Beispielhafte Prozessabbildung mit allen Produkten der ThinProcess Familie
Spektrometer-Systeme

ThinProcess® Familie Spektrometer-Systeme zur Inline-Prozessüberwachung

ThinProcess® von ZEISS ist eine laborgenaue End-to-End-Lösung zur Steuerung und Überwachung der Qualität von großflächigen Beschichtungsprozessen. ThinProcess® ist ideal für horizontale / vertikale Glasbeschichtung, Rolle-zu-Rolle-Folie, im Vakuum oder unter Atmosphäre.

  • "Lab-like certainty"
  • Hohe Messfrequenz
Nahaufnahme einer Glasscheibe auf Rollen in einer Glasfabrik

Ganz oben auf der Skala ThinProcess® Lösungen für die Inline-Prozessüberwachung

ThinProcess® bietet Ihnen alles, was Sie brauchen, um die Qualität Ihrer Produktion von großflächigen Beschichtungen mit einer Zuverlässigkeit wie im Labor zu überwachen. Unsere hochmoderne Software nutzt die neuesten ZEISS Mess-Lösungen, die durch ihre konfigurierbare Hardware und den Einsatz verschiedener Feldbusse in eine Vielzahl von Produktionslinien integriert werden können. ThinProcess® bietet bei der Berechnung von Kennzahlen wie Farbwerten, Schichtdicken und anderen Merkmalen in den Spektren ein Höchstmaß an Genauigkeit unter Prozessbedingungen.

ThinProcess® bietet Lösungen für die Inline-Prozessüberwachung aller großflächigen Beschichtungsprozesse:
✔ Horizontale oder vertikale Glasbeschichtung
✔ Rolle-zu-Rolle-Folienbeschichtung
✔ Im Vakuum oder in der Atmosphäre

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Beispielhafte Prozessabbildung mit allen Produkten der ThinProcess Familie
ThinProcess® P

ZEISS ThinProcess® P ist ein ein- oder mehrkanaliges Messsystem zur Bestimmung der optischen Eigenschaften nach einem oder mehreren Beschichtungsschritten. Die diskreten Substrate werden automatisch identifiziert und die Lücken zur automatischen Auslösung und Referenzierung verwendet. Die Messung kann unter Vakuum oder unter Atmosphäre durchgeführt werden.

✔ Messungen der spektralen Transmission und Reflexion von 360 nm bis 1050 nm
✔ Berechnungen und Analysen von Farbe, Schichtdicke, Spektrenauswertung, Absorbanz / Absorptanz, solarer Charakteristik und mehr
✔ Erweiterter Wellenlängenbereich bis 1650 nm
✔ Schichtwiderstandsmessungen

ThinProcess® Q

ZEISS ThinProcess® Q ist ein traversierendes Messsystem, das die optischen und spektroskopischen Eigenschaften des Endprodukts bestimmt. Das System bietet mehrere automatische Scanmodi zur Messung vordefinierter Positionen auf dem Endprodukt.

✔ Messungen der spektralen Transmission und Reflexion von 360 nm bis 1050 nm
✔ Berechnungen und Analysen von Farbe, Schichtdicke, Spektrenauswertung, Absorbanz / Absorptanz, solarer Charakteristik und mehr
✔ Erweiterter Wellenlängenbereich bis 1650 oder 2150 nm
✔ Farbmessungen mit einem Neigungswinkel von 55°

ThinProcess® R

ZEISS ThinProcess® R ist ein ein- oder mehrkanaliges Messsystem zur Bestimmung der optischen Eigenschaften nach einem oder mehreren Beschichtungsschritten.
Das System kann über digitale E/A- oder Feldbussignale gesteuert werden, um die Messung und die Referenzierung zu aktivieren.
Ideal also, wenn die Lücken zwischen den Scheiben zu klein sind oder die Prozessgeschwindigkeit für eine automatische Erkennung zu hoch ist.
Die Messung kann unter Vakuum oder unter Atmosphäre durchgeführt werden.

✔ Messungen der spektralen Transmission und Reflexion von 360 nm bis 1050 nm
✔ Berechnungen und Analysen von Farbe, Schichtdicke, Spektrenauswertung, Absorbanz / Absorptanz, solarer Charakteristik und mehr
✔ Erweiterter Wellenlängenbereich von 365 nm bis 1650 nm oder 2150 nm
✔ Schichtwiderstandsmessungen

ThinProcess® WEB

ZEISS ThinProcess® WEB ist ein ein- oder mehrkanaliges Messsystem zur Bestimmung der optischen Eigenschaften nach einem oder mehreren Beschichtungsschritten in Bandbeschichtungsanlagen. Das Messsystem kann vollständig in die Automatisierungsstrategie der Maschine integriert werden. Die Messung kann unter Vakuum oder unter Atmosphäre durchgeführt werden.

✔ Messungen der spektralen Transmission und Reflexion von 360 nm bis 1050 nm
✔ Berechnungen und Analysen von Farbe, Schichtdicke, Spektrenauswertung, Absorbanz / Absorptanz, solarer Charakteristik und mehr
✔ Erweiterter Wellenlängenbereich von 340 nm bis 1.650 nm oder von 365 nm bis 2150 nm
✔ Schichtwiderstandsmessungen

Erweitern Sie den Bereich des Möglichen

Mit der richtigen Software für Ihre Hardware

engineer sits in front of the computer in a production environment in his office, the screen show the interface of the thinprocess software

Software speziell für ThinProcess®

Die ThinProcess® Software wurde speziell für die ThinProcess® Spektrometer-Familie entwickelt. Behalten Sie Prozessinformationen und Sollwerte im Blick mittels Datenvisualisierung und Kommunikation mit übergeordneten Leitsystemen über ProcessLinker.
Von Farbe und Dicke bis hin zu Spektralauswertung und Absorption führt die ThinProcess® Software verschiedene Berechnungen und Messungen durch und kann exakt an Ihre Bedürfnisse angepasst werden.

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