ZEISS steigert die Effizienz in multidimensionalen Workflows

Forscher profitieren von schnellerer Probenvorbereitung, einer genaueren 3D-Tomographie und einer besseren Datendokumentation

Jena | 02. Dezember 2019 | ZEISS Research Microscopy Solutions

Bei der Untersuchung von Proben in 3D gelangen Forscher in der Materialforschung und den Lebenswissenschaften nun schneller als bisher in tief unter der Oberfläche liegende Regionen. Erweiterungen im FIB-SEM ZEISS Crossbeam 350/550 und der Software ZEISS Atlas 5 ermöglichen es, multidimensionale Studien schneller durchzuführen und eine bessere Datenqualität zu erzielen. Dies ist besonders geeignet für die additive Fertigung, Elektronik, Batterieforschung, Biomaterialien und Untersuchungen biologischer Proben.

 

Zugang zu tief liegenden Strukturen und schnelle Bearbeitung von Objekten

Forscher, die in korrelativen Studien Röntgenmikroskopie-Daten nutzen, um im FIB-SEM die gesuchten Stellen anzusteuern, können ihre Arbeitsabläufe weiter verbessern: Die neu eingeführte, patentierte LaserFIB auf ZEISS Crossbeam 350/550 ermöglicht die schnelle, Gallium-freie Bearbeitung von größeren Flächen einer Probe. Außerdem ermöglicht sie den Zugang zu tief verborgenen Strukturen. Der Materialabtrag mit dem Laser wird in einer gesonderten Kammer durchgeführt, um eine Kontamination des FIB-SEMs zu vermeiden. Der Femtosekundenlaser der nächsten Generation sorgt für einen massiven Materialabtrag in kurzer Zeit ohne störende durch den Laser verursachte Wärmeeffekte. Große Volumina können bis zu 50-mal schneller als mit einer Plasma-Ionenquelle abgetragen werden.

Mit der LaserFIB können Strukturen wie Balken für Biegeversuche und zylindrische Prüflinge für nanomechanische Tests hergestellt werden. Des Weiteren können Proben für das Röntgenmikroskop ZEISS Xradia Ultra, große Querschnitte für EBSD-Studien (Electron Backscattered Diffraction) oder ganze TEM-Netzchen präpariert werden.

ZEISS Crossbeam
ZEISS Crossbeam 350 Laser. Der Femtosekundenlaser ist an die Probenschleuse montiert, wodurch eine Kontamination der Kammer während der Laserbearbeitung vermieden wird.

Bessere Abläufe für 3D-Tomographie und Datendokumentation

ZEISS stellt für ZEISS Atlas 5 Erweiterungen für die Bildgebung und 3D-Tomographie vor sowie ein Toolkit für Analyse und Reporting. Korrelative Arbeitsabläufe werden dadurch verbessert, dass das Wiederfinden von Regionen erleichtert wurde. Z.B. können LaserFIB- oder FIB-SEM-Arbeiten gezielter durchgeführt werden nach erfolgreicher Korrelation mit Röntgenmikroskopiedaten. Anwender können die Vorteile des schnelleren und genaueren Wiederfindens von interessanten Regionen nutzen. Sobald eine Region lokalisiert ist, übernimmt die „Thin & Fast Tomographie“ die Arbeit. Dies ist ein Verfahren zur Tomogrammaufnahme, Schichtdickenmessung sowie besseren Visualisierung und Datenverarbeitung mit der patentierten True-Z-Technologie von ZEISS. Diese misst nacheinander jede Schichtdicke und rekonstruiert das Tomogramm unter Berücksichtigung der variablen z-Schichtdicke. Dadurch wird die Segmentierung der 3D-Daten erleichtert und die 3D- bzw. 4D-Modellierung genauer.

Dank der Verbesserung an der Toolbox in ZEISS Atlas 5 können Nutzer, die Ergebnisse effektiver als je zuvor analysieren, präsentieren und mit Kollegen teilen. Zusammenhänge in einem multidimensionalen Datensatz werden auf einen Blick sichtbar. Daten mehrerer bildgebender oder analytischer Mikroskopietechniken können gleichzeitig problemlos visualisiert werden. Die Aufbereitung der Daten für Vorträge oder Vorlesungen wird durch das neue Exportmodul Enhanced Browser Based Viewer von ZEISS erleichtert.
Diese Lösungen erweitern das neue Paradigma in der Mikroskopie, das ZEISS Anfang des Jahres auf der M&M 2019, Portland, USA, vorgestellt hat.

Enhanced Browser Based Viewer
Der Enhanced Browser Based Viewer zeigt die Untersuchung einer geologischen Probe, ein polierter Dünnschnitt eines Granits wurde mit mehreren Mikroskopietechniken untersucht. Mit freundlicher Genehmigung von: A. Gysi, Colorado School of Mines, USA.
Pressekontakt

Kristin Unger
ZEISS Research Microscopy Solutions
Telefon: +49 3641 64-3402
kristin .unger @zeiss .com

Über ZEISS

ZEISS ist ein weltweit führendes Technologieunternehmen der optischen und optoelektronischen Industrie. In den vier Sparten Industrial Quality & Research, Medical Technology, Consumer Markets und Semiconductor Manufacturing Technology erwirtschaftete die ZEISS Gruppe zuletzt einen Jahresumsatz von über 5,8 Milliarden Euro (Stand: 30.9.2018).

ZEISS entwickelt, fertigt und vertreibt für seine Kunden hochinnovative Lösungen für die industrielle Messtechnik und Qualitätssicherung, Mikroskopielösungen für Lebenswissenschaften und Materialforschung sowie Medizintechniklösungen für Diagnostik und Therapie in der Augenheilkunde und der Mikrochirurgie. ZEISS steht auch für die weltweit führende Lithographieoptik, die zur Herstellung von Halbleiterbauelementen von der Chipindustrie verwendet wird. ZEISS Markenprodukte wie Brillengläser, Fotoobjektive und Ferngläser sind weltweit begehrt und Trendsetter.

Mit diesem auf Wachstumsfelder der Zukunft wie Digitalisierung, Gesundheit und Industrie 4.0 ausgerichteten Portfolio und einer starken Marke gestaltet ZEISS die Zukunft weit über die optische und optoelektronische Branche hinaus. Grundlage für den Erfolg und den weiteren kontinuierlichen Ausbau der Technologie- und Marktführerschaft von ZEISS sind die nachhaltig hohen Aufwendungen für Forschung und Entwicklung.

Mit rund 30.000 Mitarbeitern ist ZEISS in fast 50 Ländern mit rund 60 eigenen Vertriebs- und Servicestandorten, mehr als 30 Produktions- sowie rund 25 Entwicklungsstandorten weltweit aktiv. Hauptstandort des 1846 in Jena gegründeten Unternehmens ist Oberkochen, Deutschland. Alleinige Eigentümerin der Dachgesellschaft, der Carl Zeiss AG, ist die Carl-Zeiss-Stiftung, eine der größten deutschen Stiftungen zur Förderung der Wissenschaft.

Weitere Informationen unter www.zeiss.de

ZEISS Research Microscopy Solutions

ZEISS Research Microscopy Solutions bietet als weltweit einziger Hersteller Licht-, Elektronen-, Röntgen- und Ionenmikroskopsysteme aus einer Hand sowie Lösungen für korrelative Mikroskopie. Das Portfolio umfasst Produkte und Services sowohl für Biowissenschaften, Material- und industrielle Forschung als auch für Ausbildung und klinische Praxis. Hauptsitz des Bereichs ist Jena. Weitere Produktions- und Entwicklungsstandorte sind in Oberkochen und München sowie in Cambridge, Großbritannien und Pleasanton (CA) in den USA. ZEISS Research Microscopy Solutions ist Teil der Sparte Industrial Quality & Research. 

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