Korrelative Analyse im Nanobereich

Maßgeschneiderte Lösungen für die Partikelanalyse

Konfiguriert nach Ihren Bedürfnissen

  • Einführung

    Schnelle chemische und korrelative Analyse im Nanobereich

    Lichtmikroskopiebild

    Lichtmikroskopiebild

    Sie überwachen die technische Sauberkeit Ihrer Komponenten und des Produktionsprozesses. Sie sorgen dafür, dass die mechanischen Komponenten reibungslos funktionieren. Sie achten darauf, dass sich keine Lecks durch Risse bilden, dass Düsen und Filter nicht verstopfen und Pumpen sowie Ventile durchgehend funktionieren.

    Minimieren Sie Ihre Wartungskosten und maximieren Sie Ihre Betriebszeit.

    Elektronenmikroskopisches Bild

    Elektronenmikroskopisches Bild

    ZEISS SmartPI für vollautomatisierte Partikelanalyse im Nanobereich
    Analysieren Sie auf Ihren Filtern mit einem Elektronenmikroskop bis zu 200.000 Partikel und erfahren Sie optional alles, was Sie über die chemische Zusammensetzung des Materials wissen müssen - vollautomatisch mit SmartPI.

    Überlagerung des Licht- und Elektronenmikroskopbildes (inkl. EDX-Analyse)

    Überlagerung des Licht- und Elektronenmikroskopbildes (inkl. EDX-Analyse)

    ZEISS Korrelative Partikelanalyse schnelle Messung und Analyse von bis zu 200 kritischen Partikeln durch Charakterisierung mit Licht- und Elektronenmikroskopie—schnell und äußerst effektiv. Dieses korrelative Partikelanalysesystem für die EDS-Analyse Ihrer Partikel unterstützt ISO 16232 und VDA19.

     

     

  • SmartPI

    SmartPI: Automatisierte Partikelanalyse

    SmartPI ist ein automatisiertes Partikelanalysewerkzeug für Partikelgrößen im Nanometerbereich einschließlich EDS-Analysen der chemischen Zusammensetzung. Selbst am Rand liegende Partikel werden richtig gezählt. EDS und SEM können mit einer Benutzeroberfläche betrieben werden. Dank verschiedener Evaluierungsmethoden, Offline-Analysen und der Ausschließung von Partikeln aus Messungen oder Statistiken können Sie die gewünschten Analyseebenen einstellen und aussagekräftige, gut dokumentierte Berichte erstellen. Rüsten Sie Ihr System auf korrelative Partikelanalytik (CAPA) auf.


    Ihr SmartPI für die automatisierte Partikelanalyse im Nanobereich beinhaltet:

    • Ein Elektronenmikroskop wie EVO, SIGMA, MERLIN, ParticleSCAN, JetSCAN
    • SmartPI Software.

     

    mehr
  • CAPA

    Correlative Particle Analyzer: Schnelle Partikelanalytik

    • Wählen Sie für die chemische Partikelanalyse ein hochauflösendes ZEISS Paket.
    • Erhalten Sie Ihre Ergebnisse bis zu 10 Mal schneller.
    • Klassifizieren Sie reflektierende (d.h. metallische) und nicht reflektierende Partikel nach Größe und identifizieren Sie Fasern in Ihrem Lichtmikroskop.
    • Relokalisieren Sie die Partikel dann in Ihrem Elektronenmikroskop und führen Sie vollautomatische EDS-Analysen durch.
    • Fassen Sie die Ergebnisse der Analysen mit dem Licht- und Elektronenmikroskop zu einem Bericht zusammen.
    • Unterstützt die Normen ISO 16232 und VDA19 für die Partikelanalyse.

    Ihr Correlative Particle Analyzer für die Partikelanalyse beinhaltet:

    • Elektronenmikroskop EVO MA 10
    • Voll motorisiertes Zoom-Mikroskop Axio Zoom.V16
    • Korrelativer Probenhalter
    • AxioVision Correlative Particle Analyzer Software

  • Download

    Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolle

    Erfassen Sie das Wesen Ihres Bauteils: Schnell. Einfach. Übergreifend. >>> PDF für Darstellung am Monitor in geringer Auflösung. Bitte nehmen Sie Kontakt mit uns auf, um eine gedruckte Version zu bestellen.

    Seiten: 41
    Dateigröße: 5.601 kB

    Particle Analyzer

    Analysieren Sie kleinste Partikel: Genau und reproduzierbar

    Seiten: 19
    Dateigröße: 5.610 kB

    Korrelative Partikelanalyse

    Sparen Sie Zeit: Charakterisieren und klassifizieren Sie Partikel nach ISO 16232 mit Licht- und Elektronenmikroskopie

    Seiten: 17
    Dateigröße: 2.901 kB

    Filterleitfaden Licht- und Elektronenmikroskopie

    Download (4,89 MB)