Webinar: KI-gestützte Fehleranalyse & Yield-Optimierung in der Halbleiterfertigung

In der Halbleiterfertigung zählt jede Sekunde, denn Fehler kosten nicht nur Zeit, sie verursachen Millionen-Verluste. Doch wichtige Informationen zur Fehleranalyse sind oft über verschiedenste Systeme verteilt. Unser Multi-Agent Knowledge Retrieval System integriert diese heterogenen Datenquellen auf intelligente Weise, um eine umfassende Analyse komplexer Fehlerszenarien zu ermöglichen. Damit schaffen Hersteller Transparenz, reduzieren Ausfallzeiten und steigern den Yield signifikant.

Warum sollten Sie am Webinar teilnehmen?
In unserem Webinar erfahren Sie, wie moderne KI-Methoden wie Retrieval-Augmented Generation (RAG), Source Grounding und KI-Agenten eingesetzt werden, um komplexe Fehlerursachen zu identifizieren und KI-Halluzinationen drastisch zu minimieren. Dieses Vorgehen erhöht die Sicherheit und Zuverlässigkeit Ihrer Fertigungsprozesse.

Key Take Aways

Schnellere Root‑Cause‑Analyse bei komplexen Fehlerbildern
Weniger manuelle Recherche, geringere Fehleranfälligkeit
Höhere Yield‑Stabilität bei High‑Volume / High‑Precision Manufacturing
Bessere Entscheidungsgrundlagen für Engineering & Operations

Hinweis: Das Webinar wird auf Englisch durchgeführt.

Referent:

Philipp Gersten AI Engineer, ZEISS Digital Innovation

Philipp Gersten entwickelt KI-Architekturen für die Halbleiterindustrie auf Basis von Multiagenten-Systemen mit strikten Anforderungen an Faktentreue und Verifizierbarkeit. Sein Schwerpunkt liegt auf. Sein Schwerpunkt liegt auf robusten, auditierbaren GenAI-Services mit RAG, deterministischer Orchestrierung sowie durchgängiger Evaluation und Betriebs-Monitoring. Mit über acht Jahren Erfahrung in Python, SQL und modernen LLM/ML-Stacks verbindet er technische Exzellenz mit klarer Kommunikation und verlässlicher Umsetzung für messbaren Geschäftsnutzen, verbesserte Prozesse und verlässliche Teamarbeit. Er hält einen M.Sc. in Professional IT Business und einen B.Sc. in Wirtschaftsinformatik.