Atlas 5 – Ihr leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software

ZEISS Atlas 5 – Ihr leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software

Meistern Sie Ihre multi-dimensionale Herausforderung

  • Einleitung

    Nehmen Sie Elektronenmikroskopbilder einfacher als jemals zuvor auf.

    Korrelieren Sie Bilder aus verschiedenen Größenbereichen.

    Mit Atlas 5 erstellen Sie multi-dimensionale Bilder. Atlas 5 ist ihr leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software, das Ihr ZEISS Rasterelektronenmikroskop (REM) und Ihr ZEISS Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (kurz FIB-REM) ergänzt. Nutzen Sie die effiziente Navigation und Korrelation von Bildern aus jeder Quelle, z.B. aus Licht- oder Röntgenmikroskopie. Profitieren Sie von hohem Durchsatz und automatisierter Bildgebung für große Bildflächen. Einzigartige Workflows helfen Ihnen, ein tiefes Verständnis für Ihre Proben zu erlangen. Passen Sie Atlas 5 mit Hilfe seiner Module an die täglichen Anforderungen Ihrer Forschungsarbeiten an.

     

  • Highlights
    Einfach zu bedienende, workflow-orientierte Nutzeroberfläche für automatisierte Bildgebung.

    Einfach zu bedienende, workflow-orientierte Nutzeroberfläche für automatisierte Bildgebung.

    Nehmen Sie Elektronenmikroskopbilder einfacher und schneller auf als jemals zuvor

    • Nehmen Sie große Datensätze von 2D oder 3D elektronenmikroskopischen Bildern automatisiert im Nanometermaßstab auf – über Stunden oder Tage.
    • Nehmen Sie Einzelbilder von tausenden Proben auf, fügen Sie große Bildfelder durch Bildmosaike aus tausenden, benachbarter Einzelbildern zusammen.
    • Mit Atlas 5 optimieren Sie die automatisierte Bildaufnahme: Sie erzeugen konsistente und reproduzierbare Ergebnisse mit vordefinierten und anpassbaren Aufnahmeprotokollen.
       
    Licht- und rasterelektronenmikroskopische Bilder eines integrierten Schaltkreises, mit Atlas 5 korreliert.

    Licht- und rasterelektronenmikroskopische Bilder eines integrierten Schaltkreises, mit Atlas 5 korreliert.

    Korrelieren Sie Bilder von verschiedenen Systemen

    • Bringen Sie Bilder von unterschiedlichen Systemen zusammen. Die korrelative Benutzeroberfläche von Atlas 5 macht es einfach. Zoomen Sie aus der makroskopischen Übersicht über Ihre Probe bis hinein in Details im Nanometerbereich.
    • Atlas 5 ist Ihr Daten-Hub für Bilder aus einem REM, FIB-REM, Röntgen- oder Lichtmikroskop oder eines anderen optischen Bildes, z.B. aus Ihrer digitalen Kamera.
    • Konstruieren Sie ein nahtloses, multi-modales, multi-skaliertes Bild Ihrer Probe.
    3D Visualisierung von Pflanzengewebe.

    3D Visualisierung von Pflanzengewebe. Probe: mit freundlicher Genehmigung von J. Sherrier, J. Caplan, S. Modla, University of Delaware, USA.

    Verstehen Sie Ihre Probe mit Hilfe einzigartiger Workflows

    • Verstehen Sie Ihre Probe in ihrer Gesamtheit, in 2D und 3D mit Hilfe der graphischen Nutzeroberfläche von Atlas 5.
    • Erstellen Sie einen auf Ihre Aufgabenstellung zugeschnittenen Workflow, gleichgültig ob es sich dabei um eine einfache Aufgabe oder um ein komplex aufgesetztes Experiment handelt.
    • Ein klarer Workflow führt Sie vom Setup für automatisierte Bildaufnahme über die Nachbearbeitung und Analyse - bis zum individuellen Export Ihrer Bilder.
  • Technologie

    Erstellen Sie große Mosaikbilder

    Atlas kombiniert einen 16-Bit-Abtastgenerator und duale Super-Sampling Signalerfassungshardware mit Bildverarbeitungs- und Steuerungssoftware für Ihr ZEISS Elektronenmikroskop. Erstellen Sie Bilder mit einer Größe von 32.000 x 32.000 Pixeln mit Verweilzeiten von 100 ns bis > 100 s, die in 100 ns-Schritten erhöht werden können. Speichern Sie Ihre Bilder mit acht oder sechzehn Intensitätsbits.

    Atlas 5 bietet:

    • eine geringere Zahl der zu erfassenden Bildausschnitte und damit verbunden eine verringerte Berechnungskomplexität sowie Geschwindigkeit
    • eine verringerte Zahl von "Überlappungsrändern": Sie profitieren von minimierter Strahlenschädigung für Ihre Probe und gewinnen Bildqualität

    Nehmen Sie Elektronenmikroskopbilder einfacher als jemals zuvor auf

    • Definieren Sie Regions of Interest (ROI) und rastern Sie ausschließlich die interessierenden Bereiche mit vordefinierten Aufnahmeprotokollen ab. Profitieren Sie von reproduzierbaren Ergebnissen durch das Erstellen von Protokollen mit idealen Aufnahmebedingungen.
    • Halten Sie den Fokus durch Auto-Fokus- und Auto-Astigmatismus-Korrekturen während Langzeitexperimenten stabil.
    • Bilden Sie Ihre Probe ab, wann oder wo Sie dies benötigen: Atlas 5 ermöglicht multiple Aufnahme-Sitzungen an unterschiedlichen Instrumenten.
    • Korrelieren Sie Bilder– bringen Sie 2D Bilder und 3D Volumendatensätze aus verschiedenen Instrumenten zusammen.
    • Importieren Sie Daten aus Licht-, Röntgen-, Elektronen- und Fokussierten Ionenstrahl-Elektronenmikroskopen und richten Sie diese gegeneinander aus, um ein Gesamtbild Ihrer Probe zu erzeugen.

    Korrelieren Sie Röntgenmikroskopie und FIB-REM, um Ihre unterhalb der Probenoberfläche liegenden Stellen anzusteuern

    • Korrelieren Sie 3D Röntgenmikroskopie-Volumendatensätze aus Ihrem ZEISS Röntgenmikroskop mit Oberflächenmerkmalen, die in Ihrem FIB-REM zu erkennen sind.
    • Nutzen Sie die Röntgenmikroskop-Daten, um die tiefliegenden Stellen virtuell zu lokalisieren und präzise mit dem FIB-REM anzusteuern.
    • Steuern Sie die Regionen anschließend mit Ihrem ZEISS FIB-REM an.
  • Module

    ZEISS Atlas 5 bietet Ihnen eine Vielfalt an Modulen

    Lernen Sie die Module von ZEISS Atlas 5, ihre Funktionen und Konfigurationsmöglichkeiten kennen. Erweitern Sie die Funktionen Ihres ZEISS SEM und FIB-SEM optional mit Atlas 5. Profitieren Sie von erweiterten Funktionen der zusätzlichen Module und erfahren Sie, wie sie kombiniert werden.
    Alle Atlas 5 Module erfordern Atlas 5. Für das optionale Analytics Modul ist das Hardware- und Softwarepaket von ZEISS Oxford Instruments notwendig. Das Analytics Modul für FIB-SEM erfordert das Modul 3D Tomography von Atlas 5.

    Atlas 5

    Ihre Vorteile mit Atlas 5:

    • Workflow-orientierte Erfassungsplattform für hohen Durchsatz
    • Zusammenführung von Bildern mehrerer Instrumente, Detektoren und Sitzungen in einer korrelativen Arbeitsumgebung
    • Import mehrerer Bilder in verschiedenen Dateitypen möglich: BMP, JPG, TIF, CZI, TXM
    • flexible, geschichtete Anordnung von Bildern
    • protokollbasierte, automatisierte 2D-Erfassung
    • große Bildfelder bis zu 32.000 × 32.000 Bildpunkte, 100 ns Verweilzeit pro Pixel, 8 bit/16 bit, 2 Kanäle
    • xROI-Imaging (exakte Regions of Interest)
    • manuelles Stitching von 2D-Bildmosaiken
    • erweiterte Bildkorrektur (Gradientkorrektur, Radialkorrektur, Korrektur pro Aufnahmekanal)
    • erweitertes automatisches Stitching
    • Einzelbildzusammenführung
    • Export als Movie
    • Export in den browserbasierten Viewer für webbasierten Datenaustausch
    • Optimierung der Aufnahmeprotokolle
    • Export von Daten aus mehreren Kanälen pro Kanal oder als Überblendung
    • integrierte Bildprüfung in einem geführten Prüfungs-Workflow
    • effiziente Prüfung der erfassten 2D-SEM-Daten und automatisierte Neuerfassung problematischer Bilder

    Array Tomography

    Die folgenden Werkzeuge stehen für die Einrichtung von Array Tomography zur Verfügung:

    • Clone-Werkzeug zur Schnittfestlegung
    • Snap-Section-Werkzeug für die automatisierte Schnittfestlegung
    • Site-Management-Funktionen für die effiziente Festlegung von Unterbereichen der Schnitte
    • Bildstapel-Viewer und -Exportfunktionen

    3D Tomography

    Sie führen die dreidimensionale Tomografie mit folgenden Funktionen durch:

    • 3D-FIB-SEM-Tomografie mit automatisierter Probenpräparation
    • exakte Regions of Interest (xROI)
    • (xROI) Volumenbildgebung
    • erweitertes Probentracking
    • adaptive Schnittdickenkontrolle
    • vorausberechnende Driftkorrektur und ‐ausgleich
    • Bildstapel-Viewer mit FIB-SEM-Stapelausrichtung
    • Randkorrektur und Bildstapelexport

    Analytics

    Führen Sie 3D-Analysen mit einem Modul der Softwareoberfläche durch, die Sie ohnehin bereits verwenden:

    • Fügen Sie 3D-EDX-/3D-EBSD-Analysen zu Ihrer hochauflösenden FIB-SEM-Tomografie hinzu
    • Definieren Sie Imaging- und Mapping-Bedingungen unabhängig voneinander, einschließlich Landeenergie, Verweilzeit und räumlicher Auflösung in allen drei Dimensionen
    • Nutzen Sie die erweiterte Erfassungs-Engine, um während der Aufnahme automatisch zwischen den Analyse- und Imaging-Bedingungen umzuschalten.
    • Die flexible Visualisierung erlaubt ein gleichzeitiges Betrachten der SEM-Bilder und das Bearbeiten der Elementverteilungsbilder
    • Binden Sie 2D EDS Mappings in Ihren Arbeitsablauf am FE-SEM ein
    • Wählen Sie Regions of Interest (ROI) für 2D EDX Mappings und erfassen Sie automatisch mehrere ROIs

    NPVE Advanced (Advanced Nanopatterning & Visualization Engine)

    Erweiterte Kontrolle über die Patterning-Geometrie und -Parameter mit NPVE:

    • Simultane Strahlkontrolle mit voller Unterstützung der Patterning- und Imaging-Abläufe für Ionen- und Elektronenstrahlen.
    • Vordefinierte Rezepte zur intelligenten Steuerung der Strahl- und GIS-Parameter für eine konsistente Bearbeitung und Depositionskontrolle bei verschiedensten Bedingungen.
    • Definieren Sie Werkzeuge für die Einrichtung des Systems, zur Erstellung von 3D-Profilen und Array-Erstellung, um Ihre Experimente zu optimieren.
    • Mit dem Fastmill-Modus, einer speziellen Scanning-Strategie zur schnelleren und effizienteren Erstellung von FIB-Querschnitten, sparen Sie bis zu 40 % Bearbeitungszeit.

  • Download

    ZEISS Atlas 5

    Master Your Multi-scale Challenge

    Seiten: 25
    Dateigröße: 8.741 kB

    ZEISS Atlas 5 Array Tomography

    Image Your Serial Sections Fast and Efficiently – with Nanoresolution

    Seiten: 13
    Dateigröße: 4.289 kB

    White Paper: Correlative XRM-FIB/SEM

    Study of Thermoelectric Materials

    Seiten: 4
    Dateigröße: 1.068 kB

    White Paper: ZEISS Atlas 5

    Large Area Imaging with High Throughput

    Seiten: 6
    Dateigröße: 4.056 kB

    White Paper: ZEISS Atlas 5

    Characterization of Solid Oxide Electrolysis Cells by Advanced FIB-SEM Tomography

    Seiten: 7
    Dateigröße: 1.441 kB

    Application Note: Multi-scale Correlative Study

    Corrosion Evolution in a Magnesium Alloy

    Seiten: 8
    Dateigröße: 3.681 kB

    Application Note: Multi-scale Characterization of Lithium Ion Battery Cathode Material

    Correlative X-ray and FIB-SEM Microscopy

    Seiten: 6
    Dateigröße: 1.422 kB

    Aplication Note: ZEISS Correlative Microscopy

    Investigating Structure-property Relationships in a Carbon-fiber Composite

    Seiten: 8
    Dateigröße: 4.026 kB

Wir verwenden Cookies auf dieser Website. Cookies sind kleine Textdateien, die von Websites auf Ihrem Computer gespeichert werden. Cookies sind weit verbreitet und helfen Seiten optimiert darzustellen und zu verbessern. Durch die Nutzung unserer Seiten erklären Sie sich damit einverstanden. mehr