Um Nanopartikel und Nanomaterialien wie Graphen mit einem Lichtmikroskop zu erkennen, verwendeten Forscher den hochwertigen Polarisationslichtkontrast des ZEISS Axio Imager und kombinierten ihn mit dem Totalinterferenzkontrast-Modul (TIC) von ZEISS, das eine exakte Detektion von Nanomaterialien erlaubt. Im nächsten Schritt unterstützte die korrelative Mikroskopie das Wiederauffinden von Graphenflakes im ZEISS FE-REM für die Untersuchung von Struktur und chemischer Zusammensetzung. Da leichte Elemente wie Kohlenstoff und damit verbundene Funktionsgruppen nicht durch EDX quantifiziert werden können, nutzten Forscher die In-situ-Raman-Mikroskopie (RISE) von ZEISS, um ein Verständnis für die Qualität der Graphenflakes zu entwickeln.