ThinProcess®
reliabilityMADE BY ZEISS

ZEISS In-line Spektrometer System

Jeder Herausforderung gewachsen.

reliabilityMADE BY ZEISS

ThinProcess® In-line Monitoring Systeme

(vormals: OPTOPLEX®)

  • Höchste Genauigkeit unter Prozessbedingungen
  • Hohe Messfrequenz

 

  • Einführung

    ThinProcess® ist unsere konsequente Weiterentwicklung der bekannten und etablierten OPTOPLEX®-Systemfamilie. Mit der Einführung von ThinProcess® steht Ihnen eine durchgängige ZEISS Lösung zur Kontrolle von Großflächen‐Beschichtungsprozessen zur Verfügung, die Ihnen bereits während der Herstellung Informationen zur Qualität Ihrer Produkte liefert - mit der Genauigkeit von Laborsystemen.


    Unter Einsatz unserer modernen Software ist die Systemfamilie in der Lage, die neuesten ZEISS Messköpfe durchgängig einzubinden. Diese erfüllen die Ansprüche der "lab‐like certainty" ‐ also der Messsicherheit aus dem Labor direkt an der Linie.

     

    ThinProcess® bietet Lösungen zur In-line Prozesskontrolle für alle Verfahren der Großflächenbeschichtung:

    Horizontale oder vertikale Glasbeschichtung
    Rolle-zu-Rolle Folienbeschichtung
    Im Vakuum oder unter Atmosphäre

    Alle Mitglieder der ThinProcess®-Familie:

    • messen, je nach Hardwareausstattung, die spektrale Reflexion und Transmission sowie den Schichtwiderstand.
    • berechnen aus den Spektren Farbwerte, Schichtdicken und weitere Kennzahlen.
    • sind modular erweiterbar.

    Besondere Merkmale der ThinProcess®-Familie:

    • Höchste Genauigkeit unter Prozessbedingungen
    • Hohe Messfrequenz
    • Flexible und übersichtliche Softwareoberfläche über sämtliche Anwendungsfälle hinweg
    • Integration auf Automatisierungsebene via OPC DA, PROFIBUS, PROFINET, ETHERNET I/P und andere, Digital‐I/O und SQL‐Datenbank
    • durchgängiges Daten- und Automatisierungsmodell über alle Anwendungsfälle entlang der Produktionslinie
    • Inbetriebnahme und Schulung durch ZEISS
  • ThinProcess® P

    ThinProcess® P ist ein Ein- oder Mehrkanal-Spektrometersystem, das die optischen Eigenschaften nach einem bzw. mehreren Beschichtungsschritten misst.

    Die diskreten Substrate werden automatisch erkannt und die Lücken zur automatischen Triggerung und Referenzierung genutzt.

    Die Messung kann unter Vakuum oder unter Atmosphäre stattfinden.  

    Applikationen:

    Architekturglas
    Automotivglas
    Displayglas
    Solarglas
    Dünnschichtsolarzellen

    Features:

    • Messung der spektralen Transmission und Reflexion (380 nm - 1.050 nm)
    • Verfügbare Berechnungen und Auswertungen:

    - Farbe
    - Schichtdicke
    - Schichtanalytik
    - Spektrenevaluierung
    - Absorbanz / Absorptanz
    - Solare Charakteristik
      (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
    - Losstatistik, Cpk & Cp
    - durch Skriptsprache erweiterbar

     

    Optionen:

    • erweiterter Wellenlängenbereich (bis 1.650 nm)
    • Schichtwiderstandsmessung
  • ThinProcess® Q

    ThinProcess® Q ist ein traversierendes Spektrometersystem, das die optischen Eigenschaften des fertigen Produktes misst.

    Das System bietet Ihnen mehrere automatische Scanmodi für die Messung vordefinierter Positionen auf dem Endprodukt.

    Applikationen:

    Architekturglas
    Automotivglas
    Displayglas
    Solarglas
    Dünnschichtsolarzellen

    Features:

    • Messung der spektralen Transmission und Reflexion (365 nm - 1.050 nm)
    • Verfügbare Berechnungen und Auswertungen:

    - Farbe
    - Schichtdicke
    - Schichtanalytik
    - Spektrenevaluierung
    - Absorbanz / Absorptanz
    - Solare Charakteristik
      (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
    - Losstatistik, Cpk & Cp
    - durch Skriptsprache erweiterbar


    Optionen:

    • erweiterter Wellenlängenbereich (bis 1.650 nm oder 2.150 nm)
    • Schichtwiderstandsmessung
    • Farbmessung unter einem Winkel von 55° 
  • ThinProcess® R

    ThinProcess® R ist ein Ein- oder Mehrkanal-Spektrometersystem, das die optischen Eigenschaften nach einem oder mehreren Beschichtungsschritten misst.

    Die Messung sowie die Referenzierung werden durch die Anlagensteuerung mittels Digital I/O oder Feldbussignale ausgelöst.

    Die Messung kann unter Vakuum oder unter Atmosphäre stattfinden.

    Applikationen:

    Architekturglas
    Automotivglas
    Displayglas
    Solarglas
    Dünnschichtsolarzellen

    Features:

    • Messung der spektralen Transmission und Reflexion (380 nm - 1.050 nm)
    • Verfügbare Berechnungen und Auswertungen:

    - Farbe
    - Schichtdicke
    - Schichtanalytik
    - Spektrenevaluierung
    - Absorbanz / Absorptanz
    - Solare Charakteristik
      (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
    - Losstatistik, Cpk & Cp
    - durch Skriptsprache erweiterbar

     

    Optionen:

    • erweiterter Wellenlängenbereich (von 365 nm, bis 1.650 nm oder 2.150 nm)
    • Schichtwiderstandsmessung
  • ThinProcess® WEB

    ThinProcess® WEB ist ein Ein- oder Mehrkanal-Spektrometersystem, das die optischen Eigenschaften nach einem oder mehreren Beschichtungsschritten in Bandbeschichtungsanlagen misst.

    Das Messregime kann komplett in das Automatisierungskonzept der Maschine integriert werden.

    Die Messung kann unter Vakuum oder unter Atmosphäre stattfinden.

    Applikationen:

    Verpackungsfolie
    Displayfolie
    Dünnglas
    Metallbänder
    OLED, flexible Elektronik   
    Dünnschichtsolarzellen
    Sicherheitsmerkmale, Hologramme

    Features:

    • Messung der spektralen Transmission und Reflexion (380 nm - 1.050 nm)
    • Verfügbare Berechnungen und Auswertungen:

    - Farbe
    - Schichtdicke
    - Schichtanalytik
    - Spektrenevaluierung
    - Absorbanz / Absorptanz
    - Solare Charakteristik
      (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
    - Losstatistik, Cpk & Cp
    - durch Skriptsprache erweiterbar

     

    Optionen:

    • erweiterter Wellenlängenbereich (von 340 nm bis 1.650 nm bzw. von 365 nm bis 2.150 nm)
    • Schichtwiderstandsmessung
  • Software

    Die ThinProcess®-Familie wird durch die Software ThinProcess® unterstützt.

     

    Mit dieser rezeptbasierten Monitoring Software können können die spektralen Eigenschaften angezeigt und verschiedene Schichtparameter, wie Farbwerte oder Schichtdicke, berechnet werden.

     

    Die Software ist dabei konsequent auf Ihr Anwendungsszenario ausgerichtet, damit Sie lediglich die Informationen sehen, die für Ihre Applikation relevant sind. Die entsprechende Konfiguration können Sie über separate Werkzeuge anpassen.

     

    Mit der Software können Sie sowohl Ihre eigenen Berechnungen als auch eigene Ergebnisdarstellungen frei konfigurieren. Die Messungen können unter anderem als Werte, Trends oder Verteilungen angezeigt werden.

     

    Die Datenablage erfolgt in CSV Dateien und einer SQL Datenbank.

     

    Verfügbare Berechnungen und Auswertungen:

    • Farbe
    • Schichtdicke
    • Schichtanalytik
    • Spektrenevaluierung
    • Absorbanz / Absorptanz
    • Solare Charakteristik (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
    • Losstatistik, Cpk & Cp
    • durch Skriptsprache erweiterbar

    Die ThinProcess® Software verfügt über:

    • diverse Alarmfunktionen, d.h. automatische Warnung bei Grenzwertüberschreitung
      (Definition von Grenzwerten und Warnstufen).
    • ein optionales Data‐History Modul.
    • eine nahtlose Einbindung von SCOUT
      (einer modellbasierten Schichtanalytik-Software)
      sowie von chemometrischen Modellen.   

OPTOPLEX® ist eine Handelsmarke von Leybold Systems GmbH und Applied Materials GmbH & Co. KG.

Wir verwenden Cookies auf dieser Website. Cookies sind kleine Textdateien, die von Websites auf Ihrem Computer gespeichert werden. Cookies sind weit verbreitet und helfen Seiten optimiert darzustellen und zu verbessern. Durch die Nutzung unserer Seiten erklären Sie sich damit einverstanden. mehr