Service & Support

ZEISS AI Sample Finder

Verkürzen Sie die Zeit bis zur Ihrem Experiment von Minuten auf wenige Sekunden

Mikroskope werden immer stärker automatisiert. Dennoch benötigen das Platzieren der Probe, das Einstellen des Fokus und das Erkennen relevanter Probenbereiche häufig noch manuelle Arbeitsschritte.

ZEISS AI Sample Finder automatisiert alle diese Arbeitsschritte:

  • Ausrichtung der Probe 
  • Aufnahme eines Übersichtsbilds
  • Erkennung des Probenträgers
  • Detektion relevanter Probenbereiche
  • Fokuseinstellung für alle Regionen von Interesse

Nach nur wenigen Sekunden sind alle Probenbereiche direkt zugänglich. So können Sie Ihr Experiment ohne Verzögerung starten. So funktioniert's:

 
ZEISS AI Sample Finder - Step 1

1 | Nachdem Sie die Probe in die Ladeposition gelegt haben, bewegt der AI Sample Finder diese automatisch zum Objektiv.

ZEISS AI Sample Finder - Step 2

2 | Der Fokus wird automatisch eingestellt und innerhalb von Sekunden wird ein Übersichtsbild erstellt, anhand dessen schnell und effizient navigiert werden kann. Die Composite-Dunkelfeldbeleuchtung erzeugt äußerst kontrastreiche Bilder selbst bei Proben mit sehr niedrigem Ausgangskontrast.

ZEISS AI Sample Finder - Step 3

3 | Intelligente Routinen erkennen die Probe automatisch, egal ob es sich um eine Petrischale, einen Kammerobjektträger oder eine Multiwellplatte handelt. Die Trägereigenschaften werden automatisch an die Software übertragen, Sie müssen nichts mehr manuell einstellen (Bild mit freundlicher Genehmigung von M. Schmidt, Institut für Anatomie, Medizinische Fakultät Carl Gustav Carus, Deutschland).

ZEISS AI Sample Finder - Step 4

4 | Ihre Proben werden zuverlässig erfasst – Deep Learning-Algorithmen sorgen für eine präzise Erkennung auch ungewöhnlicher Probenregionen. Sie können ohne Umschweife zu allen Probenbereichen navigieren und auf diese zugreifen, wodurch Sie Ihr Experiment schneller beginnen können als je zuvor.

1 | Nachdem Sie die Probe in die Ladeposition gelegt haben, bewegt der AI Sample Finder diese automatisch zum Objektiv.

2 | Der Fokus wird automatisch eingestellt und innerhalb von Sekunden wird ein Übersichtsbild erstellt, anhand dessen schnell und effizient navigiert werden kann. Die Composite-Dunkelfeldbeleuchtung erzeugt äußerst kontrastreiche Bilder selbst bei Proben mit sehr niedrigem Ausgangskontrast.

3 | Intelligente Routinen erkennen die Probe automatisch, egal ob es sich um eine Petrischale, einen Kammerobjektträger oder eine Multiwellplatte handelt. Die Trägereigenschaften werden automatisch an die Software übertragen, Sie müssen nichts mehr manuell einstellen (Bild mit freundlicher Genehmigung von M. Schmidt, Institut für Anatomie, Medizinische Fakultät Carl Gustav Carus, Deutschland).

4 | Ihre Proben werden zuverlässig erfasst – Deep Learning-Algorithmen sorgen für eine präzise Erkennung auch ungewöhnlicher Probenregionen. Sie können ohne Umschweife zu allen Probenbereichen navigieren und auf diese zugreifen, wodurch Sie Ihr Experiment schneller beginnen können als je zuvor.

AI Sample Finder ist Bestandteil der Mikroskop-Plattform ZEISS Axio Observer. Sie können Ihren vorhandenen Axio Observer über ein Upgrade aufrüsten. Wenn Sie weitere Informationen zum Upgrade oder zur Plattform erhalten möchten, kontaktieren Sie uns gerne über das nachfolgende Kontaktformular.

Alle Ihre Proben auf einen Blick – schnellere Mikroskopie-Workflows

Ein gutes Übersichtsbild ist die Grundlage einer detaillierten Analyse. Mit AI Sample Finder können Sie die gesamte Probe besonders schnell und unkompliziert anzeigen lassen. Vergessen Sie Probleme bei der Zuordnung von Experimenten nach der Bildaufnahme: Sie wissen immer, in welchem Bereich der Probe das jeweilige Experiment durchgeführt wurde und wie die Umgebung aussah. Und mit ZEN Connect lassen sich Ihre Daten in einem größeren Kontext darstellen, z. B. indem Sie unterschiedliche Imaging-Modalitäten kombinieren.

ZEISS AI Sample Finder - Übersichtsbild
Das Übersichtsbild, das der AI Sample Finder zur Verfügung stellt, eignet sich hervorragend zur Navigation und Orientierung.
ZEISS AI Sample Finder - Fluoreszenz
Fluoreszenz
ZEISS AI Sample Finder - Darkfield Composite Contrast
Composite-Dunkelfeldkontrast
ZEISS AI Sample Finder - Coherence Contrast
Kontrast im Coherence-Modus
ZEISS AI Sample Finder - Combination of Fluorescence and Coherence Contrast
Kombination aus Fluoreszenz und Coherence-Kontrast

Kontaktieren Sie uns

Nehmen Sie Kontakt zu einem unserer Spezialisten für ZEISS Axio Observer auf und sprechen Sie mit uns über die Eignung und Konfiguration für Ihre Applikationen, Preise oder einen Termin für eine Produktvorführung. Wir freuen uns über Ihre Nachricht.

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