GeminiSEM-Produktfamilie – für höchste Anforderungen in den Bereichen Imaging und Analysen von beliebigen Proben

ZEISS GeminiSEM – Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

Für höchste Anforderungen an Imaging und Analysen von beliebigen Proben

Die GeminiSEM Familie steht für müheloses Imaging mit Auflösungen im Subnanometerbereich und hoher Detektionseffizienz – selbst bei niedrigem Kammerdruck. Verlassen Sie sich auf oberflächenempfindliches Imaging und Analysen und profitieren Sie von höchster Probenflexibilität. Wählen Sie ein flexibles und zuverlässiges Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) für Ihre Forschungstätigkeit in den Material- oder Biowissenschaften, für Ihr Industrielabor oder eine Imaging-Einrichtung.

Mit der GeminiSEM-Familie erhalten Sie stets ausgezeichnete Bilder und zuverlässige Analysen von echten Proben.

  • Mit GeminiSEM 500 erhalten Sie ein höheres Detektionssignal und mehr Details, insbesondere bei niedrigen Spannungen. Sein druckvariabler Modus vermittelt Ihnen das Gefühl, im Hochvakuum zu arbeiten.
  • GeminiSEM 450 ist die beste Lösung, was Geschwindigkeit und Oberflächenempfindlichkeit angeht. Profitieren Sie von einem benutzerfreundlichen Design und Flexibilität für Imaging- und Analyseaufgaben.
  • Mit GeminiSEM 300 erleben Sie eine hohe Auflösung und intensive Kontraste. Sie werden feststellen, dass dieses Mikroskop vor allem für unerfahrene Nutzer geeignet ist. Bilden Sie extrem große Bildfelder ohne Bildverzerrung ab. Wählen Sie die Umgebungsbedingungen aus, die für Ihre Probe am besten geeignet sind – ob im Hoch- oder Niedervakuum.

Die Produktfamilie

Bilden Sie beliebige Proben mühelos mit einer Auflösung im Sub-Nanometerbereich und einer hohen Detektionseffizienz ab. Verlassen Sie sich auf oberflächenempfindliche Analysen und nutzen Sie den druckvariablen Modus. Profitieren Sie von höchster Probenflexibilität. 

GeminiSEM – scharfes Bild

Mehr Signal und mehr Details


Mit GeminiSEM 500 erhalten Sie ein höheres Detektionssignal und mehr Details zu beliebigen Proben, insbesondere bei niedrigen Spannungen. Erfassen Sie gestochen scharfe Bilder – schnell und mit minimaler Beschädigung der Probe.

  • Erhalten Sie gestochen scharfe Bilder schnell und mit minimaler Probenschädigung dank deutlich intensiviertem Inlens-Detektionssignal.
  • Entdecken Sie bei niedrigen Spannungen Details im Nanometerbereich mit hoher Auflösung und hohem Kontrast und profitieren Sie von einer perfekten Bildqualität ohne Vorspannung.
  • Bei 500 V erzielen Sie selbst ohne Strahlabbremsung eine Auflösung von 1,0 nm und eine perfekte Bildqualität.
  • Wenden Sie mithilfe der Tandem-decel-Option eine Strahlabbremsung an, um bei 1 kV sogar bis zu 0,8 nm Auflösung zu erreichen.
  • Der neue druckvariable Modus NanoVP vermittelt Ihnen das Gefühl, im Hochvakuum zu arbeiten.  
GeminiSEM – EBSD einer Münze

Geschwindigkeit und Oberflächenempfindlichkeit für Imaging und Analysen

GeminiSEM 450 ist die beste Lösung, wenn bei Imaging und Analysen Geschwindigkeit und Oberflächenempfindlichkeit gefragt ist. Erzielen Sie bei EDX- oder EBSD-Experimenten schnell und einfach eine räumliche Auflösung.
 
  • Nutzen Sie die Vorteile einer hohen Auflösung und Oberflächenempfindlichkeit für Ihre EDX- oder EBSD-Analysen vor allem dann, wenn Sie mit geringen Spannungen arbeiten.
  • Bilden Sie große Bereiche Ihrer Probe mit exzellenter Bildqualität ab.
  • Profitieren Sie vom optischen Design: Sie verlieren bei der Arbeit keine Zeit mit komplizierten Justierungen der Elektronenoptik.
  • Untersuchen Sie nicht leitende, magnetische oder sonstige beliebige Proben: Arbeiten Sie im Hochvakuum oder bei variablem Druck, ohne Kompromisse hinsichtlich der Geschwindigkeit oder Qualität Ihrer Bilder und Analysen eingehen zu müssen.
GeminiSEM – magnetische Materialien

Flexibles Imaging


Mit GeminiSEM 300 erleben Sie eine hohe Auflösung und intensive Kontraste auch bei großen Sehfeldern. Es wird vor allem, aber nicht ausschließlich, von unerfahrenen Nutzern gern für die Arbeit im Hoch- und Niedervakuum eingesetzt.

  • Bilden Sie große Sehfelder mit exzellenter Bildqualität und kurzer Bilderfassungszeit ab.
  • Setzen Sie auf eine effiziente Detektion, eine hervorragende Auflösung und verzerrungsfreie Abbildungen von großen Bildfeldern.
  • Profitieren Sie von dem neuartigen hochauflösenden Quellenmodus des optischen Designs, der für das Imaging von anspruchsvollen Proben, wie strahlenempfindlichen oder magnetischen Materialien, konzipiert wurde.
  • Charakterisieren Sie Ihre Probe umfassend: Mit dem energieselektiven Rückstreuelektronendetektor erhalten Sie einen einzigartigen Materialkontrast bei niedriger Spannung.
  • Nutzen Sie den NanoVP-Modus: Bilden Sie nicht leitende Proben mit dem Inlens SE Detektor bei hoher Auflösung und mit herausragender Oberflächenempfindlichkeit und hohen Drücken ab.
Wichtige Spezifikationen
ZEISS GeminiSEM 500 ZEISS GeminiSEM 450 ZEISS GeminiSEM 300
  Thermischer Feldemitter, Stabilität besser als 0,2 %/h
Beschleunigungsspannung
  0.02 - 30 kV  
Sondenstrom
3 pA - 20 nA 3 pA - 40 nA 3 pA - 20 nA
(Konfiguration mit 100 nA ebenfalls verfügbar)
(Konfiguration mit 100 nA oder 300 nA
ebenfalls verfügbar)
(Konfiguration mit 100 nA ebenfalls verfügbar)
Bildspeicherauflösung
  Bis zu 32.000 × 24.000 Pixel
 
Vergrößerung
50 – 2,000,000 12 – 2,000,000 12 – 2,000,000
Detektoren in Basiskonfiguration verfügbar
  Inlens-Sekundärelektronendetektor
 
  Everhart-Thornley-Sekundärelektronendetektor
 
  Hocheffizienter VPSE-Detektor (enthalten in der
Option mit variablem Druck)
 
Ausgewählte Optionen
  Inlens EsB Detektor (energieselektiver
Rückstreuelektronendetektor)
 
- Winkelselektiver Rückstreuelektronendetektor
Winkelselektiver Rückstreuelektronendetektor
  Ringförmiger STEM-Detektor (aSTEM 4)
 
  EDX-Detektor (energiedispersive
Röntgen-(X-ray)-Spektroskopie)
 
  Untersuchung der Kristallorientierung mit einem
EBSD-Detektor (Rückstreuelektronenbeugung)
 
  NanoVP  
  Lokale Ladungskompensation
 
  Weitere Tischoptionen auf Anfrage verfügbar
 

Die Technologie hinter ZEISS GeminiSEM

Gemini-Elektronenoptik

  • Gemini-Grundlagen
    Die optische Gemini-Säule besteht aus einem Beambooster, Inlens-Detektoren und einem Gemini-Objektiv.

    Die optische Gemini-Säule besteht aus einem Beambooster, Inlens-Detektoren und einem Gemini-Objektiv.

    Gemini 1 - die Grundlagen

    Feldemissions-SEMs wurden für hochauflösendes Imaging entwickelt. Der Schlüssel zur Leistungsfähigkeit eines Feldemissions-SEM liegt in seiner elektronenoptischen Säule. Gemini ist für die herausragende Auflösung von jeder Probe, insbesondere bei niedrigen Beschleunigungsspannungen, optimiert und sorgt für eine umfassende und effiziente Detektion und Benutzerfreundlichkeit.

    Die Gemini-Optik zeichnet sich durch drei Hauptkomponenten aus:

    • Das Gemini-Objektivlinsendesign kombiniert elektrostatische und magnetische Felder, um die optische Performance zu maximieren und gleichzeitig die Feldeinflüsse auf die Probe auf ein Minimum zu reduzieren. Dies ermöglicht ein ausgezeichnetes Imaging auch bei schwierigen Proben wie magnetischen Materialien.
    • Die Gemini-Beambooster-Technologie, eine integrierte Strahlabbremsung, ermöglicht geringe Sondengrößen und ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis.
    • Das Gemini-Konzept der Inlens-Detektion gewährleistet eine effiziente Signaldetektion durch parallele Erfassung von Sekundärelektronen (SE) und Rückstreuelektronen (BSE) bei einer verringerten Bilderfassungszeit.

    Sie profitieren für Ihre Anwendungen von Folgendem:

    • von langfristiger Stabilität der SEM-Justage und einer mühelosen Anpassung aller Systemparameter wie Sondenstromstärke und Beschleunigungsspannung.
    • von verzerrungsfreiem, hochauflösendem Imaging mithilfe von nahezu magnetfeldfreier Optik.
    • Sie erhalten Informationen, die ausschließlich aus den obersten Schichten Ihrer Proben stammen. Der Inlens SE Detektor erzeugt Bilder mithilfe der echten, oberflächenempfindlichen SE1-Elektronen.
    • Sie erzielen einen ausgezeichneten Materialkontrast bei sehr geringen Spannungen mit dem Detektionskonzept des Inlens EsB Detektors.
  • Gemini 1 und seine Neuheiten
    Neuartiges optisches Design der Gemini-Säule

    GeminiSEM 300 und GeminiSEM 500.
    Hochauflösender Quellenmodus, Tandem decel und Nano-twin-Linse als Teil des neuartigen optischen Designs (hervorgehoben). Die Nano-twin-Linse ist nur bei GeminiSEM 500 verfügbar (rot hervorgehoben).

    Gemini 1 Neuigkeiten – die Entwicklung schreitet voran

    Heutige SEM-Anwendungen erfordern standardmäßig hochauflösendes Imaging bei geringer Landeenergie bzw. Beschleunigungsspannung.

    Das ist wichtig für:

    • strahlenempfindliche Proben
    • nicht leitende Materialien
    • die Erfassung aussagekräftiger Informationen zur Probenoberfläche ohne unerwünschte Hintergrundsignale von tieferen Probenschichten.

    Die neuartige Gemini-Optik ist optimiert für Auflösungen bei geringen und sehr geringen Spannungen sowie zur Kontrastverbesserung. Zu den technologischen Merkmalen zählen der hochauflösende Quellenmodus, die Nano-twin-Linse von GeminiSEM 500 und die optionale Tandem-decel-Option.


    Der hochauflösende Quellenmodus ermöglicht Folgendes:

    • Eine minimierte chromatische Aberration, da die primäre Energiebreite um 30 % reduziert wird
    • Noch kleinere Sondengrößen


    Die Nano-twin Linse bietet:

    • eine verbesserte Auflösung bei niedrigen und extrem niedrigen Spannungen durch Optimierung der Geometrie und der elektrostatischen und magnetischen Feldverteilung.
    • ein verbessertes Signal des Inlens-Detektors beim Imaging mit niedriger Spannung.

    Mit Tandem decel können Sie hochauflösendes Imaging bei geeigneten Proben optimieren:

    • Tandem decel, ein zweistufiger Abbremsungsmodus, kombiniert die Beambooster-Technologie mit einer hohen negativen Vorspannung, die an die Probe angelegt wird: Die Elektronen des primären Elektronenstrahls werden abgebremst, wodurch die Auftrittsenergie effektiv reduziert wird.
    • Verwenden Sie diesen, um die Auflösung unter 1 kV weiter zu verbessern und die Detektionseffizienz von BSD-Detektoren zu verstärken.
    • Das Anlegen einer Vorspannung von bis zu 5 kV im optionalen Tandem decel-Modus verbessert die herausragende Imaging-Leistung bei geringen Spannungen noch zusätzlich.


  • Gemini 2
    ZEISS GeminiSEM 450: Gemini 2-Säule mit Doppelkondensor, zwei Inlens-Detektoren und NanoVP oder lokaler Ladungskompensation

    ZEISS GeminiSEM 450:
    Gemini 2-Säule mit Doppelkondensor, zwei Inlens-Detektoren und NanoVP oder lokaler Ladungskompensation

    Nutzen Sie die Gemini 2 Optik

    Eine umfassende Charakterisierung beliebiger Proben verlangt nach einer hohen Leistung bei Imaging- und Analyseaufgaben. Außerdem erwarten moderne Nutzer, dass sich Instrumente einfach einrichten und bedienen lassen. Die Gemini 2-Optik wird diesen Anforderungen gerecht:
    • GeminiSEM 450 verfügt über Gemini 2-Optik mit einem Doppelkondensor.
    • Sie können den Strahlstrom fortlaufend anpassen, während die Spotgröße gleichzeitig optimiert wird.
    • Wechseln Sie nahtlos zwischen hochauflösendem Imaging bei niedrigen Strahlströmen und Analysemodi bei hohen Strahlströmen.
    • Da der Strahl nach Änderung der Imaging-Parameter nicht neu justiert werden muss, sparen Sie Zeit und Aufwand.
    • Bleiben Sie flexibel: Nutzen Sie die höchste Strahlstromdichte für hochauflösendes Imaging und Analysen bei niedrigem und hohem Strahlstrom – egal, welche Strahlungsenergie Sie auswählen.
    • Ihre Probe wird keinem Magnetfeld ausgesetzt. Dadurch erreichen Sie verzerrungsfreie EBSD-Muster und hochauflösendes Imaging über ein großes Sehfeld.
    • Neigen Sie die Probe, ohne die elektronenoptische Leistung zu beeinflussen. Bilden Sie selbst magnetische Proben einfach ab.
    • Wählen Sie einen Modus zur Ladungsreduzierung aus, der am besten für Ihre Probe geeignet ist: lokale Ladungskompensation, variabler Druck in der Kammer oder NanoVP.
  • Druck-Optionen
    NanoVP: Blende mit isolierendem O-Ring unterhalb der Gemini-Objektivlinse in der SEM-Kammer

    NanoVP: Blende mit isolierendem O-Ring unterhalb der Gemini-Objektivlinse in der SEM-Kammer

    NanoVP – Gewinnen Sie Flexibilität im variablen Druck-Modus

    Die NanoVP-Technologie liefert die beste Methode, die Aufladung nicht leitender Proben zu reduzieren, ohne die Funktionen der Inlens-Detektion und die Auflösung zu beeinträchtigen.

    • Verringern Sie die Aufladung nicht leitfähiger Proben.
    • Die NanoVP-Technologie reduziert die Stahlverbreiterung und ermöglicht damit sowohl Imaging mit hochauflösenden Details als auch echte Inlens-Detektion bis zu 150 Pa.
    • Daher können Inlens SE und EsB Detektoren sogar gleichzeitig im VP-Modus für hochauflösende Oberflächendarstellung und Materialkontrast-Imaging eingesetzt werden.
    • Für Ihre schwierigsten Proben kann der Kammerdruck bei Nutzung der VPSE-Detektion sogar bis 500 Pa erhöht werden.
       

Anwendung

  • Materialwissenschaften
    Precursor-Material für funktionale Oberflächen, Gold-Nanopartikel auf Polystyrol-Kugel, aufgenommen mit GeminiSEM 500 bei 3 kV.

    Precursor-Material für funktionale Oberflächen, Gold-Nanopartikel auf Polystyrol-Kugel, aufgenommen mit GeminiSEM 500 bei 3 kV

    Precursor-Material für funktionale Oberflächen, Gold-Nanopartikel auf Polystyrol-Kugel, aufgenommen mit GeminiSEM 500 bei 3 kV.
    Precursor-Material für funktionale Oberflächen, Gold-Nanopartikel auf Polystyrol-Kugel, aufgenommen mit GeminiSEM 500 bei 3 kV.

    Links: Inlens-SE-Bild, Oberflächentopografie
    Rechts: EsB-Bild, Materialkontrast
    Probe mit freundlicher Genehmigung von N. Vogel, Universität Erlangen-Nürnberg, Deutschland.

    Geätzte Silizium-Nanostrukturen bei 50 V, keine Probenvorspannung; abgebildet mit GeminiSEM 500.

    Geätzte Silizium-Nanostrukturen bei 50 V, keine Probenvorspannung; abgebildet mit GeminiSEM 500
    Probe mit freundlicher Genehmigung von A. Charai, Universität Aix-Marseille, Frankreich.

    Geätzte Silizium-Nanostrukturen bei 50 V, keine Probenvorspannung; abgebildet mit GeminiSEM 500.
    Geätzte Silizium-Nanostrukturen bei 50 V, keine Probenvorspannung; abgebildet mit GeminiSEM 500.

    Probe mit freundlicher Genehmigung von I. Charai, Universität Aix-Marseille, Frankreich.

    Kobalt-Katalysator mit Silizium-Träger

    Der Kobalt-Katalysator mit Silizium-Träger wird mithilfe von hochauflösendem Imaging und EDX-Analysen bei 25 kV charakterisiert; aufgenommen mit GeminiSEM 450 und EDS-Detektor Oxford Ultimax 170.

    Kobalt-Katalysator mit Silizium-Träger
    Kobalt-Katalysator mit Silizium-Träger

    Charakterisierung mithilfe von hochauflösendem Imaging und EDX-Analysen bei 25 kV; aufgenommen mit GeminiSEM 450 und EDX-Detektor Oxford Ultimax 170 Kobalt-Nanopartikel von ca. 10 nm, die in mesoporösem Silizium eingebettet sind. Abgebildet mit hoher Auflösung und aSTEM-Detektor; überlagert mit dem EDX-Elementverteilungsbild Bei der Fischer-Tropsch-Synthese erwies sich der 10 nm dünne Kobalt-Katalysator als besonders aktiv und selektiv, was die Bildung von Kohlenwasserstoff anging.

    Metallschäume wie dieser offenzellige Nickelschaum finden breite Verwendung als Kathodensubstrat in Batterien oder Superkondensatoren.

    Metallschäume wie dieser offenzellige Nickelschaum finden breite Verwendung als Kathodensubstrat in Batterien oder Superkondensatoren.

    Metallschäume wie dieser offenzellige Nickelschaum finden breite Verwendung als Kathodensubstrat in Batterien oder Superkondensatoren.
    Metallschäume wie dieser offenzellige Nickelschaum finden breite Verwendung als Kathodensubstrat in Batterien oder Superkondensatoren.

    Dieser stark topographische Schaum zeichnet sich durch eine hohe Tiefenschärfe (DOF) aus, wobei der Inlens SE-Detektor in einem GeminiSEM 450 bei 8 kV verwendet wird.

    Bruch-Oberfläche eines NdFeB-Magnets

    Bruch-Oberfläche eines NdFeB-Magnets

    Bruch-Oberfläche eines NdFeB-Magnets
    Bruch-Oberfläche eines NdFeB-Magnets

    Überlagerung des SE-Bilds oben mit einer farbkodierten Elementkarte (rosa: Neodym, türkis: Praseodym, gelb: Eisen, blau: Sauerstoff, grau: SEM-Bild); erfasst mit GeminiSEM 450 bei 15 kV und EDX-Detektor. (SE-Topografie des obigen Bilds)

    Untersuchung der Bruch-Oberfläche eines NdFeB-Magnets (entmagnetisiert) mit GeminiSEM 450

    Untersuchung der Bruch-Oberfläche eines NdFeB-Magnets (entmagnetisiert) mit GeminiSEM 450

    Untersuchung der Bruch-Oberfläche eines NdFeB-Magnets (entmagnetisiert) mit GeminiSEM 450
    Untersuchung der Bruch-Oberfläche eines NdFeB-Magnets (entmagnetisiert) mit GeminiSEM 450

    Bild erfasst mit einem ringförmigen Rückstreuelektronendetektor (aBSD) in GeminiSEM 450 bei 3 kV ohne Vorspannung; dabei wird die Tatsache genutzt, dass der aBSD-Detektor mit 6 Segmenten über eine winkelselektive BSE-Detektion verfügt. BSEs mit hohem Streuwinkel enthalten Informationen zur Zusammensetzung der Oberfläche und werden vom inneren Ring des aBSD-Detektors erkannt. Dadurch entstehen Bilder mit hohem Materialkontrast.

    Die Kathode einer Lithium-Ionen-Batterie zeigt bei 500 V keine Strahlschädigung des sensiblen Bindemittelmaterials.

    Die Kathode einer Lithium-Ionen-Batterie zeigt bei 500 V keine Strahlschädigung des sensiblen Bindemittelmaterials.

    Die Kathode einer Lithium-Ionen-Batterie zeigt bei 500 V keine Strahlschädigung des sensiblen Bindemittelmaterials.
    Die Kathode einer Lithium-Ionen-Batterie zeigt bei 500 V keine Strahlschädigung des sensiblen Bindemittelmaterials.

    Probe mit freundlicher Genehmigung von T. Bernthaler, Institut für Materialforschung Aalen, Deutschland.

    Kathode einer Lithium-Ionen-Batterie. Das Mapping der Zusammensetzung mit EDX zeigt die Hauptbestandteile der verschiedenen Oxide.

    Kathode einer Lithium-Ionen-Batterie. Das Mapping der Zusammensetzung mit EDX zeigt die Hauptbestandteile der verschiedenen Oxide.

    Kathode einer Lithium-Ionen-Batterie. Das Mapping der Zusammensetzung mit EDX zeigt die Hauptbestandteile der verschiedenen Oxide.
    Kathode einer Lithium-Ionen-Batterie. Das Mapping der Zusammensetzung mit EDX zeigt die Hauptbestandteile der verschiedenen Oxide.

    Probe mit freundlicher Genehmigung von T. Bernthaler, Institut für Materialforschung Aalen, Deutschland.

  • Biowissenschaften
    Mottenflügel, Inlens SE Detektor bei 50 V im Hochvakuum

    Mottenflügel, Inlens SE Detektor bei 50 V im Hochvakuum

    Mottenflügel, Inlens SE Detektor bei 50 V im Hochvakuum
    Mottenflügel, Inlens SE Detektor bei 50 V im Hochvakuum

    Kein Aufladeeffekt, wenn eine besonders niedrige Spannung von 50 V anliegt.

    Hirnschnitt, großes Bildfeld, abgebildet mit 3View® in Kombination mit GeminiSEM 300

    Hirnschnitt, großes Bildfeld, abgebildet mit 3View® in Kombination mit GeminiSEM 300

    Hirnschnitt, großes Bildfeld, abgebildet mit 3View® in Kombination mit GeminiSEM 300
    Brain section, large field of view

    Abgebildet mit 3View® in Kombination mit GeminiSEM 300

    Cilien, abgebildet mit GeminiSEM 450

    Cilien, abgebildet mit GeminiSEM 450

    Cilien, abgebildet mit GeminiSEM 450
    Cilien, abgebildet mit GeminiSEM 450

    Centrine sind besondere Proteine in den Cilien von Eukaryoten. Der centrinreiche Bereich des Basalapparats ist deutlich zu erkennen (Pfeil). Der neue BSD-Detektor, der hier zum Einsatz kommt, zeigt kleinste Unterschiede bei hohem Kontrast.
    Probe mit freundlicher Genehmigung von P. Purschke, Universität von Osnabrück, Deutschland.

    Die Abbildung des Hirnschnitts ohne Tandem decel führt zu einem geringeren Kontrast.

    Die Abbildung des Hirnschnitts ohne Tandem decel führt zu einem geringeren Kontrast.

    Die Abbildung des Hirnschnitts ohne Tandem decel führt zu einem geringeren Kontrast.
    Die Abbildung des Hirnschnitts ohne Tandem decel führt zu einem geringeren Kontrast.

    Die Abbildung des Hirnschnitts mit Tandem decel führt zu einem höheren Kontrast.

    Die Abbildung des Hirnschnitts mit Tandem decel führt zu einem höheren Kontrast.

    Die Abbildung des Hirnschnitts mit Tandem decel führt zu einem höheren Kontrast.
    Hirnschnitt

    Die Abbildung mit Tandem decel führt zu einem höheren Kontrast.

    T4-Phage mit Negativkontrastierung, abgebildet mit einem STEM-Detektor

    T4-Phage mit Negativkontrastierung, abgebildet mit einem STEM-Detektor

    T4-Phage mit Negativkontrastierung, abgebildet mit einem STEM-Detektor
    T4-Phage mit Negativkontrastierung, abgebildet mit einem STEM-Detektor

  • Halbleitertechnologie / Elektronik
    Datenspeicher, Festplattenlesekopf

    Datenspeicher, Festplattenlesekopf
    Links: Inlens SE Detektor Rechts: Inlens EsB Detektor

    Datenspeicher, Festplattenlesekopf
    Datenspeicher, Festplattenlesekopf

    Links: Inlens SE Detektor Rechts: Inlens EsB Detektor

    FinFET-Transistor, Aufsicht, 22-nm-Technologie

    FinFET-Transistor, Draufsicht, 22-nm-Technologie, 3 kV, reines BSE-Imaging mit EsB, hoher Materialkontrast

    FinFET-Transistor, Aufsicht, 22-nm-Technologie
    FinFET-Transistor, Aufsicht, 22-nm-Technologie

    3 kV, reines BSE-Imaging mit EsB, hoher Materialkontrast

  • Industrie
    Die magnetischen Körner einer Festplatte, eines magnetischen Datenspeichermediums, sind nur wenige Nanometer groß. Das beeinflusst die Bitdichte und damit die Datenkapazität der Festplatte.

    Die magnetischen Körner einer Festplatte, eines magnetischen Datenspeichermediums, sind nur wenige Nanometer groß. Das beeinflusst die Bitdichte und damit die Datenkapazität der Festplatte.

    Die magnetischen Körner einer Festplatte, eines magnetischen Datenspeichermediums, sind nur wenige Nanometer groß. Das beeinflusst die Bitdichte und damit die Datenkapazität der Festplatte.
    Die magnetischen Körner einer Festplatte, eines magnetischen Datenspeichermediums, sind nur wenige Nanometer groß. Das beeinflusst die Bitdichte und damit die Datenkapazität der Festplatte.

    Die verschiedenen Graustufen der Körner resultieren aus dem Kristallorientierungskontrast, der Informationen über die unterschiedlichen Orientierungen der Nanokristalle liefert. Aufnahme mit dem aBSD-Detektor bei 20 kV in GeminiSEM 450.

    Metallschäume wie dieser offenzellige Nickelschaum finden breite Verwendung als Kathodensubstrat in Batterien oder Superkondensatoren.

    Metallschäume wie dieser offenzellige Nickelschaum finden breite Verwendung als Kathodensubstrat in Batterien oder Superkondensatoren.

    Metallschäume wie dieser offenzellige Nickelschaum finden breite Verwendung als Kathodensubstrat in Batterien oder Superkondensatoren.
    Metallschäume wie dieser offenzellige Nickelschaum finden breite Verwendung als Kathodensubstrat in Batterien oder Superkondensatoren.

    Dieser hoch topografische Schaum wird mit großer Tiefenschärfe und einem Inlens SE Detektor in einem GeminiSEM 450 bei 8 kV charakterisiert.

    NanoVP, VPSE-Detektor, 150 Pa, 3 kV. Faserige Polymer-Mikrostrukturen

    NanoVP, VPSE-Detektor, 150 Pa, 3 kV. Faserige Polymer-Mikrostrukturen

    NanoVP, VPSE-Detektor, 150 Pa, 3 kV. Faserige Polymer-Mikrostrukturen
    NanoVP, VPSE-Detektor, 150 Pa, 3 kV. Faserige Polymer-Mikrostrukturen

    Probe: mit freundlicher Genehmigung von H. Braun, Leibniz-Institut für Polymerforschung, Dresden.

Zubehör

ZEISS Atlas 5 – Meistern Sie Ihre multi-dimensionale Herausforderung

Mit Atlas 5 erstellen Sie multi-dimensionale Bilder. Atlas 5 ist ein leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software, das Ihr ZEISS Rasterelektronenmikroskop (REM) ergänzt.

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Rekonstruieren Sie Ihre 2D SEM Bilder in 3D

Ihr Rasterelektronenmikroskop misst und analysiert alle Arten von Proben in 2D: Verwenden Sie für die Analyse von Probenoberflächen in 3D die Systemerweiterung 3DSM. 3DSM, die computerbasierte Anwendung von ZEISS, liefert Ihnen topografische Informationen durch Rekonstruktion eines kompletten 3D-Oberflächenmodells auf der Grundlage der Signale des AsB-Detektors des REM. 

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Visualization and Analysis Software

Visualisierungs- und Analyse-Software

ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro von Object Research Systems (ORS)

Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-REM, REM und Helium-Ionen-Mikroskopie.

Dragonfly Pro, ehemals Visual SI Advanced benannt, bietet eine High-Definition Visualisierungstechnik und branchenführende Graphik. Dragonfly Pro unterstützt eine Anpassung durch einfaches Python-Scripting. Anwender haben nun die totale Kontrolle über ihre 3D-Datennachbearbeitung und Workflows.

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Gewebe einer Mäuselunge, Block-face-Bilder, erfasst mit fokaler Ladungskompensation

Gewebe einer Mäuselunge, Block-face-Bilder, erfasst mit fokaler Ladungskompensation

Optimieren Sie Ihr GeminiSEM 300/450, um Ladungseffekte zu eliminieren

Verwandeln Sie Ihr ZEISS GeminiSEM 300 oder GeminiSEM 450 mit 3View®-Technologie von Gatan, Inc. in ein extrem schnelles, hochauflösendes 3D-Imaging-System. Bei 3View® handelt es sich um ein in die SEM-Kammer integriertes Ultramikrotom, mit dem Sie 3D-Daten in Hochauflösung aus in Harz gegossenen Zell- und Gewebeproben akquirieren – und das besonders schnell und komfortabel. Die Probe wird kontinuierlich geschnitten und abgebildet, sodass Sie Tausende von Serienbildern an einem einzigen Tag erstellen können. Aufgrund seiner einzigartigen ZEISS Gemini-Säulentechnologie sind GeminiSEMs ideal für diese Anwendung geeignet. Sie können Ihr GeminiSEM jetzt auch mit der fokalen Ladungskompensation erweitern, um aufladende Artefakte zu vermeiden. ZEISS hat dieses Gasinjektionssystem in Zusammenarbeit mit dem NCMIR (National Center for Microscopy and Imaging) herausgebracht. Die fokale Ladungskompensation hat eine spektakuläre Bildqualität zur Folge. Für die Durchführung einer 3D-Nanohistologie ist die Untersuchung von Gewebeproben, etwa der Leber, Niere und Lunge, mit Block-face-Imaging in einem Elektronenmikroskop extrem nützlich für die pathologische Forschung. Wenn die fokale Ladungskompensation zur Eliminierung von Aufladung verwendet wird, können diese aufladungsanfälligen Gewebeproben mit hoher Auflösung und Geschwindigkeit in drei Dimensionen abgebildet werden.

Weiterlesen
 

Downloads

ZEISS GeminiSEM-Familie

Ihre Feldemission-SEMs für höchste Anforderungen in den Bereichen Imaging und Analysen beliebiger Proben

Seiten: 34
Dateigröße: 10.914 kB

ZEISS Integrated Atomic Force Microscope

Your Only True in situ AFM Solution for FE-SEMs and FIB-SEMs

Seiten: 17
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ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

Seiten: 22
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Application Note

Electron Channeling Contrast Imaging Performed by ZEISS GeminiSEM 500

Seiten: 7
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Technical Note: GeminiSEM... The real time 3DSM solution

Extend 3DSM functionality to real time surface reconstruction and metrology in a fast and precise way

Seiten: 6
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Novel Optical Design of Field Emission SEMs

Innovations in Gemini Column, Detection Technology and Variable Pressure Technology

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ZEISS Gemini Optics

High Resolution Images On Real World Samples

Seiten: 1
Dateigröße: 775 kB

Technical Note

High Resolution Imaging of non-conductive Specimen benefits from Local Charge Compensation

Seiten: 6
Dateigröße: 3.017 kB