Entdecken Sie effektive, zerstörungsfreie Imaging-Lösungen zur Charakterisierung von Eigenschaften und Verhaltensweisen von Materialien. Dabei ist die detaillierte Darstellung von Mikrostrukturen - idealerweise in 3D - für die Entwicklung und Bestätigung von Modellen oder für die Visualisierung struktureller Details.
Die 3D-Röntgenmikroskope von ZEISS (XRM) bieten Imaging-Lösungen, die wesentliche Hürden der dreidimensionalen Darstellung überwinden. Erzielen Sie exzellenten Auflösungen im Sub-Mikrometer-Bereich und hohe Kontraste, selbst bei relativ großen Proben.
Die Xradia Versa XRM-Produktfamilie für Analysen im Sub-Mikrometerbereich arbeitet mit patentierten Röntgendetektoren und einem Objektivrevolver, der verschiedene Vergrößerungen für unterschiediche Probentypen und –größen ermöglicht und die räumliche Auflösung bis auf 500 nm gestattet - mit gleichzeitig erreichbarer minimaler Voxelgröße von <40 nm. Die Xradia Ultra Röntgenmikroskope, die Aufnahmen im Nanobereich ermöglichen, sind die einzigen marktgängigen Röntgenmikroskope mit einer Röntgenoptik in Synchrotron-Qualität. Sie bieten eine echte räumliche Auflösung bis <50 nm und verfügbaren Voxel-Größen unter 16 nm.