GeminiSEM-Produktfamilie

GeminiSEM-Produktfamilie

Ihre FE-REM für Bilder mit hohem Kontrast bei niedriger Spannung

GeminiSEM-Produktfamilie

  • Einführung

    Gemini Optik. Niedrige Spannung. Variabler Druck.

    Die GeminiSEM-Produktfamilie steht für müheloses Imaging: Sichern Sie sich Auflösung im Sub-Nanometerbereich und hohe Detektionseffizienz, selbst im druckvariablen Modus. GeminiSEM 500 vereint bewährte Gemini Technologie mit einem neuartigen elektronenoptischen Design. Erzielen Sie eine bessere Auflösung, insbesondere bei niedriger Spannung. Mit einem 20-mal größeren Inlens Detektionssignal erhalten Sie immer gestochen scharfe Bilder – schnell und mit minimaler Probenschädigung. Der neue druckvariable Modus vermittelt Ihnen das Gefühl im Hochvakuum zu arbeiten.

    Holen Sie sich ein flexibles und zuverlässiges Feldemissions-REM für Ihre Forschung, das Industrielabor oder Ihre Imaging-Einrichtung. Mit der GeminiSEM-Produktfamilie bekommen Sie immer ausgezeichnete Bilder von jeder echten Probe.

     

    Fragen Sie Ihren lokalen ZEISS Vertriebskontakt nach der GeminiSEM-Produktfamilie!

  • Highlights
    Geätzte Silizium-Nanostrukturen

    Mehr Details bei niedriger Spannung

    • Entdecken Sie bei niedrigen Spannungen Details im Nanomaßstab mit hoher Auflösung und hohem Kontrast.
      Bei 500 V erzielen Sie eine Auflösung von 1,2 nm, bei 1 kV beträgt die Auflösung 1,1 nm. Sie profitieren immer von perfekter Bildqualität, auch ohne Vorspannung.
    • Freuen Sie sich über schnelle Resultate dank renommierter Gemini-Technologie.

    Nano-twin Linse

    Höhere Signalstärke – jederzeit

    • Nutzen Sie die verbesserte Detektionseffizienz des neuen GeminiSEM 500 Linsendesigns. Es verstärkt das Inlens SE-Signal im Vergleich zu herkömmlichen REM-Bauweisen um das bis zu 20-fache.
    • Sichern Sie sich durch Detektion genau der richtigen Elektronen höhere Effizienz und maximale Informationen aus Ihrer Probe.
    • Nehmen Sie Bilder in kürzeren Zeitabständen auf oder arbeiten Sie mit sehr niedrigen Spannungen, um Probenschäden zu vermeiden.

    Papier

    Mehr Flexibilität mit variablem Druck

    • Arbeiten Sie im druckvariablen Modus, so als würden Sie in Hochvakuum arbeiten.
    • Nutzen Sie erstmals echte Inlens Detektion bei variablem Druck. Nehmen Sie Bilder mit hoher Auflösung, hohem Kontrast und hohem Signal-Rausch-Verhältnis auf.
    • Freuen Sie sich auf gestochen scharfe Bilder selbst von Ihren schwierigsten, nicht-leitfähigen Proben.

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  • Gemini Optik
    Schematischer Querschnitt der optischen Gemini-Säule.

    Auf Grundlage der bewährten Gemini Technologie

    • Das Gemini Objektivlinsendesign kombiniert elektrostatische und magnetische Felder, um die optische Performance zu maximieren und gleichzeitig die Feldeinflüsse auf die Probe auf ein Minimum zu reduzieren. Dies ermöglicht eine ausgezeichnete Abbildung auch bei schwierigen Proben wie beispielsweise magnetischen Materialien.
    • Das Gemini Konzept der Inlens-Detektion gewährleistet eine effiziente Signaldetektion durch parallele Erfassung von Sekundärelektronen (SE) und Rückstreuelektronen (BSE), bei einer verringerten Bilderfassungszeit.
    • Die Gemini Beambooster-Technologie ermöglicht geringe Probengrößen und ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis.

    Neuartiges optisches Design der Gemini-Säule

    Mehr Details. Mehr Signal.

    • GeminiSEM 500 ist mit einer neuartigen Elektronenoptik ausgestattet. Die neu entwickelte Nano-twin Linse verbessert nochmals die Auflösung bei niedrigen Strahlspannungen.
    • Das Inlens SE-Signal wird bei niedriger Spannung um das bis zu 20-fache verstärkt. Sie erhalten immer gestochen scharfe Bilder – schnell und mit minimalem Schaden an der Probe.
    • Der hochauflösende Quellenmodus minimiert chromatische Aberration und erlaubt noch geringere Probengrößen.

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  • GeminiSEM 300

    GeminiSEM 300 ist die ideale Wahl für das Abbilden großer Flächen mit exzellenter Abbildungsqualität und schneller Bilderfassungszeit. Mit der Gemini Optik können Sie auf effiziente Detektion, hervorragende Auflösung und verzerrungsfreie Abbildung großer Flächen zählen.
    Profitieren Sie vom neuen optischen Design, das auf Niederspannungsabbildung für schwierige Proben zugeschnitten ist, wie z.B. strahlempfindliche oder magnetische Materialien. Charakterisieren Sie Ihre Probe umfassend: erzielen Sie einzigartige Materialkontrast bei niedrigen Spannungen mit dem energieselektiven Rückstreudetektor. Nutzen Sie den NanoVP Modus: Bilden Sie nicht-leitende Proben mit hoher Auflösung und ausgezeichneter Oberflächensensitivität mit dem Inlens SE Detektor bei hohen Kammerdrücken ab.

  • Variabler Druck
    NanoVP in der REM-Kammer des GeminiSEM 500.

    Mehr Details. Mehr Flexibilität.

    • Geringere Aufladung nicht-leitfähiger Proben.
    • NanoVP-Technologie reduziert die Stahlverbreiterung und ermöglicht damit sowohl Imaging mit hochauflösenden Details als auch echte Inlens Detektion bis zu 150 Pa.
    • Daher können Inlens SE- und EsB-Detektoren sogar gleichzeitig im VP-Modus für hochauflösende Oberflächendarstellung und Materialkontrast-Imaging eingesetzt werden.
    • Für Ihre schwierigsten Proben kann der Kammerdruck bei Nutzung der VPSE-Detektion sogar bis 500 Pa erhöht werden.

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  • Software

    ZEISS Atlas 5 – Meistern Sie Ihre multi-dimensionale Herausforderung

    Mit Atlas 5 erstellen Sie multi-dimensionale Bilder. Atlas 5 ist ein leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software, das Ihr ZEISS Rasterelektronenmikroskop (REM) ergänzt.

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    Rekonstruieren Sie Ihre 2D SEM Bilder in 3D

    Ihr Rasterelektronenmikroskop misst und analysiert alle Arten von Proben in 2D: Verwenden Sie für die Analyse von Probenoberflächen in 3D die Systemerweiterung 3DSM. 3DSM, die computerbasierte Anwendung von ZEISS, liefert Ihnen topografische Informationen durch Rekonstruktion eines kompletten 3D-Oberflächenmodells auf der Grundlage der Signale des AsB-Detektors des REM. 

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    Visualization and Analysis Software

    Visualisierungs- und Analyse-Software

    ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro von Object Research Systems (ORS)

    Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-REM, REM und Helium-Ionen-Mikroskopie.

    Dragonfly Pro, ehemals Visual SI Advanced benannt, bietet eine High-Definition Visualisierungstechnik und branchenführende Graphik. Dragonfly Pro unterstützt eine Anpassung durch einfaches Python-Scripting. Anwender haben nun die totale Kontrolle über ihre 3D-Datennachbearbeitung und Workflows.

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  • Downloads

    ZEISS GeminiSEM Familie

    Ihre Feldemissions-REMs für Niederspannungsbilder im Subnanometerbereich von jeder Probe

    Seiten: 19
    Dateigröße: 6.649 kB

    In situ SEM and Raman Investigations on Graphene

    Comparison of graphene, graphene oxide and reduced graphene oxide

    Seiten: 5
    Dateigröße: 814 kB

    Novel Optical Design of Field Emission SEMs

    Innovations in Gemini Column, Detection Technology and Variable Pressure Technology

    Seiten: 8
    Dateigröße: 1.937 kB

    ZEISS Gemini Optics

    High Resolution Images On Real World Samples

    Seiten: 1
    Dateigröße: 775 kB

    Technology Note: ZEISS Scanning Electron Microscopes with integrated Raman Spectrometers

    Investigate Solid State Materials

    Seiten: 5
    Dateigröße: 906 kB

    Integrated SEM and Raman Imaging of Lithium Ion Batteries

    Seiten: 7
    Dateigröße: 2.586 kB

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