ZEN core

Imaging-Software für vernetzte Mikroskopie im Materiallabor

ZEN core ist mehr als eine Mikroskopie-Imaging-Lösung. Als umfassende Software-Suite für multimodale Mikroskopie im vernetzten Materiallabor versammelt ZEN core alle wichtigen Werkzeuge für Bildgebung, Segmentierung, Analyse und Datenmanagement unter einer einheitlichen Benutzeroberfläche.

Highlights

Einfach zu konfigurieren. Einfach zu bedienen.

Profitieren Sie von einer anpassbaren Benutzer-oberfläche, die für Industrie- und Forschungsumgebungen entwickelt wurde. ZEN core bietet ein konfigurierbares Benutzermanagement, mit dem Sie Benutzer und deren Rollen festlegen können. Unabhängig von ihrem Kenntnisstand werden die Bediener den Umgang mit der Software schnell erlernen.

Erweitertes Imaging und automatisierte Analyse.

ZEN core ist die Kommandozentrale für automatisierte Imaging- und Analysefunktionen in zusammengesetzten Lichtmikroskopen. Durch Verwendung von integrierten automatisierten Abläufen zur Bilderfassung, wie HDR oder Best Image, profitieren Sie von der Konsistenz eines erweiterten und wiederholbaren Workflows.

Infrastrukturlösung für das vernetzte Labor.

ZEN core stellt die Infrastruktur für vernetzte Laborumgebungen bereit und führt alle Ihre ZEISS Imaging- und Mikroskopie-Lösungen unter einer einheitlichen, vertrauten GUI zusammen. Dank Funktionen zum Datenmanagement bleiben Ihre wertvollen Analysedaten über alle Instrumente, Labors und Standorte hinweg erhalten.

Eine Benutzeroberfläche für alle Mikroskope in Mehrbenutzerumgebungen

Von einfachen Stereomikroskopen bis hin zu motorisierten und automatisierten Imaging-Systemen bietet ZEN core eine einheitliche Benutzeroberfläche für ZEISS Mikroskope und Kameras. ZEN core ermöglicht die Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie in multimodalen Arbeitsabläufen und hilft, Systeme, Labore und Standorte zu vernetzen.

Mikroskop- und Kamera-Steuerung
Bildaufnahme und Analyse
Korrelative Mikroskopie
Nachgelagerte Analysen
Automatisierte Bildsegmentierung
Kontextuelle Analyse
Integrierte Berichterstellung
Zentrale Datenverwaltung
Vernetzung zwischen Systemen und Laborstandorten

Benutzermanagement zur Sicherstellung von Wiederholbarkeit und Datenintegrität

Anpassbare Benutzeroberfläche
Aufgabenspezifische Arbeitsbereiche („Workbenches“)
Job-Modus für wiederkehrende Aufgaben und individuelle Workflows
Spezifizierbare Nutzerrollen wie Bediener, Supervisor und Labormanager
Kombination des Job-Modus mit Benutzermanagement-Funktionen zum Zuweisen von Aufgaben

Materialmodule für Metallografie-Anwendungen

Mit Modulen zur Bestimmung von Korngrößen, Phasen und Schichtdicken sowie zur Klassifizierung von Graphitpartikeln und nichtmetallischen Einschlüssen stehen Ihnen alle wesentlichen metallografischen Anwendungen unter einer einheitlichen Benutzeroberfläche zur Verfügung.

Klassifizieren von Graphit in Gusseisen

In Abhängigkeit von Prozessparametern und der chemischen Zusammensetzung des Materials können Graphitpartikel in Gusseisen in unterschiedlicher Form und Verteilung auftreten. Dies beeinflusst die mechanischen Eigenschaften des Materials.

Analysieren Sie die Form und Größe von Graphitpartikeln vollautomatisch. Erhalten Sie die Sphäroid-Nummer gemäß EN ISO 945-1: 2008 + Cor. 1:2010. Bestimmen Sie die Nodularität von Vermiculargraphit und untersuchen Sie den Gehalt an Graphitpartikeln in Flächenprozent.

Gusseisen-Analyse: Verteilung von Größe und Form

Korngrößenbestimmung

Korngröße und Verteilung stehen in direktem Zusammenhang mit den Materialeigenschaften. Quantifizieren Sie die kristallographische Struktur Ihrer Materialien gemäß internationalen Standards. Mit drei Auswertungsverfahren können Sie Ihre Proben charakterisieren:

Planimetrisches Verfahren zur automatischen Rekonstruktion von Korngrenzen
Intercept-Verfahren mit einer Vielzahl von verschiedenen Messgittern zum interaktiven Erkennen und Zählen von Korngrenzen-Schnittpunkten
Vergleichsverfahren für manuelle Bildauswertung mit Vergleichsdiagrammen

Korngrößenbestimmung: Intercept-Verfahren

Phasenbestimmung

Jeder Teil des Materials mit einer charakteristischen Kristallstruktur kann als „Phase“ betrachtet werden. Verschiedene Phasen sind durch deutliche Grenzen voneinander getrennt. Verteilung und Orientierung der Phasen beeinflussen die Materialeigenschaften wie Härte, Festigkeit oder Bruchdehnung.
Analysieren Sie die Phasenverteilung in Ihren Proben. Bestimmen Sie Größe, Form oder Ausrichtung präzise und vollautomatisch. Verwenden Sie diese Verteilungsanalyse, um Informationen über die Porosität von additiv gefertigten Materialien zu erhalten.

Phasenbestimmung: Ergebnisansicht mit Verteilung der verschiedenen Phasen

Schichtdickenmessung

Messen Sie die Dicke von Beschichtungen und Plattierungen oder die Tiefe von gehärteten Oberflächen im Querschnitt einer Probe.

Bewerten Sie komplexe Schichtsysteme entweder automatisch oder interaktiv. Das Modul berechnet den Verlauf der Mess-Sehnen in Abhängigkeit des vorhandenen Gradienten.

Lassen Sie die Ergebnisse in einem übersichtlichen Bericht mit Bildern, Probendaten und Messwerten wie Maximal- und Minimal-Sehnenlänge, Mittelwert und Standardabweichung ausgeben.

Schichtdickenmessung: automatische Erkennung einer Schicht

Analyse nichtmetallischer Einschlüsse (NMI)

Das Modul zur Analyse nichtmetallischer Einschlüsse stellt sicher, dass die im Herstellungsprozess angestrebten Gütegrade und Produktqualitäten den strengen Spezifikationen für Verunreinigungen oder Defekte entsprechen, die ein Bauteil brechen lassen oder seine Zugfestigkeit und Härte beeinflussen können.

Leistungsstarke Inspektionsansichten und automatische Funktionen zur Erkennung von Verformungsachsen machen die Analyse einfach, intuitiv und wiederholbar. Mit der zusätzlichen GxP-Funktionalität können Benutzer ihren Kunden vollständige Rückverfolgbarkeit und Datenintegrität bei NMI-Analysen bieten. Die Zertifizierung von Reinheitsgraden wird damit nachprüfbar, was insbesondere für Kunden in regulierten Branchen von Vorteil ist.

NMI-Benutzeroberfläche: Die Resultatansicht ermöglicht das Umschalten zwischen den Einschlusstypen Oxid, Sulfid und Artefakt.

Vergleichsdiagramme

Vergleichen Sie Ihre Probe unter dem Mikroskop mit Vergleichsdiagrammen direkt auf Ihrem Bildschirm. Wählen Sie zwischen verschiedenen schematischen Darstellungen von Schliffproben mit spezifischen Eigenschaften. Diese ändern sich allmählich von Bild zu Bild und können sich auf die Korngröße, die Karbidausfällung in Stahl oder die Qualität der Probenvorbereitung beziehen.

Das Modul stellt auch einen Diagrammseriengenerator zur Verfügung, um eigene Vergleichsdiagramme zu erstellen, z. für Pass/Fail-Kriterien in der Qualitätskontrolle oder zum Erstellen von Zielvorgaben für Ihre individuellen Materialmikrostrukturen.

Vergleichsdiagramme: Schliffproben im Vergleich mit vorkonfigurierten oder individuell erstellten Diagrammen

Erweiterte Bildgebung und Analyse

Automatisierung für Lichtmikroskope

ZEN core bietet Ihnen zahlreiche Optionen für die automatisierte Bilderfassung:

Online Panorama
Erfassung von Panoramabildern auf kodierten und nicht kodierten Tischen

Freiform-Kacheln
Einfache Definition von Anreihungsbereichen zur Erzeugung hochauflösender Bilder

Erweiterte Tiefenschärfe
Automatische Bilderfassung mit erweiterter Tiefenschärfe

ZEN Intellesis: Bildsegmentierung auf Basis von Machine-Learning-Algorithmen

ZEN Intellesis ist Ihr Softwaremodul für die leistungsstarke maschinelle Segmentierung mehrdimensionaler Bilder einschließlich 3D-Datensätzen. Sie können problemlos mehrere Bildgebungsmodalitäten integrieren oder eine überlegene Segmentierung für Einzelbilder erzielen.

Bilder, die bisher manuell verarbeitet werden mussten, können jetzt automatisch analysiert werden, indem Sie ZEN Intellesis über eine intuitive Benutzeroberfläche darin trainieren, die Segmentierung für sie zu erledigen. Sie trainieren die Software mit Ihrem Fachwissen und überlassen ZEN Intellesis die mühsame Segmentierung.

Da sich ZEN Intellesis an Ihre Art der Probenpräparation anpassen kann, können Sie auch bei der Vorbereitung erhebliche Zeitersparnis erzielen. Die Reproduzierbarkeit ist garantiert, da das gespeicherte Analyseprogramm Probe für Probe wiederverwendet oder jederzeit auf den Umgang mit neuen Proben trainiert werden kann.

Erfahren Sie mehr über ZEN Intellesis

Trainieren eines Segmentierungsmodells: Der Nutzer markiert einige Regionen durch Einzeichnen und teilt dem System mit, wie es segmentieren soll.

Automatische Segmentierung: Sobald ein Segmentierungsmodell trainiert ist, kann es wiederverwendet, geteilt und auf beliebig viele Bilder angewendet werden.

ZEN Connect: Qualitätsdaten im Kontext

Organisieren und visualisieren Sie mehrere Bilder und Daten derselben Probe an einem gemeinsamen Ort. Die probenorientierte Analyse mit ZEN Connect erlaubt den schnellen Wechsel von einem Übersichtsbild zum erweiterten Imaging mit mehreren Modalitäten. Korrelationen zwischen Bildern verschiedener Maßstäbe können angezeigt und einfach navigiert werden. Die Abhängigkeiten der Datensätze können in einer Client-Server-Datenbank gespeichert, exportiert und wiederverwendet werden. ZEN Connect ermöglicht auch ein integriertes Reporting über alle verbundenen Bilder und Datensätze.

Erfahren Sie mehr über ZEN Connect

ZEN Connect Benutzeroberfläche: einfache Navigation in Datensätzen mit Bildern unterschiedlicher Skalierung.

Infrastruktur-Lösungen für das vernetzte Labor

GxP-Modul: Sichere und standardkonforme Mikroskopie-Abläufe

Mit dem GxP-Modul machen Sie Ihre Workflows entlang einer integrierten Hard- und Software-Lösung nachvollziehbar und entsprechen damit den Anforderungen regulierter Branchen. Jeder in ZEN core verfügbare Workflow somit GxP-konform gestaltet werden.

Benutzermanagement
Prüfprotokoll
Freigabeverfahren für Workflows
Elektronische Signaturen inkl. Gegenzeichnen
Prüfsummenschutz von prozesskritischen Daten
Datenwiederherstellung

Erfahren Sie mehr über das GxP Modul

GxP-Modul: Validierung elektronischer Signaturen

Shuttle & Find: Korrelative Mikroskopie

Korrelative Mikroskopie ist eine leistungsstarke Technik, mit der komplementäre Attribute aus verschiedenen Mikroskopie-Techniken kombiniert werden, um möglichst viele aussagekräftige Informationen zu Werkstücken oder Materialproben zu erhalten. Shuttle & Find ist die ZEISS Schnittstelle für korrelative Mikroskopie, die speziell für die Verwendung in der Materialanalyse und der industriellen Qualitätssicherung entwickelt wurde.

Proben und Bilddaten zwischen ZEISS Licht- und/oder Elektronenmikroskopen übertragen
Regionen automatisch wiederfinden
Effizienz und Durchsatz verbessern
Das Maximum an Information erfassen
Fundierte Materialentscheidungen treffen

Erfahren Sie mehr über Shuttle & Find

ZEN Data Storage: Zentrales Datenmanagement im vernetzten Labor

Während die Digitalisierung mikroskopische Untersuchungen weiter verbessert, sehen Sie sich einer ständig wachsenden Menge an Bildern und Daten gegenüber, die verwaltet werden müssen, vor allem in Mehrbenutzerumgebungen. Mit ZEN Data Storage trennen Sie die mikroskopische Bilderfassung von nachgelagerten Analyseaufgaben, um die Arbeit im Labor noch effizienter zu gestalten:

Experten und unerfahrene Nutzer tauschen Instrumentenvoreinstellungen, Workflows, Daten und Berichte aus.
Der Zugriff auf Daten aus unterschiedlichen Systemen ist standortübergreifend gewährleistet.
Ihre Analysen sind qualitätsgesichert und reproduzierbar.
Mit der mühelosen Korrelation von Daten verschiedener Mikroskope können Sie das Maximum an Information aus Ihren Proben gewinnen.
Sie unterstützen Ihre IT-Abteilung bei der Implementierung von Sicherheits- und Backup-Maßnahmen.

ZEN Data Storage: Zentrales Datenmanagement im vernetzten Labor

Modulpakete

Modulpaket	Funktionen und Anwendungen	Download
ZEN starter	Kostenlose Basisversion (keine Lizenz erforderlich) Erweitern Sie diese Version mit spezifischen Modulen für Ihre Anwendungen	ZEN starter - Starten Sie die kostenlose Software Verwenden Sie diese kostenlose Mikroskop-Software, um die wichtigsten Funktionen des ZEN-Pakets zu testen. Mehr erfahren
ZEN core	Komplette Steuerung von motorisierten ZEISS Mikroskopen Erweiterte Erfassung, Verarbeitung und Analyse von Bildern Funktionen für multimodale Workflows und Datenbank-Konnektivität	Versionshinweise für ZEN core Rel 3.2 Dokumentation für das CZI Bildformat: Erfahren Sie mehr über das CZI-Format und fordern Sie eine kostenlose Lizenz an

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