Skip to main content
Spectroscopy
Zurück
Spectroscopy
Empfohlene Suchen
Beliebte Suchen
Die spiegelnde Glasfassade eines Hochhauses zeigt den Anwendungsbereich der Thin Film Metrology
Anwendungen & Branchen

Thin Film Metrology

Prozesskontrolle für großflächige Beschichtungen
  • Spektrale Reflexions- und Transmissions-Messtechnik
  • Zuverlässige prozessbegleitende Messtechnik für Prozesskontrolllösungen
  • Qualitätskontrolle der Produktion

Wir haben alles für Sie abgedeckt Zuverlässige Lösungen für Beschichtungen und Prozesse

Große Glasscheiben auf Rollen

Großflächenbeschichtung Modernste Messtechnik für modernste Materialien

Präzise optische Mess- und kompakte Spektrometersysteme für spezielle industrielle Anwendungen mit großen Oberflächen.

Großflächenbeschichtung
Futuristisches Labor. Männlicher Wissenschaftler arbeitet an seinem transparenten Computerbildschirm, ThinProcess Software auf dem Bildschirm, Batch-Verarbeitungsanwendungen

Batchproduktion Flexible Systeme zur Vereinfachung der Prozesssteuerung und Steigerung der Effizienz

Batchproduktion
moderne Verarbeitungsmaschine für Folie

Converting Berührungslose Mess- und Auswertungstechnik

Converting

Sofortiger Einblick in den Prozess Damit Sie schnell reagieren, Änderungen vornehmen und die Kontrolle behalten können

ZEISS Spektrometer-Systeme bestimmen die Farbe und Dicke von Beschichtungen sowie Transmissions- und Reflexionsspektren. So erhalten Sie einen sofortigen Einblick in den Prozess- und Produktzustand und können Beschichtungssysteme schnell in Betrieb nehmen, Produkte effizient umstellen und Ihren Prozess ständig im Auge behalten.

  • Prozesskontrolle von Beschichtungen

    Nach dem Beschichtungsprozess werden die Eigenschaften durch Messung der spektralen Transmission und/oder Reflexion bestimmt. Dies geschieht in Beschichtungskammern im Vakuum oder unter Atmosphäre. Die Werte werden sofort zur Verfügung gestellt, um gegebenenfalls Korrekturen vorzunehmen.

  • Qualitätskontrolle im Produktionsprozess

    Qualitätsparameter wie Farbe, Schichthomogenität oder Farbeindruck aus verschiedenen Blickwinkeln werden kontinuierlich und ohne Benutzereingriff gemessen und aufgezeichnet.

  • Prozessbegleitende Messtechnik

    Für die prozessbegleitende Messung von Beschichtungsparametern stehen Systeme zur Verfügung, welche sich durch hohe Messgeschwindigkeit und Genauigkeit ohne Probenjustierung auszeichnen.

  • Einbettung in das Prozessleitsystem

    Alle ThinProcess® Messsysteme speichern die Ergebnisse in einer SQL-Datenbank ab, wobei die Integration in das Prozessleitsystem über optionale Feldbusschnittstellen erfolgt. Eine Integration in MES ist ebenfalls möglich.

    ThinProcess® Familie

Kontakt & Service

Service & Support

Benötigen Sie Unterstützung bei der Installation, Anwendung oder Wartung?

Kontakt

Haben Sie Fragen zu unseren Produkten oder kundenspezifischen Konfigurationen für Ihre Anwendung?

Formular wird geladen ...

Optionale Angaben

Ihre im Formular eingetragenen Angaben werden von der Carl Zeiss Spectroscopy GmbH, einem autorisierten Vertreter von ZEISS oder einem Händler verarbeitet, um Ihre Anfrage per E-Mail oder telefonisch zu beantworten. Weitere Informationen über die Datenverarbeitung bei ZEISS entnehmen Sie bitte unserem Datenschutzhinweis.

Vertriebspartner

Finden Sie Partner und Vertriebshändler in Ihrer Nähe