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Futuristisches Labor. Männlicher Wissenschaftler arbeitet an seinem transparenten Computerbildschirm, ThinProcess Software auf dem Bildschirm, Batch-Verarbeitungsanwendungen
Thin Film Metrology

Ständige Auswertung der Prozessparameter ZEISS Lösungen für die Batchproduktion

  • Zerstörungsfreie Messung in Echtzeit mit sofortigen Ergebnissen
  • Vollständige Spektralanalyse für Transmission und Reflexion, Farbe und Bewertung der Schichtdicke
  • Erheblich verbesserte Produktivität und Produktqualität
  • Absolute spektrale Reflexionsmessungen ohne Referenzstandard
  • Feldbus-Schnittstelle zur Steuerung des Beschichtungsgeräts

Perfektion erreichen

Um die höchsten Standards zu erreichen, müssen selbst kleinste Fehler erkannt und behoben werden. Angesichts des starken Kostendrucks in der Industrie müssen alle Produktionsprozesse detailliert abgebildet und die richtigen Parameter eingestellt werden, um Effizienz und Qualität zu verbessern. Darüber hinaus müssen alle Ergebnisse auch rückverfolgbar sein.

Kontinuierliche Bewertung

Komplexe Prozesse erfordern eine kontinuierliche Bewertung von Eigenschaften und Parametern. Stichproben reichen nicht aus, da die Qualitätsbewertung auf der Grundlage von Prozessdaten erfolgen muss. Die zunehmende Automatisierung der Qualitäts- und Prozessüberwachung stellt enorme Anforderungen an die Präzision und Zuverlässigkeit aller für die Inspektion verwendeten Inline-Messsysteme. Eine effektive Kommunikation zwischen der Produktionsumgebung und den Überwachungssystemen ist von größter Bedeutung.

Messung von Mitlaufproben

Bei optischem Glas werden die Messungen während des Prozesses an Mitlaufproben durchgeführt. Die Herausforderung besteht in der Integration in das Maschinensteuerungssystem, wo die Ergebnisse in Echtzeit zur Prozesssteuerung weitergegeben werden. Gefordert sind ein hohes Maß an Flexibilität und Genauigkeit sowie eine einfache Bedienung von Software und Systemen.

Anwendungsgebiete Batchproduktion

  • Detail an einem der Scheinwerfer eines modernen Autos

    Automobilindustrie

  • Frau mit Brille, ZEISS Brille, optisches Glas

    Optisches Glas

  • Lächelnde Frau vor großem Display mit fortschrittlicher Digitaltechnik, Displayglas

    Display-Glas

  • Nahaufnahme einer Solarzelle

    Wafer-basierte Solarzellen

Von der Industrie für die Industrie entwickelt

ZEISS Optische Messtechnik und kompakte Spektrometer-Systeme

ThinProcess® ermöglicht die Inline- und Atline-Messung des spektralen Reflexions- und Transmissionsgrades sowie die Bestimmung von Farbwerten, spektralen Eigenschaften, Schichtdicken und anderen produktbezogenen Parametern. Sie wurden für großflächige Beschichtungssysteme mit hohem Lichtdurchsatz entwickelt, sind aber ebenso effektiv, wenn es darum geht, Ihre täglichen Routinearbeiten schnell und effizient zu erledigen.

ThinProcess® Familie

Leistung, auf die Sie zählen können

  • bis zu 20 Hz

    Abtastrate / pro Messpunkt

  • 6 m

    Querschnittlänge

  • 0.01 - 100 μm

    Messbereich der Schichten

Unsere Lösungen auf einen Blick

  • ThinProcess®

    Eine anpassbare, rezeptbasierte Software für eine nahezu unbegrenzte Anzahl von Anwendungen: Überwachung, Ergebnisanzeige, Ergebnisspeicherung, Kommunikation

  • ProcessLinker

    Verbindung der Überwachungssoftware mit der Anlagensteuerung

  • SQL-Datenbank

    Speichern Sie alle Daten in einer Microsoft SQL Datenbank - Abfrage mit allen gängigen Tools

  • MES-Anschluss

    Übertragung von Ergebnissen und Systemzuständen, Rezepturumschaltung

Verlässlichkeit, Genauigkeit und Echtzeitdaten

Alle Vorteile, die Sie für einen erfolgreichen Betrieb benötigen

  • Einfache Nutzung, Integration und Verlässlichkeit

    ThinProcess® kann direkt an der Produktionslinie oder als Desktop-Einheit in der Nähe der Prozessumgebung eingesetzt werden. Das System ist leicht einstellbar und kann an bestehende oder neue Beschichtungsprozesse angepasst werden. Sparen Sie Zeit und Geld und optimieren Sie die Produktion mit Präzision und Wiederholbarkeit in Kombination mit hoher Messgeschwindigkeit.

  • Schnelle, zuverlässige und flexible Daten

    Wenn die Produktion auf Hochtouren läuft, brauchen Sie genaue Daten, um schnelle Entscheidungen zu treffen. ThinProcess® bietet Ihnen einen Echtzeit-Einblick in Ihren Prozess. Die Ergebnisse werden in offenen und dokumentierten SQL-Datenbanken gespeichert, in denen die Informationen auch verglichen und bewertet werden können.

  • Leistungsstarke Messung

    Große Messräume ermöglichen eine schnellere und genauere Inline-Prozesskontrolle von Mikrostrukturoberflächen. Darüber hinaus sind wir die einzigen, die absolute spektrale Reflexionsmessungen ohne Referenzstandard anbieten - sogar im Vakuum. Wir bieten auch die Messung von Schutzschichten und Vergilbung für die Automobilindustrie an.

  • Einfache Systemintegration

    ThinProcess® unterstützt viele gängige Feldbusse, was die Integration in übergeordnete oder autonome Steuerungssysteme sowie die Integration in MES über den SECS/GEM PV2-Standard erleichtert. Mit Software von Drittanbietern können bis zu vier oder mehr Schichten gemessen werden. Optilayer-Anwender können auf Grundlage unserer Daten weitere Schichten auswerten und wir unterstützen dann den Datentransfer.

Kontakt & Service

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