Thin layer analysis with FilmDetect®
Das FilmDetect®-Prozesssteuerungssystem ist die schnelle und effiziente autonome Lösung für die In-line-Messung der Eigenschaften von Oberflächenbeschichtungen. Es misst die Dicke der Dünnschicht-Auflage, bestimmt die Region der Reflexionsobergrenzen und berechnet kolorimetrische Werte. FilmDetect® ist einfach und individuell einstellbar und passt sich bestehenden oder neu entwickelten Beschichtungsverfahren an.
FilmDetect® wurde wahlweise als Gerät für den Labortisch oder für die vollständige Integration in Ihre Produktionslinie entwickelt. Es basiert auf unseren robusten, zuverlässigen und kompakten Diodenarray-Spektrometern. Das System spart durch In-line-Prozessüberwachung und bei Ihren täglichen Routineaufgaben Zeit und Geld.