Herausragend sauber

Partikelanalyse-Systeme für die Technische Sauberkeit

Die Funktion und Lebensdauer Ihrer Produkte stehen in direktem Zusammenhang mit dem Grad der Verunreinigung durch Partikel während des Produktionsprozesses. Um höchsten Qualitätsansprüchen zu genügen, sind erweiterte Sauberkeitsanalysen deshalb unverzichtbar. Die mit ZEISS Lösungen für Technische Sauberkeit gewonnenen Partikelanalysedaten helfen Ihnen, die Qualität des Produktionsprozesses zu verbessern und dauerhaft zu sichern.

Korrelative Partikelanalyse aus einer Hand

Profitieren Sie von einem breiten Lösungs-portfolio für die umfassendste Partikel-Charakterisierung: von Form und Größe bis zur chemischen Zusammensetzung, vom Mikro- bis zum Nanomaßstab.
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Technische Sauberkeit gemäß etablierten Industrienormen

Erfüllen Sie die Anforderungen von Industrie-standards wie VDA 19.1 oder ISO 16232. Etablieren Sie automatisierte Abläufe für reproduzierbare Partikelanalysedaten.
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Neueste Technologie dank attraktiver Leasing-Optionen

Erhalten Sie modernste Sauberkeitslösungen inkl. Hardware, Software und Service. Überwinden Sie Budget-Beschränkungen mit unseren kostengünstigen Leasing-Programmen.
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Gründliche Analyse von Partikeln zum Erfüllen strengster Qualitätskriterien

Das ZEISS Lösungsportfolio für tiefgreifende Partikelanalyse und Sauberkeitsprüfung enthält:

  • Lichtmikroskopische Systeme: Bestimmen Sie das potenzielle Verschmutzungsrisiko. Klassifizieren Sie Partikel nach Anzahl, Größe, Verteilung und Form. Unterscheiden Sie metallische und nichtmetallische Partikel sowie Fasern bei Partikelgrößen bis zu ≥2 µm.
  • Elektronenmikroskope mit EDS-Systemen: Ermitteln Sie die Kontaminationsquelle. Charakterisieren Sie die Morphologie von Partikeln im Submikrometerbereich. Führen Sie vollautomatische Analysen zur Klassifizierung von Partikeln nach ihrer chemischen Zusammensetzung durch.
  • Korrelative Partikelanalyse: Etablieren Sie erweiterte Analyse-Workflows.
    Charakterisieren Sie prozesskritische Partikel, und identifizieren Sie “Killer-Partikel” mit Hilfe von CAPA (Correlative Automated Particle Analysis), der Lösung zum Zusammenführen von licht- und elektronenmikroskopischen Analysedaten in einem einheitlichen Arbeitsgang.

Zugeschnitten auf industrielle Anforderungen

ZEISS Lösungen für Technische Sauberkeit werden in enger Zusammenarbeit mit Unternehmen der Automobilindustrie entwickelt, die einen konkreten Bedarf an leistungsfähigen und benutzerfreundlichen Systemen für die Identifizierung und Klassifizierung von Partikeln haben. Dabei werden nicht nur aktuelle Anforderungen an technische Sauberkeitsanalysen, sondern auch Aspekte der Nutzerfreundlichkeit für typische industrielle Umgebungen berücksichtigt. Schließlich ist nicht jeder Bediener ein Mikroskopie-Experte, und die Lösungen müssen häufig an mehreren Standorten weltweit einheitlich bereitgestellt werden.


ZEISS Lösungen für die Partikelanalyse erfüllen folgende Normen und Standards:

  • ISO 16232
  • VDA 19.1

Verbesserte Technische Sauberkeit dank attraktiver Leasing-Konditionen

Das Leasing von Ausrüstung ist ein guter Weg, um von neuesten Technologien zu profitieren, ohne dass zuvor ein Investitionsaufwand entsteht. Wählen Sie die gewünschte Partikelanalyse-Lösung, und erhalten Sie Hardware, Software und Zubehör sowie weltweiten Support und Service von ZEISS.


Die Vorteile von ZEISS Full-Service-Leasing:

  • Vorhersehbare Betriebsausgaben
  • Keine Vorabkosten und keine Kapitalbindung für die Anschaffung des Systems
  • Keine versteckten Kosten: Ihre feste monatliche Zahlung beinhaltet einen ZEISS Full-Service-Vertrag für vorbeugende und korrektive Instandhaltung, Arbeitszeit und Bereitstellung von Ersatzteilen.
  • Kein finanzielles Risiko: ZEISS trägt die Verantwortung für die Abschreibung und den Wiederverkaufswert des Systems

ZEISS Partikelanalyse-Systeme

Lichtmikroskopische Systeme

SteREO Discovery.V8

Für Partikel bis ≥20 µm

Identifizieren Sie Fasern sowie metallische und nichtmetallische Partikel mit diesem kostengünstigen System für Standard-Sauberkeitsanwendungen.

Axio Zoom.V16

Für Partikel bis ≥5 µm

Mit diesem vollautomatisierten digitalen Zoom-Mikroskop scannen Sie schnell große Bereiche und führen erweiterte Analysen präzise und reproduzierbar durch.

Axio Imager 2

Für Partikel bis ≥2 µm

Erfüllen Sie die Anforderungen an Analysen in Hochauflösung mit diesem automatisierten Mikroskop für schnelle und präzise Messungen von Länge, Breite und Höhe von Partikeln.

Particle Analyzer

Software für Lichtmikroskope

Automatisieren Sie die Analyse von Partikeln nach Quantität, Größe, Verteilung, Form und Typ. ISO 16232, VDA 19 sowie firmeneigene Standards werden unterstützt.

REM/EDS-Systeme und korrelative Lösungen

EVO

Konventionelles REM

Nutzen Sie dieses REM/EDS-System für Partikelanalyse-Routineanwendungen. Mit Optionen für variablen Druck (VP) ermöglicht EVO die Analyse von nichtleitenden Proben.

Sigma 300

Field Emission SEM

Mit Sigma 300 führen Sie hochauflösende Analysen im Nanometer-Bereich aus. Das System ist besonders für chemische Elementanalysen von magnetischen Proben geeignet.

SmartPI

Software für REM/EDS-Systeme

Mit SmartPI automatisieren Sie die Erkennung, Analyse und Klassifizierung von Partikeln. Gerätesteuerung, Bildverarbeitung und Elementanalyse sind dabei in einem System vereint.

CAPA

Korrelative Partikelanalyse

Gewinnen Sie tiefere Einblicke mit der ZEISS Lösung für korrelative Partikelanalyse, die licht- und elektronenmikroskopische Analysedaten in einem einheitlichen Workflow zusammenführt.

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