FIB-SEM

FIB-SEM

Ihr System für eine unvergleichliche Ionenstrahl-Performance

FIB-SEM

Rasterelektronenmikroskope mit fokussiertem Ionenstrahl oder kurz FIB-SEM von Carl Zeiss verbinden die 3D-Imaging- und Analysefähigkeiten der GEMINI Elektronensäule mit den Fähigkeiten eines FIB für die Materialverarbeitung und Probenpräparation im Nanomaßstab.