ZEISS CGS UV-NIR

Das Gitterspektrometer CGS UV-NIR wurde für anspruchsvolle Messaufgaben entwickelt und eignet sich für zahlreiche Anwendungen. Seine kompakte Bauweise und Unempfindlichkeit gegenüber Einflüssen von außen erlaubt seine direkte Integration in At-line-, On-line- und In-line-Inspektionsprozesse. Die variablen Detektoroptionen (CCD oder PDA) erlauben Messungen mit optimaler spektraler Effizienz und stellen Resultate hoher Qualität sicher.

Je nach Anwendung sind verschiedene Varianten erhältlich:

• Spalt (als optischer Eingang), auf Anfrage anpassbar
  
• Gebrauchsbereite Elektronik
  
• Optimiertes Flat-Field-Gitter
  
• Sphärischer Spiegel für geringere Aberration
  
• Back-thinned-CCD oder PDA, befestigt am Aluminiumgehäuse
  
• Schnittstellen, Verarbeitungssoftware und Support
  

• Hohe Auflösung
  
• Hohe Empfindlichkeit
  
• Sehr gutes Signal-Rausch-Verhältnis
  
• Thermisch stabil
  
• Großer Dynamikbereich
  
• Geringes Falschlicht
  
• Kompakt
  
• Geeignet für harte Einsatzbedingungen
  

• Optimiertes Flat-Field-Gitter für Lichtstreuung und Abbildung
  
• Verfügt über ein abbildendes Gitter, einen optischen Port und einen ungekühlten Back-thinned-CCD Detektor oder ein Si-Fotodiodenarray (PDA)
  
• Elektrische Shutterfunktion ermöglicht minimale Integrationszeiten und sichert hohe Empfindlichkeit (CCD)
  
• Extrem geringes Rauschen und damit ein sehr gutes Signal-Rausch-Verhältnis auch bei geringer Beleuchtungsintensität (PDA) 
  
• Spektraler Pixelabstand von 0,4 nm/Pixel (CCD) und 0,7 nm/Pixel (PDA)
  
• Spektrales Auflösungsvermögen besser als 3 nm gemäß Rayleigh-Kriterium
  
• Präziser SMA-Lichtwellenleiter-Anschluss mit fest montiertem Eingangsspalt (in verschiedenen Breiten erhältlich) erlaubt die exakte Ausrichtung der Faserkerne
  
• Alle optischen Komponenten an einem Aluminiumgehäuse montiert