Rasterelektronenmikroskope (REM) von ZEISS liefern Oberflächeninformationen in hoher Auflösung und einen hervorragenden Materialkontrast. Sie werden eingesetzt in Materialanalysen, Nanotechnologie, Halbleiter-Fehleranalysen, Life Sciences und Qualitätssicherung.
GeminiSEM-Produktfamilie – FE-SEM
Auflösung im Subnanometerbereich unter 1 kV – Profitieren Sie von hoher Detektionseffizienz und ausgezeichneter Analyseleistung.
Sigma-Produktfamilie
Ihre FE-SEM für Imaging mit hohem Qualitätsanspruch und erweiterter Analytik
MultiSEM 505/506
Setzten Sie die Aufnahmegeschwindigkeit von bis zu 91 parallelen Elektronenstrahlen frei. Jetzt können Sie Bilder im Zentimetermaßstab in Nanometerauflösung aufnehmen.
EVO Produktfamilie
Die Instrumente der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit intuitiver, benutzerfreundlicher Bedienung. EVO kann präzise auf Ihre Anforderungen abgestimmt werden, unabhängig davon, ob Sie im Bereich Biowissenschaften oder Materialwissenschaften oder in der routinemäßigen industriellen Qualitätskontrolle und Fehleranalyse tätig sind.
Zertifierte ZEISS Gebrauchtinstrumente
Generalüberholte Instrumente mit garantierter Leistung von außergewöhnlichem Wert - zertifizierte Systeme aus zweiter Hand. Diese Mikroskope sind generalüberholt, nach ZEISS Standards zertifiziert und mit einer gesetzlichen Gewährleistung abgedeckt. Garantierte Leistung zu einem attraktiven Preis.
Prozessspezifische Werkzeuge
Integreren Sie vielfach wiederholte Analyse von Materialproben in die industrielle Produktion und im Forschungsumfeld.
3View® für Ihre ZEISS FE-REMs
Block-Face-Imaging ist eine schnelle und komfortable Methode, um 3D-Bilder mit Nanometer-Auflösung zu erstellen. Mit 3View® können Sie ein Ultramikrotom innerhalb der REM-Kammer nutzen, um kontinuierlich Schnitte Ihrer in Harz gegossenen Zell- und Gewebeproben anzufertigen und diese abzubilden.
GeminiSEM-Produktfamilie – FE-SEM
Auflösung im Subnanometerbereich unter 1 kV – Profitieren Sie von hoher Detektionseffizienz und ausgezeichneter Analyseleistung.