr, Hochschule Aalen

11:35 Uhr

Mittagessen

12:30 Uhr

Systemdemonstrationen

14:45 Uhr

Ende der Veranstaltung

15:00 Uhr

Bus-Transfer zum Bahnhof Aalen (15:25 Uhr)

Live Demostrationen

  • TEM Probenpräparation - ZEISS Crossbeam 550
  • FIB-SEM-Analyse von tief liegenden ROIs und anderen Applikationen - ZEISS Crossbeam 550
  • Fortschritte in der FIB-SEM Tomographie
  • Korrelative Workflows - Röntgenmikroskop/Crossbeam
  • ZEN Module: Connect, Storage, Intellesis
  • Crossbeam Substages: EBIC, ACT, PCS

Bei weiteren Fragen kontaktieren Sie bitte workshops .microscopy .de @zeiss .com.

ZEISS Microscopy Customer Center Europe
Rudolf-Eber-Straße 2
73447 Oberkochen

ZEISS Microscopy Customer Center Europe, Oberkochen

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