ZEISS Sigma-Produktfamilie

Sigma-Produktfamilie

Ihre FE-REM für Imaging mit höchstem Qualitätsanspruch und analytische Mikroskopie auf höchstem Niveau

Sigma-Produktfamilie

  • Einführung

    Flexible Detektion. 4-Schritte-Workflow. Erweiterte Analysen.

    Kombinieren Sie Feldemissions-REM (FE-REM)-Technologie mit erweiterten Analysen. Profitieren Sie von der bewährten Gemini-Elektronenoptik. Wählen Sie aus einer Vielzahl von Detektoroptionen: Sie können Partikel, Oberflächen und Nanostrukturen abbilden. Sparen Sie Zeit mit dem halbautomatischen 4-Schritte-Workflow von Sigma: Strukturieren Sie Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen und steigern Sie die Produktivität.


    Sigma 300 bietet ein ausgezeichnetes Preis-Leistungs-Verhältnis. Führen Sie Ihre Elementaranalyse schnell und komfortabel mit der klassenbesten EDS-Geometrie des Sigma 500 durch.
    Stützen Sie sich auf präzise, reproduzierbare Resultate – von jeder Probe, jederzeit.


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  • Highlights
    Fasern aus der Wundversorgung mit antibiotischen Verbänden.

    Flexible Detektion für kristallklare Bilder

    • Passen Sie das Sigma mithilfe der neuesten Detektionstechnologie perfekt Ihren Bedürfnissen an, um alle vorliegenden Proben zu charakterisieren.
    • Erfassen Sie mit dem optionalen Inlens-Duo-Detektor Informationen über Topographie und Materialzusammensetzung.
    • Nutzen Sie die Vorteile einer neuen Generation von Sekundärelektronen (SE)-Detektoren. Erzielen Sie Abbildungen mit bis zu 50% mehr Signal. Profitieren Sie im druckvariablen Modus von Sigmas neuen C2D- und VPSE-Detektoren. Erstellen Sie im Niedervakuum gestochen scharfe Bilder mit bis zu 85% mehr Kontrast.
       
    Sparen Sie Zeit mit dem 4-Schritte-Workflow von Sigma.

    Automatisieren und beschleunigen Sie Ihren Workflow

    • Ein 4-Schritte-Workflow gibt Ihnen Kontrolle über die Funktionalität des Sigma. Freuen Sie sich über schnelle Ergebnisse und sparen Sie Zeit bei der Schulung, insbesondere in einem Umfeld mit mehreren Benutzern.
    • Zuerst navigieren Sie durch Ihre Probe und legen dann die optimalen Bildgebungsbedingungen fest.
    • Dann nehmen Sie automatisch in den Regions of Interest (ROI) mehrer Proben Bilder auf. Den letzten Schritt des Workflows nutzen Sie zur kontextbezogenen Darstellung Ihrer Resultate.
       
    Beschleunigen Sie Röntgenanalysen mit klassenbester EDS-Geometrie.

    Setzen Sie moderne analytische Mikroskopie ein

    • Kombinieren Sie Rasterelektronenmikroskopie und Elementaranalyse: Sigmas klassenbeste EDS-Geometrie steigert Ihre analytische Produktivität, insbesondere bei strahlenempfindlichen Proben.
    • Erhalten Sie analytische Daten mit halbem Probenstrom und doppelter Geschwindigkeit.
    • Erzielen Sie mit Ihrem FE-REM vollständige, schattenfreie Analysen. Profitieren Sie von einem kurzen analytischen Arbeitsabstand von nur 8,5 mm und einem Austrittswinkel von 35°.

       


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  • Gemini-Optik
    Schematischer Querschnitt der optischen Gemini-Säule.

    Auf Grundlage der bewährten Gemini-Technologie

    • Das Gemini-Objektivlinsendesign kombiniert elektrostatische und magnetische Felder, um die optische Performance zu maximieren und gleichzeitig die Feldeinflüsse auf die Probe auf ein Minimum zu reduzieren. Dies ermöglicht eine ausgezeichnete Abbildung auch bei schwierigen Proben wie beispielsweise magnetischen Materialien.
    • Das Gemini Konzept der Inlens-Detektion gewährleistet eine effiziente Signaldetektion durch Erfassung von Sekundärelektronen (SE) bzw. Rückstreuelektronen (BSE), und minimiert die Bilderfassungszeit.
    • Die Gemini Beambooster-Technologie ermöglicht geringe Probengrößen und ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis.
       


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  • Flexible Detektion
    Schematischer Querschnitt der optischen Gemini-Säule mit Detektoren.

    Flexible Detektion für kristallklare Bilder

    • Charakterisieren Sie all Ihre Proben mit der neuesten Detektionstechnologie.
    • Sichern Sie sich mit dem neuartigen ETSE und dem Inlens-Detektor für den Hochvakuummodus topographische Informationen in hoher Auflösung.
    • Erhalten Sie im druckvariablen Modus mit dem VPSE oder C2D-Detektor gestochen scharfe Bilder.
    • Produzieren Sie mit dem aSTEM-Detektor hochauflösende Transmissionsbilder.
    • Untersuchen Sie mit dem HDBSD- oder YAG-Detektor die Zusammensetzung.
       
  • Zubehör

    Integrierte EDS-Lösung: Sigma Element

    Hochauflösende Bildgebung kombiniert mit schneller Analyse

    Die integrierte EDS-Lösung Sigma Element zeichnet sich durch Nutzerfreundlichkeit und hervorragende Leistung bei niedrigen kV-Werten aus. Mit der Möglichkeit, EDS und REM über einen einzigen PC zu steuern, wird die Bedienung deutlich vereinfacht. Eine parallele Steuerung von Mikroskop und EDS über dedizierte Nutzeroberflächen ist ebenfalls möglich.

    • Integration: Hochauflösende Bildgebung kombiniert mit beschleunigter Analyse für beste Resultate bei hervorragender Nutzerfreundlichkeit
    • Anpassung: Für verschiedene Nutzeranforderungen konfigurierbare Software
    • Empfindlichkeit: Einzigartiges Siliziumnitrid-Fenster für verbesserte Niedrigenergie-Messungen

    Nutzen Sie die Vorteile von integrierter Raman-Bildgebung

    Erhalten Sie einen chemischen Fingerabdruck von Ihrer Probe:

    • Erweitern Sie Ihr ZEISS Sigma 300 mit konfokaler Raman-Bildgebung.
    • Profitieren Sie vom Zugang zu molekularer und kristallographischer Information.
    • Führen Sie 3D-Analysen durch und korrelieren Sie die SEM-Bildgebung mit Raman-Mapping und EDS-Daten.

    Die vollständige Integration der beiden Techniken, SEM und Raman, macht die Durchführung von korrelativen Analysen schnell und einfach.

  • Software

    SmartSEM Touch: Vereinfachte grafische Benutzeroberfläche, die von einem Touchscreen-PC aus ausgeführt wird.

    SmartSEM Touch – Zugeschnitten auf Multi-User-Umgebungen

    SmartSEM Touch, ein Add-on zum etablierten Betriebssystem, ist eine vereinfachte Benutzeroberfläche für Multi-User Umgebungen. Es bietet einfache Bedienung für erfahrene und unerfahrene Benutzer. Je nach Laborumgebung kann die Bedienung des REM die alleinige Aufgabe erfahrener Elektronenmikroskopiker sein. Es kann aber auch die Notwendigkeit bestehen, dass unerfahrene Nutzer wie Studenten, Auszubildende oder Qualitäts-ingenieure Daten von einem REM benötigen. Sigma 300 und Sigma 300 VP berücksichtigen beide Gruppen mit Benutzeroberflächen, die auf die Nutzeranforderungen von erfahrenen Mikroskopikern und Neulingen gleichermaßen eingehen.

    ZEISS Atlas 5 – Meistern Sie Ihre multi-dimensionale Herausforderung

    Mit Atlas 5 erstellen Sie multi-dimensionale Bilder. Atlas 5 ist ein leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software, das Ihr ZEISS Rasterelektronenmikroskop (REM) ergänzt.

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    Visualization and Analysis Software

    Visualisierungs- und Analyse-Software

    ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro von Object Research Systems (ORS)

    Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-REM, REM und Helium-Ionen-Mikroskopie.

    Dragonfly Pro, ehemals Visual SI Advanced benannt, bietet eine High-Definition Visualisierungstechnik und branchenführende Graphik. Dragonfly Pro unterstützt eine Anpassung durch einfaches Python-Scripting. Anwender haben nun die totale Kontrolle über ihre 3D-Datennachbearbeitung und Workflows.

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  • Downloads

    Application Note: ZEISS Sigma 300

    EBSD als Methode zur Bestimmung des Ausrichtungsgrads von Fe-Nd-B-Sintermagneten

    Seiten: 8
    Dateigröße: 1.788 kB

    ZEISS Sigma Family

    Your Field Emission SEMs for High Quality Imaging and Advanced Analytical Microscopy

    Seiten: 32
    Dateigröße: 13.987 kB

    ZEISS Sigma 300 with RISE

    Extend your ZEISS Sigma 300 with Fully Integrated Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy (RISE)

    Seiten: 2
    Dateigröße: 2.075 kB

    ZEISS Sigma 300 with WITec Confocal Raman Imaging

    Characterizing Structural and Electronic Properties of 2D Materials Using RISE Correlative Microscopy

    Seiten: 10
    Dateigröße: 6.582 kB

    ZEISS Sigma Family - Flyer

    Your FE-SEMs for High Quality Imaging & Advanced Analytical Microscopy

    Seiten: 2
    Dateigröße: 2.146 kB

    Cathodoluminescence of Geological Samples:

    Fluorite Veins

    Seiten: 5
    Dateigröße: 5.477 kB