ZEISS Sigma-Produktfamilie

Sigma-Produktfamilie

Ihre FE-REM für Imaging mit höchstem Qualitätsanspruch und analytische Mikroskopie auf höchstem Niveau

Sigma-Produktfamilie

  • Einführung

    Flexible Detektion. 4-Schritte-Workflow. Erweiterte Analysen.

    Kombinieren Sie Feldemissions-REM (FE-REM)-Technologie mit erweiterten Analysen. Profitieren Sie von der bewährten Gemini-Elektronenoptik. Wählen Sie aus einer Vielzahl von Detektoroptionen: Sie können Partikel, Oberflächen und Nanostrukturen abbilden. Sparen Sie Zeit mit dem halbautomatischen 4-Schritte-Workflow von Sigma: Strukturieren Sie Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen und steigern Sie die Produktivität.


    Sigma 300 bietet ein ausgezeichnetes Preis-Leistungs-Verhältnis. Führen Sie Ihre Elementaranalyse schnell und komfortabel mit der klassenbesten EDS-Geometrie des Sigma 500 durch.
    Stützen Sie sich auf präzise, reproduzierbare Resultate – von jeder Probe, jederzeit.


    Fragen Sie Ihren lokalen ZEISS Vertriebskontakt nach der Sigma-Produktfamilie!

  • Highlights
    Fasern aus der Wundversorgung mit antibiotischen Verbänden.

    Flexible Detektion für kristallklare Bilder

    • Passen Sie das Sigma mithilfe der neuesten Detektionstechnologie perfekt Ihren Bedürfnissen an, um alle vorliegenden Proben zu charakterisieren.
    • Erfassen Sie mit dem optionalen Inlens-Duo-Detektor Informationen über Topographie und Materialzusammensetzung.
    • Nutzen Sie die Vorteile einer neuen Generation von Sekundärelektronen (SE)-Detektoren. Erzielen Sie Abbildungen mit bis zu 50% mehr Signal. Profitieren Sie im druckvariablen Modus von Sigmas neuen C2D- und VPSE-Detektoren. Erstellen Sie im Niedervakuum gestochen scharfe Bilder mit bis zu 85% mehr Kontrast.
       
    Sparen Sie Zeit mit dem 4-Schritte-Workflow von Sigma.

    Automatisieren und beschleunigen Sie Ihren Workflow

    • Ein 4-Schritte-Workflow gibt Ihnen Kontrolle über die Funktionalität des Sigma. Freuen Sie sich über schnelle Ergebnisse und sparen Sie Zeit bei der Schulung, insbesondere in einem Umfeld mit mehreren Benutzern.
    • Zuerst navigieren Sie durch Ihre Probe und legen dann die optimalen Bildgebungsbedingungen fest.
    • Dann nehmen Sie automatisch in den Regions of Interest (ROI) mehrer Proben Bilder auf. Den letzten Schritt des Workflows nutzen Sie zur kontextbezogenen Darstellung Ihrer Resultate.
       
    Beschleunigen Sie Röntgenanalysen mit klassenbester EDS-Geometrie.

    Setzen Sie moderne analytische Mikroskopie ein

    • Kombinieren Sie Rasterelektronenmikroskopie und Elementaranalyse: Sigmas klassenbeste EDS-Geometrie steigert Ihre analytische Produktivität, insbesondere bei strahlenempfindlichen Proben.
    • Erhalten Sie analytische Daten mit halbem Probenstrom und doppelter Geschwindigkeit.
    • Erzielen Sie mit Ihrem FE-REM vollständige, schattenfreie Analysen. Profitieren Sie von einem kurzen analytischen Arbeitsabstand von nur 8,5 mm und einem Austrittswinkel von 35°.

       


    Fragen Sie Ihren lokalen ZEISS Vertriebskontakt nach der Sigma-Produktfamilie!

  • Gemini-Optik
    Schematischer Querschnitt der optischen Gemini-Säule.

    Auf Grundlage der bewährten Gemini-Technologie

    • Das Gemini-Objektivlinsendesign kombiniert elektrostatische und magnetische Felder, um die optische Performance zu maximieren und gleichzeitig die Feldeinflüsse auf die Probe auf ein Minimum zu reduzieren. Dies ermöglicht eine ausgezeichnete Abbildung auch bei schwierigen Proben wie beispielsweise magnetischen Materialien.
    • Das Gemini Konzept der Inlens-Detektion gewährleistet eine effiziente Signaldetektion durch Erfassung von Sekundärelektronen (SE) bzw. Rückstreuelektronen (BSE), und minimiert die Bilderfassungszeit.
    • Die Gemini Beambooster-Technologie ermöglicht geringe Probengrößen und ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis.
       


    Fragen Sie Ihren lokalen ZEISS Vertriebskontakt nach der Sigma-Produktfamilie!

  • Flexible Detektion
    Schematischer Querschnitt der optischen Gemini-Säule mit Detektoren.

    Flexible Detektion für kristallklare Bilder

    • Charakterisieren Sie all Ihre Proben mit der neuesten Detektionstechnologie.
    • Sichern Sie sich mit dem neuartigen ETSE und dem Inlens-Detektor für den Hochvakuummodus topographische Informationen in hoher Auflösung.
    • Erhalten Sie im druckvariablen Modus mit dem VPSE oder C2D-Detektor gestochen scharfe Bilder.
    • Produzieren Sie mit dem aSTEM-Detektor hochauflösende Transmissionsbilder.
    • Untersuchen Sie mit dem BSD4- oder YAG-Detektor die Zusammensetzung.
       
  • Software

    ZEISS Atlas 5 – Meistern Sie Ihre multi-dimensionale Herausforderung

    Mit Atlas 5 erstellen Sie multi-dimensionale Bilder. Atlas 5 ist ein leistungsstarkes Paket aus Hardware und Software, das Ihr ZEISS Rasterelektronenmikroskop (REM) ergänzt.

    mehr erfahren

     

    Visualization and Analysis Software

    Visualisierungs- und Analyse-Software

    ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro von Object Research Systems (ORS)

    Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-REM, REM und Helium-Ionen-Mikroskopie.

    Dragonfly Pro, ehemals Visual SI Advanced benannt, bietet eine High-Definition Visualisierungstechnik und branchenführende Graphik. Dragonfly Pro unterstützt eine Anpassung durch einfaches Python-Scripting. Anwender haben nun die totale Kontrolle über ihre 3D-Datennachbearbeitung und Workflows.

    mehr

     

  • Downloads

    ZEISS Sigma Familie

    Ihre Feldemissions-REMs für hohe Abbildungsqualitiät und moderne analytische Mikroskopie

    Seiten: 24
    Dateigröße: 8.651 kB

    White Paper: Efficient Separation of Secondary and Backscattered Electrons with a Single Detector

    High resolution structural and compositional analysis of nano-materials in the scanning electron microscope (SEM) requires secondary electron (SE) and backscattered electron (BSE) imaging at low primary beam energies. So far, these imaging modes could only be performed using dedicated, separate detection systems for SE and BSE. The ZEISS InLensDuo detector provides separate SE and BSE detection in a single, easy to use detector system.

    Seiten: 6
    Dateigröße: 2.602 kB

    Technology Note: ZEISS Scanning Electron Microscopes with integrated Raman Spectrometers

    Investigate Solid State Materials

    Seiten: 5
    Dateigröße: 906 kB

    Integrated SEM and Raman Imaging of Lithium Ion Batteries

    Seiten: 7
    Dateigröße: 2.586 kB

Wir verwenden Cookies auf dieser Website. Cookies sind kleine Textdateien, die von Websites auf Ihrem Computer gespeichert werden. Cookies sind weit verbreitet und helfen Seiten optimiert darzustellen und zu verbessern. Durch die Nutzung unserer Seiten erklären Sie sich damit einverstanden. mehr