FilmDetect®-Prozesssteuerungssystem

die schnelle und effiziente autonome Lösung

FilmDetect®

  • Einführung

    Das FilmDetect®-Prozesssteuerungssystem ist die schnelle und effiziente autonome Lösung für die In-line-Messung der Eigenschaften von Oberflächenbeschichtungen. Es misst die Dicke der Dünnschicht-Auflage, bestimmt die Region der Reflexionsobergrenzen und berechnet kolorimetrische Werte. FilmDetect® ist einfach und individuell einstellbar und passt sich bestehenden oder neu entwickelten Beschichtungsverfahren an.

    FilmDetect® wurde wahlweise als Gerät für den Labortisch oder für die vollständige Integration in Ihre Produktionslinie entwickelt. Es basiert auf unseren robusten, zuverlässigen und kompakten Diodenarray-Spektrometern. Das System spart durch In-line-Prozessüberwachung und bei Ihren täglichen Routineaufgaben Zeit und Geld.

  • Vorteile
    • In-line-Prozesskontrolle
    • Schnelle und exakte Analyse bei voller Verarbeitungsgeschwindigkeit
    • Datenarchivierung
    • Große Messflecken für eine schnellere und exakte In-line-Prozesssteuerung mikrostrukturierter Oberflächen
    • Indirekte Messung mithilfe UV-generierter Fluoreszenz
    • Optische Emissionsspektroskopie stabilisiert das Plasma in der Vakuumkammer
    • Keine zusätzlichen Schutzgehäuse erforderlich
  • Technische Daten
    Technische Daten FilmDetect®
    Anzahl Schichten > 2 (abhängig vom Schichtstapel)
    Abtastfrequenz bis zu 20 Messungen/s
    Messbereich 0,40 µm – 25 µm | 0,25 µm – 100 µm (optional)
    Datenzugriff CSV-Datei, OPC, Digital-IO (SQL auf Anfrage)
    Integration Ethernet, Feldbus
  • Download

    ThinProcess®

    Thin layer analysis with ThinProcess®

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    FilmDetect®

    Thin layer analysis with FilmDetect®

    Seiten: 4
    Dateigröße: 500 kB

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