Abbildung eines ZEISS GeminiSEM-Rasterelektronenmikroskops für Bildgebung mit hoher Auflösung und Materialanalyse.
High-End FE-SEM-Technologie

ZEISS GeminiSEM​

Höchste Probenflexibilität seiner Mikroskopklasse

Entdecken Sie das Unbekannte und erfüllen Sie höchste Anforderungen an Subnanometer-Bildgebung, Analytik und Probenflexibilität mit einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM). Das System ermöglicht Analysen mit hohem Durchsatz und bietet zugleich eine hervorragende Auflösung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen, hohen Geschwindigkeiten und hohen Sondenstromstärken.

  • Höchste Bildqualität und Vielseitigkeit
  • Erweiterte Bildgebungsmodi
  • Hocheffiziente Detektion, herausragende analytische Funktionen
  • Die seit über 25+ Jahren perfektionierte ZEISS Gemini-Technologie
  • Große Auswahl an Detektoren für optimale Abdeckung

Highlight: Spannungskontrast sichtbar machen.

Das ZEISS GeminiSEM mit ULV-Detektor ermöglicht es Industrielaboren, elektronische Eigenschaften sowie Strukturen im Mikro- und Nanobereich effizient zu charakterisieren – selbst bei extrem niedrigen Beschleunigungsspannungen. Diese erweiterte Funktionalität liefert tiefere Einblicke für die Fehleranalyse und die erweiterte Materialcharakterisierung.

ZEISS GeminiSEM für die Industrie​

Erleben Sie eine neue Qualität bei der Untersuchung Ihrer Proben.​
Zwei Frauen arbeiten gemeinsam an ZEISS-Rasterelektronenmikroskop-Arbeitsplätzen (SEM) und analysieren dabei Mikroskopbilder auf Computermonitoren.

Das System ermöglicht Analysen mit hohem Durchsatz und liefert zugleich schnelle Ergebnisse bei hervorragender Auflösung – selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen oder hohen Sondenstromstärken. Dank des großen Sehfelds und der großzügig dimensionierten Probenkammer lassen sich auch sehr große Proben problemlos untersuchen.

Mit ZEISS GeminiSEM charakterisieren Sie die chemische Zusammensetzung und die Kristallorientierung effizient – dank zweier diametral gegenüberliegender EDX-Anschlüsse und einer komplanaren EDX/EBSD-Konfiguration. Erstellen Sie Elementverteilungsbilder schnell und ohne Abschattungen.

Personalisieren und automatisieren Sie Ihre Workflows: Wenn Sie Materialien bis an ihre technischen Grenzen testen müssen, bietet Ihnen ZEISS ein automatisiertes In-situ-Labor für Wärme- und Spannungsexperimente.

Drei ZEISS GeminiSEM-Rasterelektronenmikroskope, die maßgeschneiderte Lösungen für unterschiedliche industrielle Anwendungsanforderungen bieten.

Anwendungsgebiete auf einen Blick

  • Fehleranalysen bei mechanischen, optischen und elektronischen Komponenten
  • Bruchanalyse und Metallographie
  • Charakterisierung von Oberfläche, Mikrostruktur und ganzen Bauelementen
  • Elementzusammensetzung und Phasenverteilung
  • Bestimmung von Verunreinigungen und Einschlüssen

Erfahren Sie in unseren Videos mehr über GeminiSEM

  • Erwärmungs- und Zugversuche | In-situ für ZEISS FE-SEM​

    Sehen Sie sich unser neues Video zum Workflow an und erfahren Sie, wie Sie mit dem In Situ Lab von ZEISS automatisierte In-situ-Erwärmungs- und Zugversuche durchführen können.​
  • ZEISS GeminiSEM-Produktfamilie: Ihre FE-SEMs für erstklassige Bildgebung und effiziente Analytik

    Die ZEISS GeminiSEM-Produktfamilie bietet Forschenden aus verschiedenen Disziplinen – von den Materialwissenschaften bis zu den Lebenswissenschaften – drei neue Modelle. Drei einzigartige Designs für die Gemini-Elektronenoptik und eine große, flexible neue Kammer decken alle Ihre Anforderungen im Bereich der Bildgebung und Analyse ab.​

Imaging und Materialanalyse in der Forschung zu Lithium-Ionen-Batterien

  • Mikroskopischer Vergleich von neuen NCM-622- und gealterten NCM-111-Kathodenpartikeln mittels EsB-Bildgebung.
    Mikroskopischer Vergleich von neuen NCM-622- und gealterten NCM-111-Kathodenpartikeln mittels EsB-Bildgebung.

    Kathodenmaterialien in der Automobilindustrie​

    Die Leistungsfähigkeit von Funktionsmaterialien und komplexen Bauteilen wie Batterien, Solarzellen und Brennstoffzellen hängt von der Mikrostruktur der verwendeten Materialien ab. Damit diese Verbundwerkstoffe die gewünschte Leistung erbringen können, muss das Zusammenspiel vieler unterschiedlicher Materialien funktionieren.​

    Im Mittelpunkt stehen hier die Materialien Nickel, Mangan und Kobalt. Dieser Batterietyp ist als Li-NMC, LNMC, NMC oder NCM bezeichnet. Die Bezeichnungen NCM 111, 523 usw. geben das jeweilige Verhältnis von Nickel, Kobalt und Mangan an. Das Beispiel zeigt den Querschnitt einer Lithium-Ionen-Batterie mit einer Kathode aus NCM 111. Das Auf- und Entladen von Lithium-Ionen-Batterien führt zu Veränderungen in der Mikrostruktur. Es treten Risse auf, die den Flächeninhalt der SEI-Schicht vergrößern. Dies beeinträchtigt die Leistung der Batterie.​

  • SEM-Bilder zum Vergleich der Partikel und Querschnitte von NCM 111, NCM 523, NCM 622 und NCM 811.
    SEM-Bilder zum Vergleich der Partikel und Querschnitte von NCM 111, NCM 523, NCM 622 und NCM 811.

    Mithilfe eines Rasterelektronenmikroskops lassen sich weitere strukturelle Unterschiede zwischen den NCM-Varianten erkennen, die auf andere Produktionsfaktoren zurückzuführen sind. Im Querschnitt betrachtet sind die Primärteilchen von 811 wesentlich kleiner als die von 532 oder 111. Dieser hervorragende Materialkontrast der Subkornstruktur ist nur mit einer Funktion sichtbar, die ausschließlich bei ZEISS-Elektronenmikroskopen zu finden ist: dem– Energy Selective Backscatter (EsB)-Detektor.​

    Eine optimierte Zusammensetzung der Elektrolyte kann zu einem geringeren physikalischen Verschleiß der Kathodenmaterialien führen. Durch verbesserte chemische Prozesse lassen sich Kathodenmaterialien mit größeren Kornpartikeln herstellen.​

  • Falschfarbiges elektronenmikroskopisches Bild eines Querschnitts einer Schichtbatterie mit Elementkartierung für Cu, Ni, Si, Al, F, O und C.
    Falschfarbiges elektronenmikroskopisches Bild eines Querschnitts einer Schichtbatterie mit Elementkartierung für Cu, Ni, Si, Al, F, O und C.

    Lithium-Ionen-Batterie: EDX-Bild der Elementverteilung​

    Querschnitt einer vollständigen Lithium-Ionen-Batteriezelle: EDX-Elementverteilungsbild (O, Al, F, Si und C). Mittels energiedispersiver Spektroskopie (EDX) lässt sich die Elementzusammensetzung der untersuchten Objekte unter dem Mikroskop ermitteln.

    Dieses Bild belegt einen hohen Gehalt an Fluor auf der Kathodenseite, wie es bei einer gealterten Probe zu erwarten ist. Fluor ist im Elektrolyten enthalten und verbindet sich mit der SEI-Schicht, die mit der Nutzungsdauer größer wird. Der Böhmit-Separator zeigt erwartungsgemäß Signale für Aluminium und Sauerstoff. Kohlenstoff wird als Leitmaterial im Bindemittel verwendet. Da das Polymer des Separators aus Kohlenwasserstoff besteht, ist Kohlenstoff überall in der Batterie nachweisbar.

  • ZEISS-Software zur Darstellung segmentierter mikroskopischer Körner mit hervorgehobenen Begrenzungen und einstellbaren Erkennungsparametern.
    ZEISS-Software zur Darstellung segmentierter mikroskopischer Körner mit hervorgehobenen Begrenzungen und einstellbaren Erkennungsparametern.

    Materialanalyse: Korngrößenanalyse mit KI-Segmentierung

    Die Korngröße und die Korngrößenverteilung stehen in direktem Zusammenhang mit den Materialeigenschaften. Bestimmen Sie die kristallographische Struktur Ihrer Materialien entsprechend internationaler Standards. Sie können Ihre Proben anhand von drei Auswertemethoden charakterisieren:​

    • Planimetrische Methode zur automatischen Rekonstruktion von Korngrenzen​
    • Intercept-Verfahren mit einer Vielzahl unterschiedlicher Messgitter zur interaktiven Erkennung und Zählung von Korngrenzenkreuzungen​
    • Vergleichsverfahren für die manuelle Bildauswertung mit Vergleichsdiagrammen​
  • ZEISS-Software zur Anzeige einer Korngrößenanalyse eines mikroskopischen Bildes mit segmentierten Körnern und einem Verteilungsdiagramm.
    ZEISS-Software zur Anzeige einer Korngrößenanalyse eines mikroskopischen Bildes mit segmentierten Körnern und einem Verteilungsdiagramm.

    Die ZEISS ZEN Intellesis-Software nutzt Algorithmen des maschinellen Lernens und ein vortrainiertes Modell, um die Fremdphase und Korngrenzen zu erkennen. Mit einem Klick können Sie das Modell der Instanzsegmentierung und die zu segmentierende Klasse auswählen.​

    Die Ergebnisansicht enthält alle Bilder und Ergebnisse der durchgeführten Analyse. Die Originalbilder werden ebenfalls angezeigt. Sie können alle Ergebnisse der Analyse sowohl in einer übersichtlichen Tabellenansicht als auch in einem Säulendiagramm zur Korngrößenverteilung einsehen.​

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