ZEISS Correlative Research for Structural and Chemical Analysis of Nanoparticles

Korrelative Forschung zur strukturellen und chemischen Analyse von Nanopartikeln

Quantitative Analyse von Materialien im Nanometerbereich bei hoher Auflösung

Highlights

  • Visualisieren Sie Nanopartikel und Nanomaterialien.
  • Sehen Sie strukturelle Informationen zu Nanomaterialien.
  • Quantifizieren Sie leichte Elemente und Funktionsgruppen.

Um Nanopartikel und Nanomaterialien wie Graphen mit einem Lichtmikroskop zu erkennen, verwendeten Forscher den hochwertigen Polarisationslichtkontrast des ZEISS Axio Imager und kombinierten ihn mit dem Totalinterferenzkontrast-Modul (TIC) von ZEISS, das eine exakte Detektion von Nanomaterialien erlaubt. Im nächsten Schritt unterstützte die korrelative Mikroskopie das Wiederauffinden von Graphenflakes im ZEISS FE-REM für die Untersuchung von Struktur und chemischer Zusammensetzung. Da leichte Elemente wie Kohlenstoff und damit verbundene Funktionsgruppen nicht durch EDX quantifiziert werden können, nutzten Forscher die In-situ-Raman-Mikroskopie (RISE) von ZEISS, um ein Verständnis für die Qualität der Graphenflakes zu entwickeln.

Strukturelle und chemische Analysen von Nanopartikeln, Erkennung von Flakes auf großem Wafer mit Lichtmikroskop und Polarisationslicht – Copyright: Tim Schubert, Hochschule Aalen, Institut für Materialforschung

Erkennung von Flakes auf großem Wafer mit Polarisationslicht.

Struktur, Rissprüfung im EM mit Inlensdetektor – Copyright: Tim Schubert, Hochschule Aalen, Institut für Materialforschung

Struktur, Rissprüfung im Elektronenmikroskop mit Inlensdetektor.

In-situ-Raman-Spektroskopie mit FE-REM; Identifizierung von Schichten, Funktionsgruppen – Copyright: Tim Schubert, Hochschule Aalen, Institut für Materialforschung

Identifizierung von Schichten und Funktionsgruppen.

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