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Microscopy Workshop

Light Microscopy

Technische Sauberkeit nach VDA Band 19.1

Optimieren Sie die Beurteilung der Sauberkeit Ihrer Bauteile

Mit der aktualisierten Version VDA Band 19.1 wurden signifikante Neuerungen für die Messverfahren zur technischen Bauteilsauberkeit eingeführt. 

Im Rahmen des Workshops Technische Sauberkeit ziehen wir anderthalb Jahre nach Einführung der VDA Band 19.1. ein erstes Fazit.

HQM besitzt eine langjährige Expertise in qualitätssichernden Dienstleistungen für das Qualitätsmanagement. In Kooperation mit ZEISS Microscopy bietet HQM einen Workshop an und stellt Ihnen in diesem Rahmen die wichtigsten Grundlagen und Neuerungen zur Durchführung und Auswertung der Sauberkeitsanalysen vor.

Anhand von Praxisbeispielen werden Strategien bei typischen Anwendungssituationen erläutert.
Neue mikroskopische Analyseverfahren, wie die korrelative Mikroskopie ermöglichen die effiziente Umsetzung der Forderungen an die weiterführende Analyse. In einem automatisierten Prozess werden die Ergebnisse aus licht- und elektronenmikroskopischer Analyse zusammengeführt und Informationen zur chemischen Natur funktionskritischer Partikel bereit gestellt.

Nach den Fachvorträgen werden Reinigungsverfahren und Analysetechniken an mehreren Arbeitsstationen praktisch vorgeführt.

  • Agenda
    Vorträge | Dienstag | 13. Juni 2017
    10:00 - 10:40 Technische Sauberkeit im Prozess (HQM) | Diskussion 10 min
    10:40 - 11:10 Kaffeepause
    11:10 - 11:50 Aus der Praxis der Bauteilreinigung (HQM) – Ein Fazit zur VDA 19.1 | Diskussion 10 min
    11:50 - 12:30  Möglichkeiten und Grenzen der Standard- und weiterführenden Analyse nach VDA 19.1 | Diskussion 10 min
    12:30 - 13:30 Mittagessen (dabei: Firmenrundgang HQM)
    Praxis | Vorführungen zu Probenanalysen und Bauteilreinigung
    13:30 - 14:00 Rotation Stationen
    14:00 - 14:30 Rotation Stationen
    14:30 - 15:00 Kaffeepause
    15:00 - 15:30 Rotation Stationen
    15:30 - 16:00 Rotation Stationen
    16:00 - Open End Flexible Session
    Flexible Session
    Wir beantworten gerne Fragen zu Spezifikationen und bieten die Möglichkeit zur Bauteilreinigung (bitte handliche Muster!) mit anschließender Analyse Ihrer Filterproben. Weiterhin bietet HQM auf Wunsch einen erweiterten Firmenrundgang an.
    Themenschwerpunkte der Stationen
    Station 1 Bauteilreinigung (HQM)  
    Station 2 Analyse nach VDA Band 19.1 (HQM)  
    Station 3 Standard Analyse nach VDA Band 19.1 (ZEISS)  
    Station 4 Weiterführende Analyse nach VDA Band 19.1 (ZEISS)  
  • Registrierung

    Technische Sauberkeit nach VDA 19.1

    Datum13. Juni 2017
    StatusRegistrierung: Offen
    Anmeldeschluss29. Mai 2017
    OrtHQM Induserv GmbH
    Johann-Esche-Str. 1
    09120 Chemnitz
    • Pflichtangaben
  • Veranstaltungsort

    HQM Induserv GmbH
    Johann-Esche-Str. 1
    09120 Chemnitz

Bei weiteren Fragen wenden Sie sich bitte an:  workshops .microscopy .de @zeiss .com

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