Ultrahoch auflösendes FE-SEM für Analysen der Zusammensetzung auf Nanoebene
Die ULTRA Serie von ZEISS mit einem GEMINI In-lens SE-Detektor für die Aufnahme klarer topographischer Bilder und einem EsB-Detektor für die Darstellung von Materialkontrasten ermöglicht gleichzeitiges Echtzeit-Imaging und das Mischen beider Signale. Der EsB Detektor mit Filtertechnologie ermöglicht hochauflösendes Selective Backscattered Electron (BSE) -Imaging bei niedrigen Spannungen, um bislang unsichtbare Bilddetails sichtbar zu machen.
In Kombination mit dem optionalen AsB (Angle selective Backscattered electron) Detektor für die Darstellung von Materialien und die Abbildung von Kristallausrichtungen liefert das FE-SEM ULTRA hochauflösende Informationen im Nanomaßstab gemeinsam mit Informationen über Oberflächentopographie, Zusammensetzung, Kristallausrichtung und magnetische Domänen.
Entdecken Sie MERLIN Compact und SIGMA HD - die neuen Erweiterungen unserer MERLIN und SIGMA Produktfamilien. MERLIN Compact und SIGMA HD ersetzen die FE-SEMs ULTRA und SUPRA.
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