Architekturglas

  • Einführung

    Glas gehört heute weltweit zu den populärsten Baumaterialien. Es bringt höchsten Komfort und Atmosphäre in unser berufliches und privates Umfeld. In Verbindung mit ausgereiften Beschichtungstechnologien bekommt Glas eine Reihe äußerst nützlicher Eigenschaften: höchste Energieeffizienz bei Wohn- und Geschäftsgebäuden durch reduzierten Wärmetransport. Dies schont die Umwelt und spart Kosten. Hohe Transmission schafft helle, lichtdurchflutete Räume. Farben können für eine neutrale Wirkung oder bestimmte gestalterische Absichten in der Glasscheibe angepasst werden.

    Die Komplexität dieser Beschichtungen erfordert eine kontinuierliche und zuverlässige Kontrolle des Produktionsprozesses. Parameter wie Reflexions- und Transmissionsspektren, Farbwerte und Schichtdicke müssen über lange Zeiträume mit hoher Messfrequenz präzise überwacht werden. Hierzu benötigt man zuverlässige In-line-Überwachungssysteme mit der nötigen Robustheit für eine raue Betriebsumgebung, z. B. in Float-Anlagen oder unter Vakuumbedingungen im Beschichter.

  • OPTOPLEX®-Produktfamilie

    Die OPTOPLEX®-Produktfamilie ist eine Lösung für In-line-Qualitätsmessungen verschiedenster Dünnschicht-Beschichtungen entlang der gesamten industriellen Produktionslinie von Architekturglas. Jedes System ist individuell dafür ausgelegt, Beschichtungen auf Glasscheiben innerhalb des Vakuumbeschichters zu messen. Nachdem im Beschichter alle Beschichtungsschritte abgeschlossen sind, werden Transmission und Reflexion mit einem System gemessen, das außerhalb des Beschichters quer zur Laufrichtung die volle Breite der Glasscheiben abdeckt. Es ermöglicht eine Qualitätskontrolle, die fehlerfreie Resultate gewährleistet.

    Nutzen

    • Hohe Messgeschwindigkeit
    • Beschichtete Flächen > 5 m2
    • Genaues Abstimmen verschiedener Positionen – auch noch nach vielen Betriebsjahren
    • Einfache Anpassung an wechselnde Anforderungen
    • Datenzugriff in Echtzeit
    • Leicht erfassbare grafische Darstellung
    • Integration auf Automatisierungsebene via OPC, PROFIBUS, Digital-I/O und SQL-Datenbank
    • Modulares Design ermöglicht das Hinzufügen weiterer Messpositionen oder Erweiterung des Spektralbereichs
    • Selbstkalibrierung, Selbstauslösung und Synchronisierung
    • Platzierung der Optik innerhalb oder außerhalb der Vakuumkammer
    • Einrichtung und Schulung durch ZEISS

     

    OPTOPLEX® ist eine Handelsmarke von Leybold Systems GmbH und Applied Materials GmbH & Co. KG.
     

  • In-line Process

    In-line Process (früher: OPTOPLEX® 4 in-line)

    OPTOPLEX® 4 in-line ist ein Überwachungssystem für transparente Beschichtungsprozesse in einer vakuumdichten Umgebung. Dieses System ermöglicht In-line-Messungen mithilfe fest montierter Messköpfe. Dadurch kann das System in den Spalten zwischen den darunter durchgeführten Scheiben kalibriert werden. Gemessen werden unter anderem spektrale Reflexion, Transmission sowie Farbwerte und Beschichtungsdicke.

    Technische Daten
    • Messung der spektralen Transmission (380 nm – 1.100 nm; 1.700 nm auf Anfrage)
    • Messung der spektralen Reflexion (380 nm – 1.100 nm; 1.700 nm auf Anfrage)
    • Optionale Wirbelstromsensoren In-line Traverse (früher: OPTOPLEX® Q NG)

    In-line Process (früher: OPTOPLEX® Q NG)

    Nach dem Beschichtungsprozess ist es absolut notwendig, die Ergebnisse zu prüfen und die Qualität des Endprodukts zu bestätigen. OPTOPLEX® Q NG bietet mehrere automatische Scanmodi für die Messung vordefinierter Positionen auf dem Endprodukt. Der Anwender kann die Messparameter ohne zusätzliches Expertenwissen sehr einfach festlegen. Das System ist wahlweise als komplette Traversen-Konfiguration oder als Einzelpunkt-Messkopf erhältlich.

    Technische Daten
    • Messung der spektralen Transmission (365 nm – 1.100 nm; 1.700 nm auf Anfrage)
    • Messung der spektralen Reflexion (365 nm – 1.100 nm; 1.700 nm auf Anfrage)
    • Optionale Wirbelstromsensoren
    • Optionaler OFR155-Messkopf für optische Beschaffenheit, Betrachtungswinkel 55°

    OPTOPLEX® ist eine Handelsmarke von Leybold Systems GmbH und Applied Materials GmbH & Co. KG.

  • ThinProcess®

    Das ThinProcess®-Prozesssteuerungssystem ist die schnelle und effiziente autonome Lösung für die In-line-Messung der Eigenschaften von Oberflächenbeschichtungen. Es misst die Dicke der Dünnschicht-Auflage, bestimmt die Region der Reflexionsobergrenzen und berechnet kolorimetrische Werte. ThinProcess® ist einfach und individuell einstellbar und passt sich bestehenden oder neu entwickelten Beschichtungsverfahren an.

    Nutzen
    • In-line-Prozesskontrolle
    • Keine zusätzlichen Schutzgehäuse erforderlich
    • Einfach zu montieren und zu integrieren
    • Konfigurierbare Schnittstelle
    • Rezepturgesteuerter Betrieb für einfachen Produktwechsel
    • Schnelle und exakte Analyse bei voller Produktionsgeschwindigkeit
    • Datenarchivierung
    • Große Messflecken für eine schnellere und exakte In-line-Prozesssteuerung mikrostrukturierter Oberflächen
    • Optische Emissionsspektroskopie stabilisiert das Plasma in der Vakuumkammer
    Technische Daten
    Anzahl Schichten  > 2 (abhängig vom Schichtstapel) 
    Abtastfrequenz  bis zu 20 Messungen/s 
    Messbereich  0,40 µm – 25 µm | 0,25 µm – 100 µm (optional) 
    Datenzugriff  CSV-Datei, OPC, Digital-IO (SQL auf Anfrage) 
    Integration  Ethernet, PROFIBUS
  • Download
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