Entdecken Sie effektive, zerstörungsfreie Imaging-Lösungen zur Charakterisierung von Eigenschaften und Verhaltensweisen von Materialien. Dabei ist die detaillierte Darstellung von Mikrostrukturen - idealerweise in 3D - für die Entwicklung und Bestätigung von Modellen oder für die Visualisierung struktureller Details.
Die 3D-Röntgenmikroskope von ZEISS (XRM) bieten Imaging-Lösungen, die wesentliche Hürden der dreidimensionalen Darstellung überwinden. Erzielen Sie exzellenten Auflösungen im Sub-Mikrometer-Bereich und hohe Kontraste, selbst bei relativ großen Proben.
Die Xradia Versa XRM-Produktfamilie für Analysen im Sub-Mikrometerbereich arbeitet mit patentierten Röntgendetektoren und einem Objektivrevolver, der verschiedene Vergrößerungen für unterschiediche Probentypen und –größen ermöglicht und die räumliche Auflösung bis auf 500 nm gestattet - mit gleichzeitig erreichbarer minimaler Voxelgröße von <40 nm. Die Xradia Ultra Röntgenmikroskope, die Aufnahmen im Nanobereich ermöglichen, sind die einzigen marktgängigen Röntgenmikroskope mit einer Röntgenoptik in Synchrotron-Qualität. Sie bieten eine echte räumliche Auflösung bis <50 nm und verfügbaren Voxel-Größen unter 16 nm.
ZEISS VoluMax CT-Geräte sind ausgerichtet auf Anwendungen, in denen sehr schnell viele Teile zu prüfen sind. Gerät und Software werden von ZEISS individuell nach der Prüfaufgabe konfiguriert. ZEISS VoluMax kann wahlweise für eine manuelle oder für eine automatisierte Beladung ausgelegt werden.