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ZEISS Xradia CrystalCT
Das erste kommerziell erhältliche microCT-System für kristallografische Bildgebung.
ZEISS Xradia CrystalCT ist ein bahnbrechendes microCT System, mit dem Sie die kristallografischen und mikrostrukturellen Geheimnisse Ihrer Proben ergründen können. Das Gerät ergänzt die leistungsstarke Technik der Computertomographie auf einzigartige Weise. Damit ist es in einem kommerziell verfügbaren CT-System erstmals möglich kristallografische Kornmikrostrukturen aufzudecken. Die Untersuchung polykristalliner Materialien (u. a. Metalle, additive Fertigung, Keramik) wird neu definiert und neue, tiefere Einblicke in die Materialforschung werden möglich.

- Zerstörungsfreies Mapping von Kornmorphologie in 3D.
- Charakterisierung von Materialien wie Metallen, Legierungen und Keramiken.
- Abbildung größerer Volumina und eines breiteren Spektrums von Probengeometrien mit höherem Durchsatz.
- Optimierung der Materialcharakterisierung und -erkennung mit bahnbrechenden Diffraktionsabtastmodi.
- Überragende Probenrepräsentativität als Grundlage für hochpräzise und realitätsgetreue Computermodelle.
Highlights



Anwendungsbereiche
Metalle, Keramik, Halbleiter, Geowissenschaften, Pharmazeutika und vieles mehr
ZEISS Xradia CrystalCT bietet eine bahnbrechende, radikal andere Diffraktionsabtasttechnologie. Diese ermöglicht das Mapping von Korngrenzflächen in erheblich größeren Volumina in ihrem natürlichen Zustand, wobei realistische Probengeometrien gemäß den gängigen Anforderungen in Forschungs- und Industrielaboren abgebildet werden können. Im Gegensatz zu anderen Technologien zur Ermittlung der Kornorientierung ist mit der DCT eine zerstörungsfreie 3D-Bildgebung möglich.




Einblicke in die Technologie
Überragende Probenrepräsentativität

Die Probenrepräsentativität - also die Sammlung großer Mengen realer Daten zur Erstellung hochpräziser, realitätsgetreuer Computermodelle - war schon immer eine Herausforderung bei der kristallographischen Bildgebung.
ZEISS Xradia CrystalCT und die hochentwickelten DCT-Modi überwinden einen Teil der bisherigen Herausforderungen der konventionellen DCT-Datenerfassung. Diese setzt voraus, dass der betrachtete Teil der Probe in allen Rotationswinkeln vollständig durch das Blendensehfeld (Blenden-FOV) beleuchtet wird.
Die fortschrittlichen Diffraktionsabtastmodi des ZEISS Xradia CrystalCT beinhalten:
- Spiralförmige Phyllotaxis
Die spiralförmige Phyllotaxisrotation wird für zylindrische Proben mit großem Seitenverhältnis herangezogen. - Spiralförmiges Phyllotaxisraster
Das spiralförmige Phyllotaxisraster wird für Proben herangezogen, die breiter als das Sehfeld sind. - Spiralförmige Phyllotaxis mit HART
Die Phyllotaxis mit HART (High Aspect Ratio Tomography) löst die Probleme bei der Abbildung flacher oder plattenähnlicher Proben.

3D-Kornrekonstruktion
Präzise, schnelle, automatisierte Indizierung der Korndaten
Nach der ersten Erfassung am Anfang des Workflows kann die Rekonstruktion beginnen. Laden Sie die Absorptionstomographie und die Diffraktionsdaten in GrainMapper3D. Jetzt können mögliche Kornorientierungen für einen gegebenen Polykristall mit Hilfe einer Kombination aus Rück- und Vorwärtsprojektionen identifiziert werden.
Anschließend erfolgt die automatisierte, iterative Suche nach Körnern im Probenvolumen. Die Ergebnisse der Kornrekonstruktion werden in Form von Schnittstapeln oder Volumendatensätzen gespeichert, die eine vollständige Beschreibung der indizierten Körner umfassen. Schließlich geben Sie die 3D-LabDCT-Ergebnisse über die eigenständige Viewer-Anwendung GrainMapper3D an Ihre Kollegen oder Kunden weiter.

3D-Ermittlung der Kornorientierung
Alle Informationen in einer einzigen Datei
Im letzten Schritt fassen Sie alle erforderlichen Informationen in einer einzigen Datei zusammen. Die Form, die Ausrichtung und die räumliche Position aller Körner im Probenvolumen werden in ein offenes Datenformat exportiert.
Vervollständigen Sie Ihr Experiment mit Folgeanalysen in personalisierten Softwareprogrammen oder Simulationswerkzeugen. Die fortschrittlichen Indizierungsroutinen unterstützen nunmehr auch komplexere Kristallsysteme mit geringerer Symmetrie.
Die Advanced Reconstruction Toolbox (ART) erweitert Ihr ZEISS Xradia 3D-Röntgenmikroskop (XRM) oder microCT mit zukunftsweisenden, durch künstliche Intelligenz (KI) gesteuerten Rekonstruktionstechnologien. Die grundlegenden Kenntnisse sowohl der Röntgenphysik als auch deren Anwendungen ermöglichen es Ihnen, einige der größten Herausforderungen beim Abbilden der Proben auf neue und innovative Weise zu bewältigen.
Erleben Sie selbst, wie sich mithilfe der einzigartigen ART-Modulen OptiRecon, PhaseEvolve und DeepRecon (in seinen zwei unterschiedlichen Versionen) die Datenaufnahmezeit und die Rekonstruktion beschleunigen lassen und die Abbildungsqualität ohne Einbußen bei der Auflösung optimieren können.
- Verbesserte Datenaufnahme und -analyse als Grundlage für eine eindeutige, schnellere Entscheidungsfindung
- Deutlich verbesserte Abbildungsqualität
- Überragende Tomographie von im Inneren der Probe liegendem Teilbereich bzw. hoher Probendurchsatz für die verschiedensten Probenklassen
- Darstellung feinster Unterschiede durch ein verbessertes Kontrast-Rausch-Verhältnis
- Eine erheblich höhere Geschwindigkeit bei Probenklassen mit repetitivem Arbeitsablauf
ZEISS OptiRecon zur iterativen Rekonstruktion
Viermal so schnell zu vergleichbaren Ergebnissen
ZEISS OptiRecon ist eine Form der iterativen Rekonstruktion, die den Probendurchsatz erheblich erhöht und gleichzeitig die Bildqualität optimiert.
- So erzielen Sie einen bis zu 4-fach schnelleren Scanvorgang oder eine verbesserte Abbildungsqualität bei vergleichbarer Geschwindigkeit.
- Diese wirtschaftliche Lösung bietet überragende Tomographiemöglichkeiten bzw. ausgezeichneten Durchsatz für die verschiedensten Probenklassen.

ZEISS DeepRecon Pro/Custom für Deep-Learning-gestützte Rekonstruktion
Schnellere Datenaufnahme mit Rekonstruktionstechnologie
Die beiden Versionen der DeepRecon-Technologie – DeepRecon Pro und DeepRecon Custom – arbeiten mit KI und optimieren dadurch die Abbildungsqualität und die Geschwindigkeit. Somit erhöhen Sie den Probendurchsatz, ohne dabei auf die RaaD-Technologie (Resolution at a Distance) verzichten zu müssen. Alternativ können Sie die Anzahl der Projektionen beibehalten und die Abbildungsqualität noch weiter erhöhen.

Die Besonderheiten der beiden Varianten:
- DeepRecon Pro ermöglicht für Spitzenleistungen in puncto Probendurchsatz und Abbildungsqualität bei einer Vielzahl von Anwendungen.
- Durch das verbesserte Kontrast-Rausch-Verhältnis machen Sie feinste Unterschiede in den Bildern Ihrer Proben sichtbar.
- Sie erzielen eine um bis zu 10-mal schnellere Datenaufnahme bei Probenklassen mit repetitivem Arbeitsablauf.
- DeepRecon Pro eignet sich für Einzelproben, halbrepetitive und repetitive Arbeitsabläufe gleichermaßen.
- Neue Machine-Learning-Netzwerkmodelle lassen sich direkt vor Ort über eine anwenderfreundliche Bedienoberfläche selbst trainieren.
- Sie sind nicht mehr auf einen Machine-Learning-Experten angewiesen und DeepRecon Pro kann somit auch von Anwendern ohne besondere Vorkenntnisse bedient werden.
- ZEISS DeepRecon Custom zielt speziell auf Anwendungen mit repetitiven Arbeitsabläufen ab und steigert die XRM-Leistung gegenüber DeepRecon Pro noch weiter.
- ZEISS entwickelt in enger Zusammenarbeit mit Anwendern individuelle Netzwerkmodelle, die exakt auf die jeweiligen Anforderungen der repetitiven Anwendungen abgestimmt sind.
SmartShield
Einfacher Schutz Ihrer Probe zur Optimierung des experimentellen Aufbaus
Die SmartShield-Lösung schützt Ihre Probe und Ihr Mikroskop. Dieses automatisierte Kollisionsvermeidungssystem ist in das Scout-and-Scan-Kontrollsystem integriert. So können Sie souveräner als je zuvor auf den Xradia-Plattformen navigieren. Es funktioniert ganz einfach: Per Knopfdruck erstellt SmartShield eine digitale Schutzschicht gemäß den Abmessungen Ihrer Probe.
SmartShield bietet verschiedene Vorteile:
- Höhere Effizienz der Bediener durch verbesserte Probeneinrichtung
- Optimierte Benutzeroberfläche für Anfänger und Fortgeschrittene
- Schutz für Ihre wertvollen Proben und Ihre Investition
- Abtastqualität ohne Kompromisse
Zubehör
In-situ-Experimente
Die Grenzen des wissenschaftlichen Fortschritts werden neu gesetzt
ZEISS Xradia-Röntgensysteme bieten die branchenführende 3D-Bildgebungslösung für die verschiedensten In-situ-Vorrichtungen, von Hochdruck-Flusszellen bis hin zu Spannungs-, Kompressions- und Thermo-Stages.
Lassen Sie die drei Raumdimensionen hinter sich und tauchen Sie ein in den zerstörungsfreien Ablauf der Röntgenuntersuchung, die Ihre Studien mit 4D-Experimenten auch in die Zeitdimension bringt. ZEISS Xradia microCT-Plattformen eignen sich für die verschiedensten In-situ-Vorrichtungen, von Hochdruck-Flusszellen über Spannungs-, Kompressions- und Thermo-Stages bis hin zu kundenspezifischen Designs. Ergänzen Sie ZEISS Xradia CrystalCT auf Wunsch mit dem optionalen In-situ-Schnittstellen-Kit. Es enthält ein mechanisches Integrations-Kit, eine robuste Kabelführung und andere Einrichtungen (wie Durchführungen) zusammen mit rezeptbasierter Software, die die einfache Kontrolle aus der Scout-and-Scan-Benutzeroberfläche heraus möglich macht. Wenn Sie die Grenzen der Auflösung Ihrer In-situ-Experimente neu setzen müssen, verwandeln Sie Ihr ZEISS Xradia CrystalCT in ein Xradia 620 Versa Röntgenmikroskop. Die Resolution at a Distance-(RaaD)-Technologie sorgt für die äußerst leistungsstarke tomographische Darstellung von Proben in In-situ-Kammern oder -Vorrichtungen.

Autolader
Mehr Effizienz im Umgang mit Proben
Maximieren Sie die Nutzung Ihres Systems mit dem optional erhältlichen Autolader, der für alle Modelle der ZEISS Röntgenmikroskop-Plattform erhältlich ist. Reduzieren Sie die Häufigkeit von Nutzerinteraktionen und erhöhen Sie die Produktivität, indem Sie mehrere Aufgaben in Wartelisten organisieren. Laden Sie bis zu 14 Probenstationen, die bis zu 70 Proben beinhalten können, und lassen Sie die Bearbeitung über Nacht oder über mehrere Tage hinweg laufen. Die einzigartige mechanische Stabilität ermöglicht das hochvolumige, quantitative und repetitive Scannen gleichartiger Proben.

Software
Erstellen Sie effiziente Arbeitsabläufe mit Hilfe des einfachen Steuerungssystems
Einfaches Auffinden einer Region of Interest und Spezifizieren von Scan-Parametern innerhalb des Scout-and-Scan-Kontrollsystems. Nutzen Sie die Vorteile des einfach zu bedienenden Systems in Ihrem Zentrallabor, in dem die Benutzer unterschiedliche Vorkenntnisse haben können.
Profitieren Sie von:
- Interne Kamera zur Probenbetrachtung
- Programmsteuerung (setzen, speichern, abrufen)
- Unterschiedliche Energiequellen
- Verschiedene Proben mit Autoloader-Option
- Mikropositionierung mit einem einfachen Mausklick


Visualisierungs- und Analyse-Software
ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro von Object Research Systems (ORS)
Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-SEM, SEM und Helium-Ionen-Mikroskopie.
Dragonfly Pro, ehemals Visual SI Advanced benannt, bietet eine High-Definition Visualisierungstechnik und branchenführende Graphik. Dragonfly Pro unterstützt eine Anpassung durch einfaches Python-Scripting. Anwender haben nun die totale Kontrolle über ihre 3D-Datennachbearbeitung und Workflows.
Downloads
ZEISS Xradia CrystalCT
Unlock the crystallographicand microstructural secretsof your samples.
Seiten: 32
Dateigröße: 10805 kB
Flyer: ZEISS Xradia CrystalCT
World’s first crystallographic imaging microCT for academic and industrial applications.
Seiten: 2
Dateigröße: 1081 kB
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