Das Dienstleistungsangebot erstreckt sich von schnellen Standardanalysen bis hin zu komplexen, hochauflösenden Untersuchungen mit den neuesten Technologien, die auf dem Gebiet der Crossbeam-Rasterelektronenmikroskopie verfügbar sind.
Das Rasterelektronenmikroskopie-Labor ist auf folgende Gebiete spezialisiert:
- Charakterisierung von Oberflächen, Bruchflächen, metallografische Proben in Bezug auf Topografie und chemische Zusammensetzung
- Materialanalysen einschließlich 3D-Mikrostrukturtomographien mit SEM-FIB-Technologie, auf der Grundlage verschiedener Elektronen- und Ionenkontraste, EBSD-Orientierungskontrast und lokale chemische Zusammensetzung
- Zielpräparation dünner Schichten für die Transmissionselektronenmikroskopie oder Proben von Atomsonden, für nachfolgende hochauflösende Materialanalysen
- Materialcharakterisierung in Bezug auf während der Produktion oder im Betrieb aufgetretene Schäden
Das Dienstleistungsangebot erstreckt sich von schnellen Standardanalysen bis hin zu komplexen hochauflösenden Untersuchungen mit den neuesten Technologien, die auf dem Gebiet der Crossbeam-Rasterelektronenmikroskopie verfügbar sind.