Optisches Glas

  • Einführung

    Optische Gläser kommen in vielen Bereichen des täglichen Lebens und der industriellen Produktion zum Einsatz: in Konsumgütern, in medizinischen und biotechnischen Geräten, in der Industrie und bei Sicherheitsanwendungen. Um höchsten Anforderungen an Funktionalität und Qualität gerecht zu werden, müssen Informationen über optische Eigenschaften wie Brechungsindex, Dispersion, Transmission oder Reflexion, Farbwerte oder Schichtdicke schnell, präzise und zuverlässig gesammelt werden.

    Spektrometersysteme von ZEISS versetzen die Hersteller optischer Gläser in die Lage, kontinuierlich die Eigenschaften und Parameter während des gesamten komplexen Prozesses auszuwerten. Die präzise NIR-Analyse enthüllt selbst winzigste Fehler und stellt ein perfektes Produkt sicher.

  • ThinProcess®

    ThinProcess® ist ein System für den Labortisch, und zwar zur Messung der spektralen Reflexion und Transmission von Linsen für optische Anwendungen aller Art. Die Messköpfe erfüllen Aufgaben wie Farbmessung unter einem Winkel, große und winzige Messflecken oder Unterdrückung von Reflexionen der Rückseite – und dies auch bei kleinen Proben von 100 mm x 100 mm.

    ThinProcess® kann als Tischgerät mit Probenhalter oder als In-line-System verwendet werden, das direkt an der Produktionslinie installiert ist. Das System ist einfach und individuell einstellbar und passt sich bestehenden oder neu entwickelten Beschichtungsverfahren an. Hohe Messgeschwindigkeit in Kombination mit Präzision und Wiederholgenauigkeit spart Zeit und Geld und optimiert das Produktionstempo.  

    Nutzen
    • Schnelle und exakte Analyse bei voller Produktionsgeschwindigkeit
    • Datenarchivierung
    • Große Messflecken für eine schnellere und exakte In-line-Prozesssteuerung mikrostrukturierter Oberflächen
    • Indirekte Messung mithilfe UV-generierter Fluoreszenz
    • Optische Emissionsspektroskopie stabilisiert das Plasma in der Vakuumkammer
    • Kein zusätzliches Schutzgehäuse erforderlich
  • Technische Daten
    Anzahl von Schichten
    Abtastrate bis zu 20 Messungen/s 
    Messbereich  0,40 µm–25 µm | 0,25 µm–100 µm (optional) 
    Datenzugriff  CSV-Datei, OPC, Digital-IO (SQL auf Anfrage) 
    Integration  Ethernet 
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