ZEISS Smartproof 5 – für die Oberflächenanalyse in Qualitätssicherung und Qualitätskontrolle

ZEISS Smartproof 5

Ihr integriertes Weitfeld-Konfokalmikroskop für die Oberflächenanalyse in Qualitätssicherung und Qualitätskontrolle

  • Einführung

    Das vielseitige ZEISS Smartproof 5 Weitfeld-Konfokalmikroskop ist Ihr integriertes System für die schnelle, präzise und wiederholbare Oberflächenanalyse. Setzen Sie es für eine breite Palette industrieller Anwendungen ein. Dazu gehören alltägliche Aufgaben in Qualitätssicherung- und Qualitätskontrolle, Produktionsumgebungen und Labors für Forschung und Entwicklung, wie beispielsweise die Charakterisierung von Rauheit und Topographie ein.

    Dieses hochwertige Konfokalsystem wird von der leistungsfähigen Software ZEISS Efficient Navigation (ZEN) gesteuert, die Ihnen zusätzliche Vorteile wie maximalen Nutzerkomfort und höhere Produktivität bietet.

  • Highlights

    Verlässliche Ergebnisse

    • Erzielen Sie mit Smartproof 5 schneller Ergebnisse durch die patentierte Weitfeld-Konfokaltechnologie mit Aperturkorrelation. Das System bietet eine perfekte Balance zwischen hoher Auflösung und hoher Geschwindigkeit.
    • Die beste ZEISS Optik und die bewährten Komponenten ermöglichen Ihnen effektives Arbeiten in verschiedensten Anwendungen.
    • Smartproof 5 wird mit ConfoMap geliefert – der ZEISS Version von MountainsMap, dem Goldstandard der Mess-Software.
    • Sie analysieren Ihre Daten mühelos gemäß internationalen Standards und erstellen die entsprechenden Berichte.

    Geführte Arbeitsabläufe

    • Mit seinem bedienungsfreundlichen System und den in der Software verankerten Workflow-Routinen eignet sich Smartproof 5 besonders gut für die Produktions- und Prozessüberwachung.
    • Lehrinspektionsjobs und die am Arbeitsprozess orientierte grafische Benutzeroberfläche (GUI) führen Sie durch wiederkehrende Aufgaben.
    • Smartproof 5 gewährleistet eine nutzerunabhängige Datenaufnahme als Grundlage präziser und wiederholbarer Resultate.

    Integriertes und robustes Design

    • Profitieren Sie von einem vollintegrierten System: Optik, Elektronik und Kamera sind integrale Bestandteile des Mikroskops.
    • Durch seine kompakte und robuste Bauweise ist Smartproof 5 wirkungsvoll gegen Vibrationen geschützt.

  • Bauweise

    Die beste ZEISS Optik

    Das neue ZEISS Objektiv C Epiplan-Apochromat wurde speziell für Weitfeld-Konfokalsysteme entwickelt. Diese Linsen mit einer hohen numerischen Apertur bieten nicht nur die beste Performance im sichtbaren Bereich, sondern auch bei 405 nm, der für die Aufnahme von Weitfeld-Konfokalbildern verwendeten Wellenlänge.
    Die Weitfeld-Konfokaltechnologie von Smartproof 5 bietet im Vergleich zu herkömmlichen Point-Scanning-Konfokalmikroskopen einen höheren Durchsatz. Möglich wird dies durch die Spinning-Disk-Technologie mit Aperturkorrelation, die im Detektormodul von Smartproof 5 integriert ist. Gleichzeitig bleiben die typischen Vorteile von Konfokalmikroskopen für die Oberflächencharakterisierung erhalten. Sie profitieren von einem ausgezeichneten Auflösungsvermögen in Kombination mit hervorragender lateraler Auflösung.

  • Arbeitsabläufe

    Geführte Arbeitsabläufe für präzise Navigation

    Dank der integrierten grafischen ZEN Benutzeroberfläche von Smartproof 5, die einen nahtlosen Arbeitsprozess von der Makro- bis zur Detailebene unterstützt, ist die Orientierung immer einfach. Anhand des Übersichtsbildes können Sie leicht die Messposition definieren. Die aufgenommenen Daten werden zur Verarbeitung und Analyse der 3D-Eigenschaften Ihrer Probe automatisch an die ConfoMap Software übertragen. Ihre Arbeitsprozesse können gespeichert werden, um exakt dieselben mikroskopischen 3D-Analysen immer wieder durchzuführen.

  • Ergebnisse

    Verlässliche Ergebnisse

    Da die Komponenten von Smartproof 5 motorisiert sind, kann die Software den Status der einzelnen Komponenten überwachen. Das bedeutet, dass sich Arbeitsprozesse für repetitive Aufnahmen mühelos einrichten lassen. Mithilfe der leistungsfähigen ConfoMap Software können Sie geometrische Parameter Ihrer Probe analysieren oder Rauheitsanalysen in 2D (Profil) und 3D (Fläche) vornehmen. Letztere basieren auf ISO-Standards.

  • Download

    ZEISS Smartproof 5

    Ihr integriertes Weitfeld-Konfokalmikroskop für die Oberflächenanalyse in Qualitätssicherung und Qualitätskontrolle

    Seiten: 13
    Dateigröße: 5.983 kB

    ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

    Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

    Seiten: 22
    Dateigröße: 12.439 kB

    Hotfixes & Servicepacks

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