Konfokalmikroskop
ZEISS LSM 900 für Materialien

Das vielseitige konfokale Mikroskop für erweiterte Bildgebung und Oberflächentopografie

ZEISS LSM 900, das konfokale Laser-Scanning-Mikroskop (CLSM) von ZEISS, ist das ideale Instrument für Ihre Materialanalyse: Es ermöglicht Ihnen die Charakterisierung der Oberflächentopografie von 3D-Mikrostrukturen im Labor oder in Mehrbenutzerumgebungen. Nutzen Sie das LSM 900 für präzise dreidimensionale Bildgebung und die Analyse von Nanomaterialien, Metallen, Polymeren und Halbleitern. Erweitern Sie Ihr aufrechtes Lichtmikroskop ZEISS Axio Imager.Z2m oder Ihr inverses Lichtmikroskop Axio Observer 7 mit einem konfokalen Scanning Modul. Kombinieren Sie die wesentlichen lichtmikroskopischen Kontrastverfahren für Materialien mit hochpräziser Topografie. Ohne das Mikroskop wechseln zu müssen, sparen Sie Zeit beim Einrichten. Weiterhin profitieren Sie von der automatisierten Datenerfassung und Nachbearbeitung sowie von berührungsloser konfokaler Bildgebung bei der Bewertung der Oberflächenrauheit.

Laserpolierte Oberfläche einer additiv gefertigten Legierung
Laserpolierte Oberfläche einer additiv gefertigten Legierung
Unterschiedliche Größen von Austenit- und Ferritkörnern in dem Bereich einer Schweißnaht eines Duplex-Edelstahls
Unterschiedliche Größen von Austenit- und Ferritkörnern in dem Bereich einer Schweißnaht eines Duplex-Edelstahls
Materialwissenschaften, Polymere.
Mehrschichtiges System, zwei Schichten eines zusammengesetzten Polymerverbunds
Keramikoberfläche
Keramikoberfläche
Metallprüfung auf Materialverschleiß
Metallprüfung auf Materialverschleiß
Porosität. Sandstein.
Porosität. Sandstein.
Identification of a document with a  security mark to prevent misuse
Diffraktives, optisches Element. Typischerweise eingesetzt als Sicherheitsmerkmal an Dokumenten
Zellverteilung auf einer Metalloberfläche, grau: Titanoberfläche
Zellverteilung auf einer Metalloberfläche, grau: Titanoberfläche

Highlights

Fehleranalyse, Verschleißmessung auf dem Bildschirm eines Mobiltelefons

Kombinieren Sie Lichtmikroskopie und konfokale Bildgebung

LSM 900, die High-End-Plattform für konfokale Bildgebung, wurde für anspruchsvolle Materialanwendungen in 2D und 3D konzipiert.

  • Charakterisieren Sie topographische Strukturen und bewerten Sie die Oberflächenrauheit mit berührungsloser konfokaler Bildgebung
  • Bestimmen Sie zerstörungsfrei die Dicke von Beschichtungen und dünnen Schichten
  • Verwenden Sie eine Reihe von Bildgebungstechniken, einschließlich Polarisation und Fluoreszenz im optischen Kontrast oder im Konfokalmodus
  • Charakterisieren Sie metallographische Proben im Auflicht oder Dünnschliffen aus Gestein oder Polymer im Durchlicht

LSM Acquisition Wizard

Effiziente Untersuchung Ihrer Probe

Reduzieren Sie Ihre Zeit beim Einrichten und beschleunigen so ihre Zeit bis zum Ergebnis, da Sie nur ein einziges Mikroskop sowohl für die Bildgebung als auch für Topographieanalyse verwenden.

  • Optimieren Sie Ihre Prozesse durch automatisierte Datenerfassung an mehreren Stellen Ihrer Probe
  • Definieren Sie einfach eine Region von Interesse (ROI) auf Ihrem Übersichtsbild und nehmen Sie nur den Bereich auf, den Sie benötigen
  • Ihr Vorteil: Sie haben die volle Flexibilität bezüglich Größe und Ausrichtung des ROI mit einem Scanfeld von 6144 x 6144 Pixel
  • Sie haben die volle Kontrolle über Ihre Daten und deren Nachbearbeitung

LSM 900 - Setup

Erweitern Sie Ihren Bildgebungsbereich

Ein Konfokal-System erweitert die Möglichkeiten Ihres Weitfeld-Lichtmikroskops:

  • Erweitern Sie Ihren Axio Imager.Z2m oder Ihren Axio Observer 7 mit dem LSM 900 und nutzen Sie die Vielseitigkeit der Hardware, z.B. Objektive, Probentische und Beleuchtung sowie Software und Schnittstellen.
  • Ergänzen Sie ZEN Intellesis – eine Lösung auf der Basis von Machine Learning zur Bildsegmentierung und Identifizierung von Phasen
  • Mit der Erweiterung ZEN Connect können bei multimodalen Experimenten Bilder aus beliebigen Quellen ganz einfach überlagert und organisiert werden
  • Oder Sie nutzen die intelligente Datenverwaltung mit ZEN Data Storage
  • Erweitern Sie Ihr konfokales Mikroskop mit Shuttle & Find für korrelative Mikroskopie. Damit können Sie innerhalb eines Arbeitsablaufs vom Licht- zum Elektronenmikroskop wechseln – und umgekehrt. Kombinieren Sie effektiv Bildgebung und analytische Methoden. Erhalten Sie reproduzierbar Informationen in der Materialforschung.

Konfokales Prinzip

Untersuchen Sie ihre gesamte Probe in 3D

Das LSM 900 ist ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop. Es verwendet Laserlicht in einem konfokalen Strahlengang, um definierte optische Schnitte Ihrer Probe zu erzeugen und diese in einem dreidimensionalen Bildstapel darzustellen. Seine Öffnung (normalerweise als Pinhole bezeichnet) ist so angeordnet, dass Informationen außerhalb des Fokusbereichs blockiert werden und nur die innerhalb der Fokus-Ebene liegenden Informationen verarbeitet werden.

  • Ein Bild wird durch Scannen in x- und y-Richtung erzeugt. Informationen innerhalb des Fokusbereichs erscheinen hell, während Informationen außerhalb des Fokus dunkel dargestellt werden.
  • Die Probe wird durch Veränderung der Entfernung zwischen Probe und Objektiv in optische Schnitte zerlegt und es wird ein Bildstapel erzeugt.
  • Die Höhe des Objekts wird durch die Analyse der Intensitätsverteilung eines einzelnen Pixels über den gesamten Bildstapel hinweg berechnet. Die Höheninformation über das gesamte Bildfeld werden in einer Höhenkarte zusammengesetzt.

Schema des konfokalen Prinzips.

Objektive

Vertrauen Sie auf C Epiplan-APOCHROMAT Objektive

Die apochromatisch und Bildfeldwölbungskorrigierte Objektivserie C Epiplan-APOCHROMAT für Auflichtanwendungen.

  • Profitieren Sie von erhöhtem Kontrast und der hohen Transmission im sichtbaren Spektralbereich.
  • Sie erzielen optimale Ergebnisse in der konventionellen Weitfeldmikroskopie, im Differentialinterferenzkontrast (DIC) und in der Fluoreszenz.
  • C Epiplan-APOCHROMAT Objektive sind speziell für die Konfokalmikroskopie konzipiert und erreichen minimale Aberrationen bei 405 nm über das gesamte Sehfeld. Sie erhalten mehr Details von Ihrer Probenoberfläche, da präzise Topographie-Daten mit weniger Rauschen und weniger Artefakten erzeugt werden.

 

Sehen Sie den Effekt unterschiedlicher Objektive in der Konfokalmikroskopie
Auf dem linken Bild sind Artefakte an Kanten und Rauschen auf der ebenen Oberfläche deutlich zu erkennen, das rechte Bild zeigt diese Artefakte nicht.

Probe, die mit einem Objektiv ohne Korrektur für 405 nm aufgenommen wurde
Probe, die mit einem Objektiv ohne Korrektur für 405 nm aufgenommen wurde
Probe aufgenommen mit C Epiplan-Apochromat-Objektiv, 3D-Ansicht mit extrahierter Profillinie
Probe aufgenommen mit C Epiplan-Apochromat-Objektiv, 3D-Ansicht mit extrahierter Profillinie

Software

OAD: Ihre Schnittstelle zur ZEN Imaging Software

OAD: Ihre Schnittstelle zur ZEN Imaging Software

ZEISS LSM 900 wird mit der neuesten Version der ZEN Imaging Software geliefert, die mit dem Modul Open Application Development (OAD) eine Schnittstelle für den Datenaustausch beinhaltet.
 
  • Passen Sie Ihre Arbeitsabläufe an und automatisieren Sie sie. Wenn Sie Funktionen benötigen, die über die den grundlegenden Umfang der ZEN-Software hinausgehen, können Sie Ihre Daten mit etablierten Analyse- und Forschungssoftware-Produkten anderer Hersteller, wie beispielsweise MATLAB, austauschen.
  • Erstellen Sie Ihre eigene Makro-Lösung. Genießen Sie die Vorteile des einfachen Zugangs zu wesentlichen ZEN Funktionen und darüber hinaus die Fähigkeit, Bibliotheken zu integrieren, z.B. aus dem .Net Framework.
     
Untersuchen Sie Oberflächen in 3D mit ConfoMap

Untersuchen Sie Oberflächen in 3D mit ConfoMap

ConfoMap ist die ideale Lösung, um die Oberflächentopografie in 3D zu visualisieren und zu prüfen.

  • Bewerten Sie die Qualität und Funktionsfähigkeit von Oberflächen nach den neuesten messtechnischen Normen, z. B. der ISO 25178.
  • Binden Sie umfassende Geometrie-, Funktions- und Rauheitsstudien ein und erstellen Sie detaillierte Berichte zur Oberflächenanalyse.
  • Ergänzen Sie Ihr System mit optionalen Modulen für die erweiterte Oberflächenstrukturanalyse, Konturanalyse, Korn- und Partikelanalyse, 3D-Fourieranalyse, sowie für die Analyse der Oberflächenentwicklung und für Statistiken.

Laser-Konfiguration

Identifizieren Sie Farbpigmente mit unterschiedlichen Anregungswellenlängen.

Wählen Sie einen Laser – abgestimmt auf Ihre individuellen Anforderungen

Sie haben die Wahl zwischen zwei Optionen, um den Anwendungsbereich Ihres Konfokalmikroskops zu erweitern:

Für die Bildgebung mit hoher lateraler Auflösung bis zu 120 nm wählen Sie das Einkanalsystem mit dem Ultraviolettlasermodul (405 nm Wellenlänge). Das entspricht einem Produkt der Laserklasse 2.

Bei Anwendungen wie dem Beobachten von Zellwachstum auf Biomaterialien konfigurieren Sie das LSM 900 mit dem Lasermodul URGB (mit den vier Laserwellenlängen 405, 488, 561 und 640 nm). Die Multi-Anregungswellenlänge ermöglicht es, die Verteilung von fluoreszierenden Komponenten zu erfassen.

Downloads

ZEISS LSM 900 für Materialien

Das vielseitige Konfokalmikroskop für erweiterte Bildgebung und Oberflächentopografie

28 Pages
Filesize: 10,400 kB

Lösungen von ZEISS Microscopy für Stahl und andere Metalle

Multimodale Charakterisierung und erweiterte Analyseoptionen für Industrie und Forschung

22 Pages
Filesize: 5,172 kB

Microscopy in Metal Failure Investigations

Determine the root cause of metal failure and learn about microscopy tool set for any metal failure investigation

8 Pages
Filesize: 4,316 kB

Hotfixes & Servicepacks