ZEISS Atlas 5

• Kombinieren Sie einen 16-Bit-Rastergenerator und eine Dual-Super-Sampling-Signalerfassungshardware mit Bildverarbeitungs- und Steuerungssoftware  für Ihr ZEISS Elektronenmikroskop.
• Erstellen Sie Bilder mit einer Größe von 32.000 x 32.000 Pixeln im SEM und mit 40.000 x 50.000 Pixeln im FIB-SEM.
• Verwenden Sie Verweilzeiten von 100 ns bis > 100 s, die in 100 ns-Schritten erhöht werden können.
• Speichern Sie Ihre Bilder mit mit acht oder sechzehn Bit Intensität.
  

• Reduzieren Sie die Erfassungszeit und den Rechenaufwand, indem Sie Ihren ROI entsprechend seiner tatsächlichen Form definieren und ein Mosaik mit einer reduzierten Anzahl von Kacheln erfassen.
• Reduzieren Sie die Zeitverluste durch Stage-Bewegungen.
• Gewinnen Sie weitere Zeit für die Erfassung des finalen Mosaiks, indem Sie die Fläche, die bei herkömmlichen Mosaikbildern durch Überlappungen mit dem Nachbarbild verloren geht, verkleinern.
• Gewinnen Sie Bildqualität aufgrund der geringere Flächen der überlappenden Bildbereiche. So profitieren Sie unmittelbar von minimierter Strahlenschädigung der Probe an diesen Stellen.
  

• Definieren Sie Regions of Interest (ROI) und rastern Sie ausschließlich die interessierenden Bereiche mit vordefinierten Aufnahmeprotokollen ab. 
• Profitieren Sie von reproduzierbaren Ergebnissen durch das Erstellen von Protokollen mit idealen Aufnahmebedingungen.
• Halten Sie den Fokus durch Auto-Fokus- und Auto-Astigmatismus-Korrekturen während Langzeitexperimenten stabil.
• Bilden Sie Ihre Probe ab, wann oder wo Sie dies benötigen: Atlas 5 ermöglicht multiple Aufnahme-Sitzungen an unterschiedlichen Instrumenten.
• Korrelieren Sie Bilder– bringen Sie 2D Bilder und 3D Volumendatensätze aus verschiedenen Instrumenten zusammen.
• Importieren Sie Daten aus Licht-, Röntgen-, Elektronen- und Fokussierten Ionenstrahl-Elektronenmikroskopen und richten Sie diese gegeneinander aus, um ein Gesamtbild Ihrer Probe zu erzeugen.
  

• Korrelieren Sie 3D Röntgenmikroskopie-Volumendatensätze aus Ihrem ZEISS Röntgenmikroskop mit Oberflächenmerkmalen, die in Ihrem FIB-SEM zu erkennen sind.
• Nutzen Sie die Röntgenmikroskop-Daten, um die tiefliegenden Stellen virtuell zu lokalisieren und präzise mit dem FIB-SEM anzusteuern.
• Steuern Sie die Regionen anschließend mit Ihrem ZEISS FIB-SEM an.
  

Lernen Sie die Module von ZEISS Atlas 5, ihre Funktionen und Konfigurationsmöglichkeiten kennen. Erweitern Sie die Funktionen Ihres ZEISS SEM und FIB-SEM optional mit Atlas 5. Profitieren Sie von erweiterten Funktionen der zusätzlichen Module und erfahren Sie, wie sie kombiniert werden. Alle Atlas 5 Module erfordern Atlas 5. Für das optionale Analytics Modul ist das Hardware- und Softwarepaket von ZEISS Oxford Instruments notwendig. Das Analytics Modul für FIB-SEM erfordert das Modul 3D Tomography von Atlas 5.

Die folgenden Werkzeuge stehen Ihnen für die Einrichtung von Array Tomography zur automatisierten Bildaufnahme z.B. an biologischen Serienschnitten zur Verfügung:

• Definieren Sie die Stellen, an denen Sie Bilder aufnehmen wollen, ganz einfach mit dem Clone Werkzeug.
• Das Snap Section Werkzeug hilft Ihnen, die Form Ihrer Schnitte automatisch zu detektieren.
• Managen Sie ROIs auf Ihren Schnitten effizient und legen Sie Unterbereiche fest.
• Stellen Sie mit dem Bildstapelexport-Werkzeug alle Bilder zu einem 3D Volumen zusammen und exportieren diese dann mit dem Bildstapelviewer.
• Profitieren Sie von der 3D Bildstapelausrichtung und den Bildkorrekturwerkzeugen.
   

Analysieren, präsentieren und teilen Sie Ihre Ergebnisse oder trainieren Sie Ihre Kollegen:

• Exportieren Sie Datensätze in ein Format, das mit jedem Webbrowser visualisiert werden kann.
• Dieses Format ermöglicht es Ihnen sogar Messungen und Beschriftungen vorzunehmen.
• Erstellen Sie individuell gestaltete Vorträge, in die Sie zusätzliche Informationen wie PDF Dateien, Bilder, Spektren, Videos oder Audiodateien einfügen können.
• Ihre Kollegen und Studenten haben freien Zugang zu Ihrem kompletten Datensatz in voller Auflösung und können diese Informationen einfach miteinander teilen, mittels einer Festplatte oder abgelegt auf einem Server.
• Der Nutzer ist in der Lage, sich den kompletten Datensatz anzuschauen und kann den Vorträgen in seiner eigenen Geschwindigkeit folgen oder pausieren, wann immer er möchte.
   

Sie führen die dreidimensionale Tomografie mit folgenden Funktionen durch:

• Nutzen Sie in der Software die 3D FIB-SEM Akquisition mit automatisierter Probenpräparation um präzise 3D Visualisierungen zu erzielen.
• Messen und kontrollieren Sie während die Tomographie läuft Ihre Schnittdicke und erhalten so den wirklichen Wert. Damit stellen Sie sicher, dass Ihre Daten präzise prozessiert werden.
• Nutzen Sie "Thin & Fast Tomograhy" um sicherzustellen, dass auch bei sich aufladenden, schrumpfenden oder strahlsensitiven Proben ein präzises, kontinuierliches, homogenes Tomogram entsteht.
• Gelangen Sie schneller zu qualitativ hochwertigen Daten, indem Sie die Funktionen xROIs (exakte Regions Of Interest), vorausberechnende Driftkorrektur und ‐ausgleich nutzen.
• Nutzen Sie den Bildstapelviewer mit 3D FIB-SEM Stapelausrichtung in 3D und Bildstapelexport inklusive Randkorrektur.

Führen Sie 3D-Analysen mit einem integrierten Modul durch:

• Fügen Sie 3D-EDX-/3D-EBSD-Analysen zu Ihrer hochauflösenden FIB-SEM-Tomografie hinzu.
• Definieren Sie Imaging- und Mapping-Bedingungen unabhängig voneinander, einschließlich Landeenergie, Verweilzeit und räumlicher Auflösung in allen drei Dimensionen.
• Nutzen Sie das Modul, um während der Aufnahme automatisch zwischen den Analyse- und Imaging-Bedingungen umzuschalten.
• Erfassen Sie 3D Tomographie Datensätze in der statischen Konfiguration, in der sich der Probentisch in der Kammer nicht bewegt, wenn sie noch stabilere 3D EBSD Daten aufnehmen möchten.
• Die flexible Visualisierung erlaubt ein gleichzeitiges Betrachten der SEM-Bilder und das Bearbeiten der Elementverteilungsbilder.
• Binden Sie 2D EDX Mappings in Ihren Arbeitsablauf am FE-SEM ein und erfassen Sie automatisch mehrere ROIs.
  

Erweitern Sie die Kontrolle über die Patterning-Geometrie und -Parameter mit NPVE:

• Profitieren Sie von simultaner Strahlkontrolle mit voller Unterstützung der Patterning- und Imaging-Abläufe für Ionen- und Elektronenstrahlen.
• Definierte Sie Rezepte zur intelligenten Steuerung der Strahl- und GIS-Parameter für eine konsistente Bearbeitung und Depositionskontrolle bei verschiedensten Bedingungen.
• Optimieren Sie Ihre Experimente mit Hilfe der Werkzeuge zur Erstellung von 3D-Profilen und Arrays.
• Mit dem Fastmill-Modus, einer speziellen Scanning-Strategie zur schnelleren und effizienteren Erstellung von FIB-Querschnitten, sparen Sie bis zu 40 % Bearbeitungszeit.