EVO-Produktfamilie
ZEISS EVO
Rasterelektronenmikroskop

ZEISS EVO-Produktfamilie

Modulare REM-Plattform mit intuitiver Bedienung für Routine- und Forschungsanwendungen

Die Instrumente der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene Anwender und Neulinge gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen präzise auf Ihre Anforderungen abgestimmt werden, unabhängig davon, ob Sie im Bereich Biowissenschaften oder Materialwissenschaften oder in der routinemäßigen industriellen Qualitätskontrolle und Fehleranalyse tätig sind.

  • Vielseitige Lösung für zentrale Mikroskopieeinrichtungen oder Labors für die industrielle Qualitätskontrolle
  • Verschiedene Kammergrößen und Probentischoptionen für alle Anforderungen – auch für große Industrieteile und Proben
  • Optimale Bildqualität mit dem Lanthanhexaborid-Emitter (LaB6)
  • Herausragendes Imaging und Analysen von nichtleitenden und unbeschichteten Proben
  • Verschiedene Analysedetektoren für anspruchsvolle Mikroanalyseanwendungen

Ihre Vorteile

SmartSEM Touch
SmartSEM Touch
Mit SmartSEM Touch kontrollieren Sie Workflows interaktiv mit Ihren Fingerspitzen.

Überlegene Benutzerfreundlichkeit

Mit SmartSEM Touch kontrollieren Sie Workflows interaktiv mit Ihren Fingerspitzen. Die Bedienung ist einfach zu erlernen, was den Schulungs- und Kostenaufwand deutlich reduziert. Selbst unerfahrene Nutzer können in Minutenschnelle fantastische Bilder erfassen. Diese Benutzeroberfläche unterstützt außerdem industrielle Anwender, die automatisierte Workflows für wiederkehrende Inspektionsaufgaben benötigen.

Höchste Datenqualität
Höchste Datenqualität
EVO erbringt Spitzenleistungen, wenn es um die Erfassung hochwertiger Daten aus unbeschichteten und unveränderten Proben geht.

Ausgezeichnete Bildqualität

EVO erbringt Spitzenleistungen, wenn es um die Erfassung hochwertiger Daten aus unbeschichteten und unveränderten Proben geht. Die Lösung stellt außerdem die Datenqualität hydrierter und stark verschmutzter Proben sicher, da diese Proben in ihrem nativen Zustand belassen werden können. Zusätzlich optimiert der LaB6-Emitter die Auflösung, den Kontrast und das Signal-Rausch-Verhältnis, was bei anspruchsvollen Imaging- und Mikroanalyseaufgaben extrem wichtig ist.

EVO kann als Teil eines halbautomatisierten, multimodalen Workflows konfiguriert werden.
EVO kann als Teil eines halbautomatisierten, multimodalen Workflows konfiguriert werden.
EVO kann als Teil eines halbautomatisierten, multimodalen Workflows konfiguriert werden.

Stark im Zusammenspiel

EVO kann als Teil eines halbautomatisierten, multimodalen Workflows konfiguriert werden. Dies wird ermöglicht durch das halbautomatisierte Wiederauffinden von relevanten Bereichen und das Sicherstellen der Integrität von Daten, die mithilfe mehrerer Verfahren erfasst wurden. Kombinieren Sie Daten aus der Licht- und Elektronenmikroskopie für die Materialcharakterisierung oder Teileprüfung. Oder kombinieren Sie EVO mit ZEISS Lichtmikroskopen für die korrelative Partikelanalyse.

Für Multi-User-Umgebungen

Einfache Bedienung für erfahrene und unerfahrene Nutzer

Je nach Laborumgebung kann die Bedienung des REM die alleinige Aufgabe erfahrener Elektronenmikroskopiker sein. Es kann aber auch die Notwendigkeit bestehen, dass unerfahrene Nutzer wie Studenten, Auszubildende oder Qualitätsingenieure Daten von einem REM benötigen. EVO berücksichtigt beide Gruppen mit Benutzeroberflächen, die auf die Nutzeranforderungen von erfahrenen Mikroskopikern und Neulingen gleichermaßen eingehen.

Expert users
Erfahrene Nutzer
Bevorzugtes UI: SmartSEM

Erfahrene Nutzer haben Zugriff auf erweiterte Imaging-Parameter und Analysefunktionen.

SmartSEM: Benutzeroberfläche und Controller für erfahrene Nutzer

SmartSEM: Benutzeroberfläche und Controller für erfahrene Nutzer

SmartSEM: Benutzeroberfläche und Controller für erfahrene Nutzer
SmartSEM: Benutzeroberfläche und Controller für erfahrene Nutzer

Novice users
Unerfahrene Nutzer
Bevorzugtes UI: SmartSEM Touch

Unerfahrene Nutzer haben Zugriff auf vordefinierte Workflows und die am häufigsten verwendeten Parameter – ideal für Anfänger.

SmartSEM Touch: vereinfachte Benutzeroberfläche, die von einem Touchscreen-PC ausgeführt wird

SmartSEM Touch: vereinfachte Benutzeroberfläche, die von einem Touchscreen-PC ausgeführt wird

SmartSEM Touch: vereinfachte Benutzeroberfläche, die von einem Touchscreen-PC ausgeführt wird
SmartSEM Touch: vereinfachte Benutzeroberfläche, die von einem Touchscreen-PC ausgeführt wird

Intelligente Navigation und Bilderfassung

Verbessern Sie Ihren Probendurchsatz und steigern Sie Produktivität und Leistung

ZEISS Navigationskameras
ZEISS Navigationskameras
ZEISS Navigationskameras

ZEISS Navigationskamera

Eine Kamera kann entweder an der Kammer montiert werden (Chamberscope), um die Position der Proben zu überwachen, die senkrecht zum am Polstück montierten Rückstreuelektronendetektor verlaufen, oder auf der Klappe der Vakuumkammer (Navigationskamera), um die Anordnung der Proben oder Werkstücke auf dem Probenhalter aus erhöhter Perspektive zu betrachten. Diese Ansicht bietet sich an, um relevante Bereiche zu definieren, die auf einem Lichtmikroskop-Bild identifiziert wurden, und um während der gesamten Probenuntersuchung einfach navigieren zu können.

Automatisiertes intelligentes Imaging
Automatisiertes intelligentes Imaging
Automatisiertes intelligentes Imaging

Automatisiertes intelligentes Imaging

EVO ermöglicht die automatisierte, unbeaufsichtigte Bilderfassung für mehrere Probenchargen. ZEISS Automated Intelligent Imaging ist perfekt für routinemäßige Untersuchungen geeignet. Je nach erforderlichem Bildausschnitt oder der gewünschten Vergrößerung können Nutzer Bereiche von Interesse festlegen und mit der automatisierten Erfassung beginnen. Das automatisierte intelligente Imaging verbessert Ihren Probendurchsatz, steigert die Produktivität und die Leistung.

Eine neue Qualität beim Untersuchen Ihrer Proben.

Bessere Daten mit dem Lanthanhexaborid-Emitter (LaB6)

Anstelle eines herkömmlichen Wolfram-Glühfadens sorgt die Elektronenemission einer Lanthanhexaborid-Kathode dafür, dass Sie jederzeit hochwertige Bilder erzeugen können. Diesen Vorteil können Sie auf zweierlei Arten nutzen:

  • Bei äquivalenten Elektronensondengrößen (d. h. Auflösungen) steht ein höherer Sondenstrom zur Verfügung, der die Bildnavigation und -optimierung deutlich einfacher macht.
  • Bei äquivalenten Sondenströmen (Signal-Rausch-Verhältnis) ist der Strahldurchmesser deutlich geringer, was die Bildauflösung verbessert.
Wolfram LaB6

Katalysatorpartikel, abgebildet mit hoher Vergrößerung und geringem kV-Wert (links Wolfram, rechts LaB6).
Bei schwierigen Imaging-Bedingungen profitieren LaB6-Nutzer von einem 10-mal helleren Elektronenstrahl, der für eine verbesserte Bildauflösung und höheren Kontrast sorgt.

EVO ist stark im Zusammenspiel.

Profitieren Sie von Workflow-Automatisierung und korrelativer Mikroskopie.

Shuttle & Find integriert EVO, zusammengesetzte Lichtmikroskope und digitale Mikroskope in einen korrelativen, multimodalen Workflow

Shuttle & Find integriert EVO, zusammengesetzte Lichtmikroskope und digitale Mikroskope in einen korrelativen, multimodalen Workflow

 

Da ZEISS der führende Anbieter verschiedenster Mikroskopie- und Metrologiesysteme ist, können Sie davon ausgehen, dass EVO sehr gut mit anderen ZEISS Lösungen zusammenarbeitet.

Mit Shuttle & Find, der ZEISS Hardware- und Softwareschnittstelle für korrelative Mikroskopie, können Sie einen hochproduktiven, multimodalen Workflow zwischen (digitalen) Lichtmikroskopen und EVO erstellen. Kombinieren Sie die spezifischen optischen Kontrastmethoden Ihres Lichtmikroskops mit den ebenfalls spezifischen Imaging- und Analysemethoden des REM, um komplementäre Daten und somit aussagekräftigere Informationen über die Materialqualität oder die Fehlerquelle Ihrer Probe zu erhalten.

EVO Element EDS

Integrierte energiedispersive Spektroskopielösung

Integrierte energiedispersive Spektroskopielösung

Integrierte energiedispersive Spektroskopielösung

EVO kann mit dem integrierten EDS-System EVO Element konfiguriert werden. Die Integration verbessert die Nutzbarkeit, da nur ein PC zur Steuerung des EDS-Systems und des REM benötigt wird. Zudem erlauben dedizierte Benutzeroberflächen eine parallele Steuerung von Mikroskop- und EDS-Funktionen.

Die EDS-Lösung EVO Element ist die erste Wahl, weil sie durch integrierte Komponenten und Synergien im Service und Support Preisvorteile bietet.

Die EVO-Produktfamilie

Verschiedene Vakuumkammergrößen

  ZEISS EVO 10 ZEISS EVO 15 ZEISS EVO 25
  Wählen Sie EVO 10 mit dem optionalen Rückstreudetektor und dem Element EDS-System zu einem außergewöhnlich erschwinglichen Preis für Ihren Einstieg in die Elektronenmikroskopie. Selbst diese kleinste der EVO-Vakuumkammern unterscheidet sich deutlich von Tisch-REMs. Mit dieser Investition sind Sie schon jetzt für zukünftige Anwendungen gerüstet, die mehr Platz und mehr Anschlüsse erfordern.
EVO 15 steht beispielhaft für das Flexibilitätskonzept der EVO-Produktfamilie und erbringt bei Analyseanwendungen Spitzenleistungen. Entscheiden Sie sich für die größere Vakuumkammer des EVO 15 und fügen Sie den VP-Modus für Bilderfassung und Analyse nichtleitender Proben hinzu. Erhalten Sie eine vielseitige Lösung für zentrale Mikroskopieeinrichtungen oder Labors für die industrielle Qualitätskontrolle.
EVO 25 ist die robuste Lösung für die Industrie, die ausreichend Platz für sehr große Werkstücke und Baugruppen bietet. Erweitern Sie EVO 25 optional mit einem Tisch mit 80 mm Z-Fahrweg, der selbst im gekippten Zustand ein Gewicht von bis zu 2 kg trägt. Die große Kammer bietet zudem Platz für mehrere Analysedetektoren zur Unterstützung anspruchsvollster Mikroanalyseanwendungen.
Maximale
Probenhöhe
100 mm 135 mm 210 mm
Maximaler
Probendurchmesser
200 mm 250 mm 300 mm
Motorisierter
Tisch mit XYZ-Fahrweg
80 x 100 x 35 mm 125 x 125 x 50 mm 130 x 130 x 50 (or 80) mm
High-Vacuum-(HV-)Modus
Erstklassiges Imaging und Analysen von leitfähigen Proben
  •  
  •  
  •  
Variable-Pressure-(VP-)Modus
Hochwertiges Imaging und Analysen von unbeschichteten, nichtleitenden Proben
  •  
  •  
  •  
Extended-Pressure-(EP-)-Modus
Imaging von hydrierten oder verschmutzten Proben in ihrem natürlichen Zustand
  •  
  •  
  •  

ZEISS EVO in der Anwendung

Anwendungsbeispiele

  • Fertigung und Montage

    Fertigung und Montage

    • Qualitätsanalyse/Qualitätskontrolle
    • Fehleranalyse/Metallografie
    • Prüfung auf Sauberkeit
    • Morphologische und chemische Analyse von Partikeln gemäß den Normen ISO 16232 und VDA 19 Teil 1 und 2
    • Analyse nichtmetallischer Einschlüsse
    Zinkphosphatbeschichtung, abgebildet mit SE-Detektor im Hochvakuum.

    Zinkphosphatbeschichtung, abgebildet mit SE-Detektor im Hochvakuum.

    Zinkphosphatbeschichtung, abgebildet mit SE-Detektor im Hochvakuum.
    Zinkphosphatbeschichtung, abgebildet mit SE-Detektor im Hochvakuum.

    Autositz-Schaumpolster, abgebildet ohne Beschichtung im variablen Druckmodus mit dem BSE-Detektor.

    Autositz-Schaumpolster, abgebildet ohne Beschichtung im variablen Druckmodus mit dem BSE-Detektor.

    Autositz-Schaumpolster, abgebildet ohne Beschichtung im variablen Druckmodus mit dem BSE-Detektor.
    Autositz-Schaumpolster, abgebildet ohne Beschichtung im variablen Druckmodus mit dem BSE-Detektor.

    Bruchfläche von Edelstahl, abgebildet mit Sekundärelektronen im Hochvakuum.

    Bruchfläche von Edelstahl, abgebildet mit Sekundärelektronen im Hochvakuum.

    Bruchfläche von Edelstahl, abgebildet mit Sekundärelektronen im Hochvakuum.
    Autositz-Schaumpolster, abgebildet ohne Beschichtung im variablen Druckmodus mit dem BSE-Detektor.

  • Halbleiter und Elektronik

    Halbleiter und Elektronik

    • Sichtprüfung von elektronischen Komponenten, integrierten Schaltungen, MEMS und Solarzellen
    • Untersuchung von Kupferdrahtoberflächen und Kristallstrukturen
    • Untersuchung von Metallkorrosion
    • Querschnittsfehleranalysen
    • Bondfuß-Untersuchungen
    • Imaging von Kondensatoroberflächen
    Untersuchung der Drahtverbindung mit Sekundärelektronen-Imaging im Hochvakuum oder variablen Druckmodus.

    Untersuchung der Drahtverbindung mit Sekundärelektronen-Imaging im Hochvakuum oder variablen Druckmodus.

    Untersuchung der Drahtverbindung mit Sekundärelektronen-Imaging im Hochvakuum oder variablen Druckmodus.
    Untersuchung der Drahtverbindung mit Sekundärelektronen-Imaging im Hochvakuum oder variablen Druckmodus.

    Korrodierte Nickelschicht, abgebildet mit Sekundärelektronen

    Korrodierte Nickelschicht, abgebildet mit Sekundärelektronen

    Korrodierte Nickelschicht, abgebildet mit Sekundärelektronen
    Korrodierte Nickelschicht, abgebildet mit Sekundärelektronen

    SE-Bild, das die Entstehung eines Haarkristalls auf einem elektronischen Gerät zeigt.

    SE-Bild, das die Entstehung eines Haarkristalls auf einem elektronischen Gerät zeigt.

    SE-Bild, das die Entstehung eines Haarkristalls auf einem elektronischen Gerät zeigt.
    SE-Bild, das die Entstehung eines Haarkristalls auf einem elektronischen Gerät zeigt.

  • Stahl und andere Metalle

    Stahl und andere Metalle

    • Imaging und Analyse der Struktur, chemischen Zusammensetzung und Kristallografie von metallischen Proben und Einschlüssen
    • Analyse von Phasen, Partikeln, Schweißnähten und Fehlstellen
    Querschnitt von verzinktem Weichstahl, abgebildet mit dem SE-Detektor auf EVO 15.

    Querschnitt von verzinktem Weichstahl, abgebildet mit dem SE-Detektor auf EVO 15.

    Querschnitt von verzinktem Weichstahl, abgebildet mit dem SE-Detektor auf EVO 15.
    Querschnitt von verzinktem Weichstahl, abgebildet mit dem SE-Detektor auf EVO 15.

    Oberfläche von S355-Stahl nach dem Strahlen mit Edelkorund F80.

    Oberfläche von S355-Stahl nach dem Strahlen mit Edelkorund F80.

    Oberfläche von S355-Stahl nach dem Strahlen mit Edelkorund F80.
    Oberfläche von S355-Stahl nach dem Strahlen mit Edelkorund F80.
    Imaged with the BSE detector on EVO 15. Sample: courtesy of TWI Ltd, UK

    Oberfläche einer Titanlegierung (Ti-6Al-4V), additiv gefertigt durch selektives Laserschmelzen, zeigt vollständig geschmolzene Bereiche neben ungeschmolzenen Ti-6Al-4V-Partikeln und anderen Materialien.

    Oberfläche einer Titanlegierung (Ti-6Al-4V), additiv gefertigt durch selektives Laserschmelzen, zeigt vollständig geschmolzene Bereiche neben ungeschmolzenen Ti-6Al-4V-Partikeln und anderen Materialien.

    Oberfläche einer Titanlegierung (Ti-6Al-4V), additiv gefertigt durch selektives Laserschmelzen, zeigt vollständig geschmolzene Bereiche neben ungeschmolzenen Ti-6Al-4V-Partikeln und anderen Materialien.
    Oberfläche einer Titanlegierung (Ti-6Al-4V), additiv gefertigt durch selektives Laserschmelzen
    zeigt vollständig geschmolzene Bereiche neben ungeschmolzenen Ti-6Al-4V-Partikeln und anderen Materialien.

  • Rohstoffe

    Rohstoffe

    • Morphologie, Mineralogie und kompositorische Analysen von geologischen Proben
    • Imaging und Analyse von Metallstrukturen, Frakturen und nichtmetallischen Einschlüssen
    • Morphologische und kompositorische Analysen von chemischen Rohstoffen und Wirkstoffen bei Mikronisierungs- und Granulationsprozessen
    Mineralogische Abbildung von Blauschiefer; Probe mit freundlicher Genehmigung von S. Owen

    Mineralogische Abbildung von Blauschiefer; Probe mit freundlicher Genehmigung von S. Owen

    Mineralogische Abbildung von Blauschiefer; Probe mit freundlicher Genehmigung von S. Owen
    Mineralogische Abbildung von Blauschiefer; Probe mit freundlicher Genehmigung von S. Owen

    Kupferschlackepartikel aus großer Kupferhütte in Sambia; Probe mit freundlicher Genehmigung von Petrolab, Großbritannien

    Kupferschlackepartikel aus großer Kupferhütte in Sambia; Probe mit freundlicher Genehmigung von Petrolab, Großbritannien

    Kupferschlackepartikel aus großer Kupferhütte in Sambia; Probe mit freundlicher Genehmigung von Petrolab, Großbritannien
    Kupferschlackepartikel aus großer Kupferhütte in Sambia; Probe mit freundlicher Genehmigung von Petrolab, Großbritannien

    Peralkaliner Granit, Nord-Québec (Kanada) mit Seltene-Erden-Anteilen, einschließlich einer Fluoritader, die die Probe durchschneidet, und abgegrenztem Zirkon.

    Peralkaliner Granit, Nord-Québec (Kanada) mit Seltene-Erden-Anteilen, einschließlich einer Fluoritader, die die Probe durchschneidet, und abgegrenztem Zirkon.

    Peralkaliner Granit, Nord-Québec (Kanada) mit Seltene-Erden-Anteilen, einschließlich einer Fluoritader, die die Probe durchschneidet, und abgegrenztem Zirkon.
    Peralkaliner Granit, Nord-Québec (Kanada) mit Seltene-Erden-Anteilen, einschließlich einer Fluoritader, die die Probe durchschneidet, und abgegrenztem Zirkon.

  • Materialwissenschaft

    Materialwissenschaft

    • Charakterisierung von leitfähigen und nichtleitenden Materialproben zu Forschungszwecken
    Ausdehnung und Risse überspannendes Netzwerk von selbstheilenden Mineralien, abgebildet mit einem SE-Detektor bei 12 kV, zeigt blumenähnliche Hydromagnesitstrukturen.

    Ausdehnung und Risse überspannendes Netzwerk von selbstheilenden Mineralien, abgebildet mit einem SE-Detektor bei 12 kV, zeigt blumenähnliche Hydromagnesitstrukturen.

    Ausdehnung und Risse überspannendes Netzwerk von selbstheilenden Mineralien, abgebildet mit einem SE-Detektor bei 12 kV, zeigt blumenähnliche Hydromagnesitstrukturen.
    Ausdehnung und Risse überspannendes Netzwerk von selbstheilenden Mineralien
    abgebildet mit einem SE-Detektor bei 12 kV, zeigt blumenähnliche Hydromagnesitstrukturen.

    Graphen-Schaum-Struktur eines Batteriesystems, abgebildet im Hochvakuum mit dem SE-Detektor.

    Graphen-Schaum-Struktur eines Batteriesystems, abgebildet im Hochvakuum mit dem SE-Detektor.

    Graphen-Schaum-Struktur eines Batteriesystems, abgebildet im Hochvakuum mit dem SE-Detektor.
    Graphen-Schaum-Struktur eines Batteriesystems, abgebildet im Hochvakuum mit dem SE-Detektor.

    Verbundwerkstoffe für die Luft- und Raumfahrt, abgebildet mit dem C2D-Detektor bei 10 kV im VP-Modus.

    Verbundwerkstoffe für die Luft- und Raumfahrt, abgebildet mit dem C2D-Detektor bei 10 kV im VP-Modus.

    Verbundwerkstoffe für die Luft- und Raumfahrt, abgebildet mit dem C2D-Detektor bei 10 kV im VP-Modus.
    Verbundwerkstoffe für die Luft- und Raumfahrt, abgebildet mit dem C2D-Detektor bei 10 kV im VP-Modus.

  • Biowissenschaften

    Biowissenschaften

    • Erforschung von Pflanzen, Tieren und Mikroorganismen
    Falschfarbendarstellung von Mehltau auf der Oberseite eines Blatts, abgebildet mit dem C2DX-Detektor bei 570 Pa, Wasserdampf bei 1 °C, 20 kV.

    Falschfarbendarstellung von Mehltau auf der Oberseite eines Blatts, abgebildet mit dem C2DX-Detektor bei 570 Pa, Wasserdampf bei 1 °C, 20 kV.

    Falschfarbendarstellung von Mehltau auf der Oberseite eines Blatts, abgebildet mit dem C2DX-Detektor bei 570 Pa, Wasserdampf bei 1 °C, 20 kV.
    Falschfarbendarstellung von Mehltau auf der Oberseite eines Blatts, abgebildet mit dem C2DX-Detektor bei 570 Pa, Wasserdampf bei 1 °C, 20 kV.

    Detail eines Pseudoskorpions, abgebildet mit dem BSE-Detektor im Hochvakuum bei 20 kV.

    Detail eines Pseudoskorpions, abgebildet mit dem BSE-Detektor im Hochvakuum bei 20 kV.

    Detail eines Pseudoskorpions, abgebildet mit dem BSE-Detektor im Hochvakuum bei 20 kV.
    Detail eines Pseudoskorpions, abgebildet mit dem BSE-Detektor im Hochvakuum bei 20 kV.

    Baumpollen, abgebildet mit dem EP- und C2DX-Detektor bei knapp 100 % relativer Feuchte.

    Baumpollen, abgebildet mit dem EP- und C2DX-Detektor bei knapp 100 % relativer Feuchte.

    Baumpollen, abgebildet mit dem EP- und C2DX-Detektor bei knapp 100 % relativer Feuchte.
    Baumpollen, abgebildet mit dem EP- und C2DX-Detektor bei knapp 100 % relativer Feuchte.

  • Forensik

    Forensik

    • Schmauchspuren
    • Analyse von Lack und Glas
    • Gefälschte Banknoten und Münzen
    • Vergleich von Haaren und Fasern
    • Forensische Toxikologie
    Geschmolzenes Glas, das auf einer Wolframwendel erstarrt ist

    Geschmolzenes Glas, das auf einer Wolframwendel erstarrt ist, weist darauf hin, dass die Glühbirne zum Zeitpunkt des Vorfalls geleuchtet hat

    Geschmolzenes Glas, das auf einer Wolframwendel erstarrt ist
    Geschmolzenes Glas, das auf einer Wolframwendel erstarrt ist
    weist darauf hin, dass die Glühbirne zum Zeitpunkt des Vorfalls geleuchtet hat

    abgebildet mit dem C2D-Detektor bei 20 kV, 30 Pa.

    Der C2D-Detektor erzeugt ausgezeichnete Bilder von unbeschichteten Proben im variablen Druckmodus

    Der C2D-Detektor erzeugt ausgezeichnete Bilder von unbeschichteten Proben im variablen Druckmodus

    Der C2D-Detektor erzeugt ausgezeichnete Bilder von unbeschichteten Proben im variablen Druckmodus
    Der C2D-Detektor erzeugt ausgezeichnete Bilder von unbeschichteten Proben im variablen Druckmodus
    was für forensische Vergleiche von Fasern ideal ist

    Die Spur eines Schlagbolzens auf dem Schusswaffengehäuse

    Spur eines Schlagbolzens auf dem Schusswaffengehäuse

    Die Spur eines Schlagbolzens auf dem Schusswaffengehäuse
    Die Spur eines Schlagbolzens auf dem Schusswaffengehäuse
    kann zur Identifizierung der Waffe verwendet werden

    Abgebildet mit dem SE-Detektor bei 10 kV.


Downloads

ZEISS EVO-Produktfamilie

Ihre modulare REM-Plattform mit intuitiver Bedienung fur Routine- und Forschungsanwendungen

Seiten: 34
Dateigröße: 12.075 kB

Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolle

Erfassen Sie das Wesen Ihres Bauteils: Schnell. Einfach. Übergreifend. >>> PDF für Darstellung am Monitor in geringer Auflösung. Bitte nehmen Sie Kontakt mit uns auf, um eine gedruckte Version zu bestellen.

Seiten: 41
Dateigröße: 5.601 kB

White Paper: Beam Deceleration Imaging with ZEISS EVO

Receive high quality images with enhanced surface contrast and topographical detail for low kV imaging and life science samples

Seiten: 6
Dateigröße: 845 kB

White Paper: Python Blood Analysis by STEM

Seiten: 7
Dateigröße: 5.371 kB

White Paper: Coolstage benefits on ZEISS EVO

Seiten: 6
Dateigröße: 5.021 kB

White Paper: Imaging Solutions for the Paper Technology Industry

Seiten: 7
Dateigröße: 3.915 kB

White Paper: EVO - Fisheye OptiBeam Mode

Use the largest field of view yet devised for SEM for easy navigation across large specimens

Seiten: 6
Dateigröße: 591 kB

Enhancing Material Inspection and Characterization Information and Data Integrity

By Combining Light and Scanning Electron Microscopy in a Correlative Workflow

Seiten: 8
Dateigröße: 1.456 kB

Concrete Crack Self-healing Materials Micro Structure Investigation

Seiten: 5
Dateigröße: 1.975 kB

Application Note: Forensic Paint Analysis

Seiten: 4
Dateigröße: 952 kB

Wir verwenden Cookies auf dieser Website. Cookies sind kleine Textdateien, die von Websites auf Ihrem Computer gespeichert werden. Cookies sind weit verbreitet und helfen Seiten optimiert darzustellen und zu verbessern. Durch die Nutzung unserer Seiten erklären Sie sich damit einverstanden. mehr