Für die wissenschaftliche und industrielle Forschung
Der Fortschritt der wissenschaftlichen Forschung und der technologischen Entwicklung hängt weitgehend von effektiven Imaging-Lösungen zur Charakterisierung von Eigenschaften und Verhaltensweisen von Materialien ab. Dabei ist die detaillierte Darstellung von Mikrostrukturen - idealerweise in 3D - für die Entwicklung und Bestätigung von Modellen, die Materialeigenschaften und Verhaltensweisen beschreiben, ebenso wichtig wie für die Sichtbarmachung struktureller Details. Die 3D-Röntgenmikroskope von ZEISS (XRM) bieten moderne Imaging-Lösungen, die dank ihres hohen Kontrasts und ihrer exzellenten Auflösung im Sub-Mikrometer-Bereich selbst bei relativ großen Proben wesentliche Hürden der dreidimensionalen Darstellung überwinden. Von diesen bahnbrechenden Fortschritten in der zerstörungsfreien, dreidimensionalen (3D) Bildgebung profitieren verschiedenste technische Disziplinen.
Die Xradia Versa XRM-Produktfamilie für Analysen im Sub-Mikrometerbereich arbeitet mit Röntgendetektoren und einem Objektivrevolver für einfaches Zoomen mit einer räumlichen Auflösung bis zu 700 nm mit verfügbaren Voxel-Größen unter 70 nm. Die Xradia Ultra Röntgenmikroskope, die Aufnahmen im Nanobereich ermöglichen, sind die einzigen marktgängigen Röntgenmikroskope mit einer Röntgenoptik in Synchrotron-Qualität. Sie bieten eine echte räumliche Auflösung bis <50 nm und verfügbaren Voxel-Größen unter 16 nm.
Xradia 520 Versa
Das Flaggschiffprodukt der preisgekrönten Xradia Versa Familie bietet die fortschrittlichsten, hochwertigsten zerstörungsfreien 3D-Aufnahme- und Analysefunktionen. Xradia 520 Versa erweitert die Grenzen der zerstörungsfreien 3D-Abbildung durch moderne Kontrasteinstellungsfunktionen, umfassende Filteroptionen und weitere Verbesserungen, die für größere Genauigkeit und einen reibungsloseren Workflow sorgen.
Xradia 510 Versa
Basierend auf dem preisgekrönten Design des Vorgängermodells, ist Xradia 510 Versa das Grundmodell der Xradia Versa Familie für alle, die 3D-Bilder in höchster Qualität, aber ohne die fortgeschrittenen Funktionen und die hohe Leistung des Flaggschiffprodukts wünschen.
Xradia 410 Versa
Xradia 410 Versa schließt die Lücke zwischen 3D- Hochleistungs-Röntgenmikroskopielösungen und den traditionell kostengünstigeren, weniger leistungsstarken projektionsbasierten Computertomografie- (CT-)Systemen. Die Möglichkeit, verschiedene Quellen zu verwenden, ermöglicht Flexibilität bei der Abbildung einer breiten Auswahl von Probengrößen und -typen.
Xradia 810 Ultra
Xradia 810 Ultra erhöht den Durchsatz an dreidimensionalen Röntgenbildern im Nanomaßstab bis zum Zehnfachen. Dieses innovative Röntgenmikroskop (XRM) arbeitet mit 5,4 keV, einer niedrigeren Energie, die bessere Kontraste und eine höhere Bildqualität von Proben mit mittelhohem und niedrigem Z und anderen in Wissenschaft und Industrie verwendeten Materialien ermöglicht.
Xradia 800 Ultra
Das revolutionäre Xradia 800 Ultra verbindet eine High-Flux-Laborröntgenquelle mit einer hochspezialisierten, unternehmenseigenen Röntgenoptik. Dieses eigenständige Röntgenmikroskop mit ultrahoher Auflösung für CT-Scanning schließt die Lücke zwischen bestehenden hochauflösenden Imaging-Modalitäten wie SEM, TEM oder AFM und optischer Mikroskopie oder konventioneller Mikro-CT.
Industrielle Computertomographie Systeme von ZEISS
ZEISS VoluMax CT-Geräte sind ausgerichtet auf Anwendungen, in denen sehr schnell viele Teile zu prüfen sind. Gerät und Software werden von ZEISS individuell nach der Prüfaufgabe konfiguriert. ZEISS VoluMax kann wahlweise für eine manuelle oder für eine automatisierte Beladung ausgelegt werden.