Messtechnik hautnah erleben

Computertomographie für die Defektanalyse

Unter dem Fokusthema „Computertomographie für die Defektanalyse“ erfahren Sie am 09. Februar 2023 in einer gemütlichen Runde bei Kaffee und Snacks mehr über Neuerungen, Anwendungen oder Lösungen in der Messtechnik. Je nach Herstellungsprozess kommt es häufig zu einer Reihe von Defekten, die aufgrund von Sicherheitsgründen und Industriestandards nicht akzeptiert werden können. Erfahren Sie hautnah, wie Sie mit 2D- und 3D-Röntgenlösungen von ZEISS innenliegende Defekte prüfen können.

Treffen Sie unsere Experten aus dem Bereich Computertomographie und tauschen Sie sich direkt an den Messsystemen aus. So lernen Sie auch das ZEISS Quality Excellence Center in Ihrer Nähe kennen.

Nutzen Sie die Gelegenheit, Ihr eigenes Bauteil oder eine technische Zeichnung mitzubringen und direkt mögliche Lösungsansätze zu diskutieren. Unsere Experten freuen sich auf Sie.

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