Atlas 5 – Ihr leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software

ZEISS Atlas 5 – Ihr leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software

Meistern Sie Ihre multi-dimensionale Herausforderung

  • Einleitung

    Nehmen Sie Elektronenmikroskopbilder einfacher als jemals zuvor auf.

    Korrelieren Sie Bilder aus verschiedenen Größenbereichen.

    Mit Atlas 5 erstellen Sie multi-dimensionale Bilder. Atlas 5 ist ihr leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software, das Ihr ZEISS Rasterelektronenmikroskop (REM) und Ihr ZEISS Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (kurz FIB-REM) ergänzt. Nutzen Sie die effiziente Navigation und Korrelation von Bildern aus jeder Quelle, z.B. aus Licht- oder Röntgenmikroskopie. Profitieren Sie von hohem Durchsatz und automatisierter Bildgebung für große Bildflächen. Einzigartige Workflows helfen Ihnen, ein tiefes Verständnis für Ihre Proben zu erlangen. Passen Sie Atlas 5 mit Hilfe seiner Module an die täglichen Anforderungen Ihrer Forschungsarbeiten an.

     

  • Highlights
    Einfach zu bedienende, workflow-orientierte Nutzeroberfläche für automatisierte Bildgebung.

    Einfach zu bedienende, workflow-orientierte Nutzeroberfläche für automatisierte Bildgebung.

    Nehmen Sie Elektronenmikroskopbilder einfacher und schneller auf als jemals zuvor

    • Nehmen Sie große Datensätze von 2D oder 3D elektronenmikroskopischen Bildern automatisiert im Nanometermaßstab auf – über Stunden oder Tage.
    • Nehmen Sie Einzelbilder von tausenden Proben auf, fügen Sie große Bildfelder durch Bildmosaike aus tausenden, benachbarter Einzelbildern zusammen.
    • Mit Atlas 5 optimieren Sie die automatisierte Bildaufnahme: Sie erzeugen konsistente und reproduzierbare Ergebnisse mit vordefinierten und anpassbaren Aufnahmeprotokollen.
       
    Licht- und rasterelektronenmikroskopische Bilder eines integrierten Schaltkreises, mit Atlas 5 korreliert.

    Licht- und rasterelektronenmikroskopische Bilder eines integrierten Schaltkreises, mit Atlas 5 korreliert.

    Korrelieren Sie Bilder von verschiedenen Systemen

    • Bringen Sie Bilder von unterschiedlichen Systemen zusammen. Die korrelative Benutzeroberfläche von Atlas 5 macht es einfach. Zoomen Sie aus der makroskopischen Übersicht über Ihre Probe bis hinein in Details im Nanometerbereich.
    • Atlas 5 ist Ihr Daten-Hub für Bilder aus einem REM, FIB-REM, Röntgen- oder Lichtmikroskop oder eines anderen optischen Bildes, z.B. aus Ihrer digitalen Kamera.
    • Konstruieren Sie ein nahtloses, multi-modales, multi-skaliertes Bild Ihrer Probe.
    3D Visualisierung von Pflanzengewebe.

    3D Visualisierung von Pflanzengewebe. Probe: mit freundlicher Genehmigung von J. Sherrier, J. Caplan, S. Modla, University of Delaware, USA.

    Verstehen Sie Ihre Probe mit Hilfe einzigartiger Workflows

    • Verstehen Sie Ihre Probe in ihrer Gesamtheit, in 2D und 3D mit Hilfe der graphischen Nutzeroberfläche von Atlas 5.
    • Erstellen Sie einen auf Ihre Aufgabenstellung zugeschnittenen Workflow, gleichgültig ob es sich dabei um eine einfache Aufgabe oder um ein komplex aufgesetztes Experiment handelt.
    • Ein klarer Workflow führt Sie vom Setup für automatisierte Bildaufnahme über die Nachbearbeitung und Analyse - bis zum individuellen Export Ihrer Bilder.
  • Technologie

    Erstellen Sie große Mosaikbilder

    Atlas kombiniert einen 16-Bit-Abtastgenerator und duale Super-Sampling Signalerfassungshardware mit Bildverarbeitungs- und Steuerungssoftware für Ihr ZEISS Elektronenmikroskop. Erstellen Sie Bilder mit einer Größe von 32.000 x 32.000 Pixeln mit Verweilzeiten von 100 ns bis > 100 s, die in 100 ns-Schritten erhöht werden können. Speichern Sie Ihre Bilder mit acht oder sechzehn Intensitätsbits.

    Atlas 5 bietet:

    • eine geringere Zahl der zu erfassenden Bildausschnitte und damit verbunden eine verringerte Berechnungskomplexität sowie Geschwindigkeit
    • eine verringerte Zahl von "Überlappungsrändern": Sie profitieren von minimierter Strahlenschädigung für Ihre Probe und gewinnen Bildqualität

    Nehmen Sie Elektronenmikroskopbilder einfacher als jemals zuvor auf

    • Definieren Sie Regions of Interest (ROI) und rastern Sie ausschließlich die interessierenden Bereiche mit vordefinierten Aufnahmeprotokollen ab. Profitieren Sie von reproduzierbaren Ergebnissen durch das Erstellen von Protokollen mit idealen Aufnahmebedingungen.
    • Halten Sie den Fokus durch Auto-Fokus- und Auto-Astigmatismus-Korrekturen während Langzeitexperimenten stabil.
    • Bilden Sie Ihre Probe ab, wann oder wo Sie dies benötigen: Atlas 5 ermöglicht multiple Aufnahme-Sitzungen an unterschiedlichen Instrumenten.
    • Korrelieren Sie Bilder– bringen Sie 2D Bilder und 3D Volumendatensätze aus verschiedenen Instrumenten zusammen.
    • Importieren Sie Daten aus Licht-, Röntgen-, Elektronen- und Fokussierten Ionenstrahl-Elektronenmikroskopen und richten Sie diese gegeneinander aus, um ein Gesamtbild Ihrer Probe zu erzeugen.

    Korrelieren Sie Röntgenmikroskopie und FIB-REM, um Ihre unterhalb der Probenoberfläche liegenden Stellen anzusteuern

    • Korrelieren Sie 3D Röntgenmikroskopie-Volumendatensätze aus Ihrem ZEISS Röntgenmikroskop mit Oberflächenmerkmalen, die in Ihrem FIB-REM zu erkennen sind.
    • Nutzen Sie die Röntgenmikroskop-Daten, um die tiefliegenden Stellen virtuell zu lokalisieren und präzise mit dem FIB-REM anzusteuern.
    • Steuern Sie die Regionen anschließend mit Ihrem ZEISS FIB-REM an.
  • Module

    ZEISS Atlas 5 bietet Ihnen eine Vielfalt an Modulen

    Lernen Sie die Module von ZEISS Atlas 5, ihre Funktionen und Konfigurationsmöglichkeiten kennen. Erweitern Sie die Funktionen Ihres ZEISS SEM und FIB-SEM optional mit Atlas 5. Profitieren Sie von erweiterten Funktionen der zusätzlichen Module und erfahren Sie, wie sie kombiniert werden.
    Alle Atlas 5 Module erfordern Atlas 5. Für das optionale Analytics Modul ist das Hardware- und Softwarepaket von ZEISS Oxford Instruments notwendig. Das Analytics Modul für FIB-SEM erfordert das Modul 3D Tomography von Atlas 5.

    Atlas 5

    Ihre Vorteile mit Atlas 5:

    • Workflow-orientierte Erfassungsplattform für hohen Durchsatz
    • Zusammenführung von Bildern mehrerer Instrumente, Detektoren und Sitzungen in einer korrelativen Arbeitsumgebung
    • Import mehrerer Bilder in verschiedenen Dateitypen möglich: BMP, JPG, TIF, CZI, TXM
    • flexible, geschichtete Anordnung von Bildern
    • protokollbasierte, automatisierte 2D-Erfassung
    • große Bildfelder bis zu 32.000 × 32.000 Bildpunkte, 100 ns Verweilzeit pro Pixel, 8 bit/16 bit, 2 Kanäle
    • xROI-Imaging (exakte Regions of Interest)
    • manuelles Stitching von 2D-Bildmosaiken
    • erweiterte Bildkorrektur (Gradientkorrektur, Radialkorrektur, Korrektur pro Aufnahmekanal)
    • erweitertes automatisches Stitching
    • Einzelbildzusammenführung
    • Export als Movie
    • Export in den browserbasierten Viewer für webbasierten Datenaustausch
    • Optimierung der Aufnahmeprotokolle
    • Export von Daten aus mehreren Kanälen pro Kanal oder als Überblendung
    • integrierte Bildprüfung in einem geführten Prüfungs-Workflow
    • effiziente Prüfung der erfassten 2D-SEM-Daten und automatisierte Neuerfassung problematischer Bilder

    Array Tomography

    Die folgenden Werkzeuge stehen für die Einrichtung von Array Tomography zur Verfügung:

    • Clone-Werkzeug zur Schnittfestlegung
    • Snap-Section-Werkzeug für die automatisierte Schnittfestlegung
    • Site-Management-Funktionen für die effiziente Festlegung von Unterbereichen der Schnitte
    • Bildstapel-Viewer und -Exportfunktionen

    3D Tomography

    Sie führen die dreidimensionale Tomografie mit folgenden Funktionen durch:

    • 3D-FIB-SEM-Tomografie mit automatisierter Probenpräparation
    • exakte Regions of Interest (xROI)
    • (xROI) Volumenbildgebung
    • erweitertes Probentracking
    • adaptive Schnittdickenkontrolle
    • vorausberechnende Driftkorrektur und ‐ausgleich
    • Bildstapel-Viewer mit FIB-SEM-Stapelausrichtung
    • Randkorrektur und Bildstapelexport

    Analytics

    Führen Sie 3D-Analysen mit einem Modul der Softwareoberfläche durch, die Sie ohnehin bereits verwenden:

    • Fügen Sie 3D-EDX-/3D-EBSD-Analysen zu Ihrer hochauflösenden FIB-SEM-Tomografie hinzu
    • Definieren Sie Imaging- und Mapping-Bedingungen unabhängig voneinander, einschließlich Landeenergie, Verweilzeit und räumlicher Auflösung in allen drei Dimensionen
    • Nutzen Sie die erweiterte Erfassungs-Engine, um während der Aufnahme automatisch zwischen den Analyse- und Imaging-Bedingungen umzuschalten.
    • Die flexible Visualisierung erlaubt ein gleichzeitiges Betrachten der SEM-Bilder und das Bearbeiten der Elementverteilungsbilder
    • Binden Sie 2D EDS Mappings in Ihren Arbeitsablauf am FE-SEM ein
    • Wählen Sie Regions of Interest (ROI) für 2D EDX Mappings und erfassen Sie automatisch mehrere ROIs

    NPVE Advanced (Advanced Nanopatterning & Visualization Engine)

    Erweiterte Kontrolle über die Patterning-Geometrie und -Parameter mit NPVE:

    • Simultane Strahlkontrolle mit voller Unterstützung der Patterning- und Imaging-Abläufe für Ionen- und Elektronenstrahlen.
    • Vordefinierte Rezepte zur intelligenten Steuerung der Strahl- und GIS-Parameter für eine konsistente Bearbeitung und Depositionskontrolle bei verschiedensten Bedingungen.
    • Definieren Sie Werkzeuge für die Einrichtung des Systems, zur Erstellung von 3D-Profilen und Array-Erstellung, um Ihre Experimente zu optimieren.
    • Mit dem Fastmill-Modus, einer speziellen Scanning-Strategie zur schnelleren und effizienteren Erstellung von FIB-Querschnitten, sparen Sie bis zu 40 % Bearbeitungszeit.

  • Download

    ZEISS Atlas 5

    Master Your Multi-scale Challenge

    Seiten: 25
    Dateigröße: 8.741 kB

    ZEISS Atlas 5 Array Tomography

    Image Your Serial Sections Fast and Efficiently – with Nanoresolution

    Seiten: 13
    Dateigröße: 4.289 kB

    White Paper: Correlative XRM-FIB/SEM

    Study of Thermoelectric Materials

    Seiten: 4
    Dateigröße: 1.068 kB

    White Paper: ZEISS Atlas 5

    Large Area Imaging with High Throughput

    Seiten: 6
    Dateigröße: 4.056 kB

    White Paper: ZEISS Atlas 5

    Characterization of Solid Oxide Electrolysis Cells by Advanced FIB-SEM Tomography

    Seiten: 7
    Dateigröße: 1.441 kB

    Application Note: Multi-scale Correlative Study

    Corrosion Evolution in a Magnesium Alloy

    Seiten: 8
    Dateigröße: 3.681 kB

    Application Note: Multi-scale Characterization of Lithium Ion Battery Cathode Material

    Correlative X-ray and FIB-SEM Microscopy

    Seiten: 6
    Dateigröße: 1.422 kB

    Aplication Note: ZEISS Correlative Microscopy

    Investigating Structure-property Relationships in a Carbon-fiber Composite

    Seiten: 8
    Dateigröße: 4.026 kB

    Application Note

    Visualization of gold and uranium ore-formation in the Witwatersrand ore deposit from the micro- to nanoscale

    Seiten: 6
    Dateigröße: 3.166 kB

    Cathodoluminescence of Geological Samples:

    Fluorite Veins

    Seiten: 5
    Dateigröße: 5.477 kB