ZEISS AI Sample Finder

ZEISS AI Sample Finder automatisiert alle diese Arbeitsschritte:

Ausrichtung der Probe
Aufnahme eines Übersichtsbilds
Erkennung des Probenträgers
Detektion relevanter Probenbereiche
Fokuseinstellung für alle Regionen von Interesse

Nach nur wenigen Sekunden sind alle Probenbereiche direkt zugänglich. So können Sie Ihr Experiment ohne Verzögerung starten. So funktioniert's:

1 | Nachdem Sie die Probe in die Ladeposition gelegt haben, bewegt der AI Sample Finder diese automatisch zum Objektiv.

2 | Der Fokus wird automatisch eingestellt und innerhalb von Sekunden wird ein Übersichtsbild erstellt, anhand dessen schnell und effizient navigiert werden kann. Die Composite-Dunkelfeldbeleuchtung erzeugt äußerst kontrastreiche Bilder selbst bei Proben mit sehr niedrigem Ausgangskontrast.

3 | Intelligente Routinen erkennen die Probe automatisch, egal ob es sich um eine Petrischale, einen Kammerobjektträger oder eine Multiwellplatte handelt. Die Trägereigenschaften werden automatisch an die Software übertragen, Sie müssen nichts mehr manuell einstellen (Bild mit freundlicher Genehmigung von M. Schmidt, Institut für Anatomie, Medizinische Fakultät Carl Gustav Carus, Deutschland).

4 | Ihre Proben werden zuverlässig erfasst – Deep Learning-Algorithmen sorgen für eine präzise Erkennung auch ungewöhnlicher Probenregionen. Sie können ohne Umschweife zu allen Probenbereichen navigieren und auf diese zugreifen, wodurch Sie Ihr Experiment schneller beginnen können als je zuvor.

1 | Nachdem Sie die Probe in die Ladeposition gelegt haben, bewegt der AI Sample Finder diese automatisch zum Objektiv.

2 | Der Fokus wird automatisch eingestellt und innerhalb von Sekunden wird ein Übersichtsbild erstellt, anhand dessen schnell und effizient navigiert werden kann. Die Composite-Dunkelfeldbeleuchtung erzeugt äußerst kontrastreiche Bilder selbst bei Proben mit sehr niedrigem Ausgangskontrast.

3 | Intelligente Routinen erkennen die Probe automatisch, egal ob es sich um eine Petrischale, einen Kammerobjektträger oder eine Multiwellplatte handelt. Die Trägereigenschaften werden automatisch an die Software übertragen, Sie müssen nichts mehr manuell einstellen (Bild mit freundlicher Genehmigung von M. Schmidt, Institut für Anatomie, Medizinische Fakultät Carl Gustav Carus, Deutschland).

4 | Ihre Proben werden zuverlässig erfasst – Deep Learning-Algorithmen sorgen für eine präzise Erkennung auch ungewöhnlicher Probenregionen. Sie können ohne Umschweife zu allen Probenbereichen navigieren und auf diese zugreifen, wodurch Sie Ihr Experiment schneller beginnen können als je zuvor.

AI Sample Finder ist Bestandteil der Mikroskop-Plattform ZEISS Axio Observer. Sie können Ihren vorhandenen Axio Observer über ein Upgrade aufrüsten. Wenn Sie weitere Informationen zum Upgrade oder zur Plattform erhalten möchten, kontaktieren Sie uns gerne über das nachfolgende Kontaktformular.

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ZEISS AI Sample Finder

Verkürzen Sie die Zeit bis zur Ihrem Experiment von Minuten auf wenige Sekunden

Alle Ihre Proben auf einen Blick – schnellere Mikroskopie-Workflows