Ihr High Definition REM für Workflow-Automatisierung

EVO MA mit SmartSEM Touch

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EVO MA mit SmartSEM Touch

Ihr interaktives REM für Multi-User-Umgebungen

  • Einführung

    ZEISS EVO Serie kombiniert High Definition Rasterelektronenmikroskopie mit intuitiver Benutzerfreundlichkeit

    Mit SmartSEM Touch verbessern Sie die Produktivität und reduzieren Sie die Schulungskosten drastisch. Ermöglichen Sie allen Benutzer die Generierung hervorragender Bilder und bearbeiten Sie im Hochdurchsatz Ihre Workflows in der visuellen Inspektion. SmartSEM Touch ist eine willkommene Ergänzung in der Multi-User-Umgebung.

    Profitieren Sie von unserer Erfahrung bei der Bildgebung unter Hochvakuum (HV), variablem Druck (VP) und erweitertem Druck (EP), dank der neuesten Detektortechnologie. Signifikante Verbesserungen in Signalausbeute und Kontrastverhältnis sind der erste Schritt die Effizienz der Bildgebung zu erhöhen.


    EVO ist ein einfach zu bedienendes, hochflexibles und hochauflösendes Bildgebungs- und Analyse-Tool und liefert schnell, präzise und reprodzierbare Ergebnisse aller Proben.

     

  • Highlights
    Schlagbolzenabdruck auf Patronenhülse - Bild aufgenommen mit SE Detektor bei 10 kV

    Schlagbolzenabdruck auf Patronenhülse

    Kontrolle über Ihre Fingerspitzen

    • Profitieren Sie von drastisch reduzierten Trainingszeiten und generieren Sie atemberaubende Bilder innerhalb weniger Minuten.
    • Speziell konzipiert für Betreiber in der Industrie, die automatisierte Workflows für visuelle Inspektionsaufgaben benötigen und wissenschaftliche Anwender mit unterschiedlichen Anforderungen.
    • Generieren Sie Bilder großer Bereiche automatisiert mit der Touch-Funktion und gewinnen Sie damit Zeit für die anschließende Analyse. 
    • SmartSEM Touch ist schnell zu erlernen, einfach zu bedienen und liefert eine interaktive Workflow-Steuerung.
    Automatisiertes Intelligentes Imaging

    Automatisiertes Intelligentes Imaging

    Intelligentes Imaging – High Throughput

    • EVO liefert höchste Produktivität in Fertigungs- und Qualitätskontrolle.
    • Reduzieren Sie 400 manuelle Schritte auf nur 15, erfassen Sie vier Punkte auf 9 Proben mit drei verschiedenen Vergrößerungen.
    • Automatisiertes, intelligentes Imaging bietet frei wählbare Regions Of Interest (ROIs) für die automatisierte Bildaufnahme.
    • SmartBrowse sammelt und präsentiert Ihre Daten als interaktive Karte und hilft Ihnen die Probe vollständig zu verstehen.  
    Die robuste Stage von EVO bietet die perfekte Plattform für die Abbildung großer, schwerer Proben

    Perfekte Plattform für große, schwere Proben

    Flexibel und einfach zu bedienen

    • Zukunftssichere Upgrades sichern den Anspruch an alle schnell wachsenden Applikationsanforderungen.
    • Unterschiedliche Kammergrößen und Elektronenquellen sichern EVO die perfekte Konfiguration für anspruchsvolles Imaging, EDS, WDS und EBSD-Applikationen
    • Die robuste Stage bietet die perfekte Plattform für die Abbildung großer, schwerer Automobil- und Luftfahrtkomponenten.
       

    SmartSEM Touch

    Profitieren Sie von schnellen Ergebnissen und verkürztem Schulungsaufwand in einem automatisierten Prozess. Ein übersichtliches workflow-orientiertes Layout gruppiert Ihre Aufgaben und ist leicht verständlich. Laden, erstellen, navigieren und durchsuchen Sie Ihre Bilder mit der bekannten Touch-Funktion. Wischen Sie mit dem Finger einfach direkt über den Bildschirm und generieren Sie automatisch Bilder der Sie interessierenden Region. Die "Lay-Flat" Konfiguration verbessert den Zugriff auf Bilder und ihre Analyse, wenn sie in kleinen Arbeitsgruppen gemeinsam arbeiten.

    Workflow
  • Kammergrößen

    EVO MA

    Mit EVO MA profitieren Sie von drei Kammergrößen und einer breiten Palette an Detektoren sowie Software-Optionen. Rüsten Sie Ihr EVO MA auf vollen Environmental REM Betrieb (EVO LS) auf.

     

    EVO MA 10 ist das perfekte REM für viele Proben in der Werkstoffanalyse.
    Mit einem großen fünfachsigen, motorisch angetriebenen Objekttisch, vielseitigen Zubehöroptionen und der bedienungsfreundlichen SmartSEM Software-Suite ist EVO MA 10 die perfekte Imaging-Lösung für die Werkstoffanalyse.
    EVO MA 10 beinhaltet:
    • Tischbewegung von 80 x 100 x 35 mm (XYZ)
    • Maximale Probenhöhe 100mm

    EVO MA 15 ist Ihr REM für eine breitere Spanne an Präparatgewichten und -abmessungen.

    Zu den Anwendungsbereichen gehören Geologie, Forensik und Fehleranalyse.

    EVO MA 15 bietet unter anderem:
    • Tischbewegung von 125 x 125 x 50  mm (XYZ)
    • Maximale Probenhöhe 145 mm
    • Anschluss für WDS-Instrumente

    EVO MA 25 ist das perfekte REM für große und schwere Proben.

    Anwendungsfelder sind unter anderem Forensik, Museumsartefakte, Autoproduktion, Luftfahrt, Flachbildschirme und Leiterplatten.

    EVO MA 25 bietet unter anderem:

    • BeamSleeve-Option für eine Tischbewegung von 130 x 130 x 60 mm (XYZ)
    • Maximale Probenhöhe von 210mm
    • Gewicht von 5 kg und Durchmesser von 300 mm
    • Backscatter-Imaging über 4 Quadranten und 5 Segmente
    • Unterstützung von zwei Kammerbereichen

     

     

     

  • Detektor
    Detektor-Technologie

    Cascade Current Detector (C2D)

    • Erreichen Sie beste Abbildungsleistung im variablen Druckmodus mit der erweiterten Detektortechnologie.
    • EVO Cascade Stromdetektor (C2D) mit seiner hochempfindlichen Detektor-Elektronik garantiert Ihnen hervorragende, rauscharme Bilder selbst bei anspruchsvollsten VP-Applikationen.
    • Extended Range Cascade Stromdetektor (C2DX), einzigartig in der EVO-Serie, wurde entwickelt, um hervorragende Abbildungsleistung bei höchsten Drücken bis zu 3000 Pa zu gewährleisten.
    • EVO Detektor-Technologie setzt den Standard für Variable Pressure and Environmental Rasterelektronenmikroskopie.
  • EDS-Lösung

    Integrierte EDS-Lösung: EVO Element

    Hochauflösende Bildgebung kombiniert mit schneller Analyse

    Die integrierte EDS-Lösung EVO Element zeichnet sich durch Nutzerfreundlichkeit und hervorragende Leistung bei niedrigen kV-Werten aus. Mit der Möglichkeit, EDS und REM über einen einzigen PC zu steuern, wird die Bedienung deutlich vereinfacht. Eine parallele Steuerung von Mikroskop und EDS über dedizierte Nutzeroberflächen ist ebenfalls möglich.

    • Integration: Hochauflösende Bildgebung kombiniert mit beschleunigter Analyse für beste Resultate bei hervorragender Nutzerfreundlichkeit
    • Anpassung: Für verschiedene Nutzeranforderungen konfigurierbare Software
    • Empfindlichkeit: Einzigartiges Siliziumnitrid-Fenster für verbesserte Niedrigenergie-Messungen
  • Anwendungen

    Nutzen Sie die Flexibilität und analytische Bildgebung von EVO für eine breite Palette von Anwendungen:

    Oberflächenverschleiß eines Kugellagers

    Oberflächenverschleiß eines Kugellagers

    Metalle & Stahl

    • Abbildung und Analyse von Strukturmetallen, Brüchen und nichtmetallischen Einschlüssen
    • Analyse von Zusammensetzung- und Struktur bei Duplex-Stählen und hochtechnischen Legierungen
    • Coplanare EBSD- und EDS-Geometrie bietet die Möglichkeit einer mikrostrukturellen Charakterisierung von Korngrenzen, Phasenidentifikation, Dehnungsanalyse und Gleitebenen-Aktivität
    BSE Bild von Nickelsulfid-Erz

    BSE Bild von Nickelsulfid-Erz

    Natürliche Ressourcen

    • Analysieren Sie Morphologie, Mineralogie und Zusammensetzung Geologischer Proben.
    • Bilden Sie Bohrkernproben im VP-Modus mit C2D Detektor und HDBSD ab und erhalten Sie umfassende Informationen über Struktur und Zusammensetzung.
    • Kathodolumineszenz (CL) Abbildung geologischer Proben mit klarer schlierenfreier Darstellung von Carbonaten.
    Aluminium-Nanofasern

    Aluminium-Nanofasern

    Materialwissenschaften

    • Untersuchen und entwickeln Sie neue Werkstoffe
    • Analysieren Sie Werkstoffeigenschaften wie Korrosions- und Temperaturbeständigkeit oder Beschichtungsperformance.
    • Kombinieren Sie HDBSD mit Strahlverzögerungstechnik sowie coplanarem EDS und EBSD für eine umfassende Materialanalyse.
    Oberflächenschäden auf einer integrierten Schaltung

    Oberflächenschäden auf einer integrierten Schaltung

    Halbleiter & Elektronik

    • Routineinspektion von Leiterplatten und Board-Level-Komponenten
    • Führen Sie Elektronenstrahl-induzierte Stromexperimente durch um die Komponentenleistung zu bestimmen
    • Visuelle Analyse und Kontrolle der Zusammensetzung von Korrosionen, Rissen und Verunreinigungen
    Fragment von geschmolzenem Glas

    Fragment von geschmolzenem Glas

    Forensik

    • Analysieren Sie strafrechtliche Beweismittel einschließlich Schmauchspuren, Geldfälschungen und Toxikologie.
    • Führende EDS Geometrie ermöglicht GSR-Analyse im Hochdurchsatz bei Kompatibilität für spezialisierte GSR-Analyse-Software von Drittanbietern.
    • Ballistischer Geschossvergleich oder Analyse von Patronenhülsen.
    Fasern aus Verbundmaterial der Luft- und Raumfahrt

    Fasern aus Verbundmaterial der Luft- und Raumfahrt

    Luft- und Raumfahrt & Automobil

    • Große Kammern und flexible, robuste Stages ermöglichen den Umgang mit großen, schweren Automobilkomponenten
    • Analyse hochtechnologischer Verbundwerkstoffe, Beschichtungen und Textilien im variablen DruckmodusHigh throughput
    • Analyse der Zusammensetzung von Partikeln und des Abriebs von Motoren im Hochdurchsatz
  • Downloads

    Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolle

    Erfassen Sie das Wesen Ihres Bauteils: Schnell. Einfach. Übergreifend. >>> PDF für Darstellung am Monitor in geringer Auflösung. Bitte nehmen Sie Kontakt mit uns auf, um eine gedruckte Version zu bestellen.

    Seiten: 41
    Dateigröße: 5.601 kB

    ZEISS EVO

    Your High Definition SEM with Workflow Automation

    Seiten: 32
    Dateigröße: 8.159 kB

    White Paper: Beam Deceleration Imaging with ZEISS EVO

    Receive high quality images with enhanced surface contrast and topographical detail for low kV imaging and life science samples

    Seiten: 6
    Dateigröße: 845 kB

    White Paper: Python Blood Analysis by STEM

    Seiten: 7
    Dateigröße: 5.371 kB

    White Paper: Coolstage benefits on ZEISS EVO

    Seiten: 6
    Dateigröße: 5.021 kB

    White Paper: Imaging Solutions for the Paper Technology Industry

    Seiten: 7
    Dateigröße: 3.915 kB

    White Paper: EVO - Fisheye OptiBeam Mode

    Use the largest field of view yet devised for SEM for easy navigation across large specimens

    Seiten: 6
    Dateigröße: 591 kB

    In situ SEM and Raman Investigations on Graphene

    Comparison of graphene, graphene oxide and reduced graphene oxide

    Seiten: 5
    Dateigröße: 814 kB

    Concrete Crack Self-healing Materials Micro Structure Investigation

    Seiten: 5
    Dateigröße: 1.975 kB

    Application Note: Forensic Paint Analysis

    Seiten: 4
    Dateigröße: 952 kB

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