Schnittstelle, Mikrostruktur und Nanopartikelanalyse
Materialien interagieren über ihre Oberflächen mit der Umgebung. Eine einmalige Vielfalt an analytischen Werkzeugen hilft uns, Probeneigenschaften in Bezug auf Korrosion, Tribologie, Biokompatibilität und andere Faktoren zu analysieren. Das Auriga System eignet sich hervorragend für den Einsatz in diesem Bereich.
Schwerpunkte in den Bereichen Engineering, Mikroelektronik, Medizintechnik, Automobil- und Umwelttechnik

Kontamination einer Implantatoberfläche
- Fehleranalyse
- Oberflächen/Schnittstellenanalyse und Charakterisierung (Morphologie, Phasen- und chemische Zusammensetzung)
- Qualitätssicherung
- Dimensionsanalyse
- Prozesscharakterisierung
- Reverse-Engineering
- Kontaminations- und Partikelidentifikation
- Probenpräparation für SEM/FIB- und TEM-Proben
Knowhow/Expertise
- Elektronen- und Ionenmikroskopie
- Rasterelektronenmikroskope (SEM), Rasterelektronenmikroskope mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB) und Transmissionselektronenmikroskope (TEM)
- Große Auswahl an Probenpräparationsausrüstung (Beispiele: mechanische Präparation, Ultramikrotom, Ionenpoliturausrüstung)
- Spektroskopie (HR XPS, SIMS, SNMS, EDX, Raman)
Hochauflösendes EDX-Mapping der Elementverteilung in einer Stahlprobe (Cr, Nb, Fe)

Cr

Nb

Fe